鑠思百檢測(cè)

DETECTION OF TECHNICAL SOUSEPAD

透射電子顯微鏡(TEM-EDS)掃描電子顯微鏡(FESEM-EDS)球差電鏡激光共聚焦顯微鏡(LSCM)原子力顯微鏡(AFM)電子探針儀(EPMA)金相顯微鏡電子背散射衍射儀(EBSD)臺(tái)階儀,膜厚儀,探針接觸式輪廓儀,3D輪廓儀工業(yè)CT白光干涉儀(非接觸式3D表面輪廓儀)電鏡測(cè)試FIB制樣離子減薄制樣冷凍超薄切片制樣樹脂包埋制樣(生物制樣)液氮脆斷制樣金網(wǎng)鉬網(wǎng)銅網(wǎng)超薄碳膜微柵制樣電鏡制樣X射線光電子能譜分析儀(XPS)紫外光電子能譜(UPS)俄歇電子能譜(AES)X射線衍射儀(XRD)X射線散射儀SAXS/WAXSX射線殘余應(yīng)力分析儀X射線熒光光譜分析儀(XRF)電感耦合等離子體光譜儀(ICP-OES)紫外可見反射儀(DRS)拉曼光譜(RAMAN)紫外-可見分光光度計(jì)(UV)圓二色譜(CD)傅里葉變換紅外光譜分析儀(FTIR)吡啶紅外(DRIFTS)單晶衍射儀穆斯堡爾光譜儀穩(wěn)態(tài)瞬態(tài)熒光光譜分析儀(PL)原子吸收分光光度計(jì)原子熒光光度計(jì)(AFS)三維熒光 /熒光分光光度計(jì)紅外熱成像儀霧度儀旋光儀橢偏儀光譜測(cè)試電感耦合等離子體質(zhì)譜儀(ICP-MS)電噴霧離子化質(zhì)譜儀(ESI-MS)頂空-固相微萃取氣質(zhì)聯(lián)用儀(HS -SPME -GC -MS)二次離子質(zhì)譜(SIMS)基質(zhì)輔助激光解吸電離飛行時(shí)間質(zhì)譜儀(MALDI-TOF)裂解氣質(zhì)聯(lián)用儀(PY-GC-MS)氣質(zhì)聯(lián)用儀(GC-MS)同位素質(zhì)譜儀液質(zhì)聯(lián)用儀(LC-MS)質(zhì)譜測(cè)試差示掃描量熱儀(DSC)熱重分析儀(TGA)熱分析聯(lián)用儀(DSC-TGA)靜態(tài)/動(dòng)態(tài)熱機(jī)械分析儀(TMA/DMA)熱重紅外聯(lián)用儀(TG-IR)熱重紅外質(zhì)譜聯(lián)用儀(TG-IR-MS)熱重紅外氣相質(zhì)譜聯(lián)用(TG-IR-GC-MS)紅外熱成像儀激光導(dǎo)熱儀錐形量熱儀(CONE)熱譜測(cè)試電子順磁共振波譜儀(EPR、ESR)固體核磁共振儀(NMR)液體核磁共振儀(NMR)微波網(wǎng)絡(luò)矢量分析儀/矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀核磁順磁波譜測(cè)試比表面及孔徑分析儀(BET)表面張力儀(界面張力儀)高壓吸附儀化學(xué)吸附儀(TPD TPR)接觸角測(cè)量儀納米壓痕儀壓汞儀(MIP)表界面物性測(cè)試氣相色譜儀(GC)高效液相色譜儀(HPLC)離子色譜儀(IC)凝膠色譜儀(GPC)液相色譜(LC)色譜測(cè)試電導(dǎo)率儀電化學(xué)工作站腐蝕測(cè)試儀介電常數(shù)測(cè)定儀卡爾費(fèi)休水分測(cè)定儀自動(dòng)電位滴定儀電化學(xué)儀器測(cè)試Zeta電位儀工業(yè)分析激光粒度儀流變儀密度測(cè)定儀納米粒度儀邵氏 維氏 洛氏硬度計(jì)有機(jī)鹵素分析儀(F,Cl,Br,I,At,Ts)有機(jī)元素分析儀(EA)粘度計(jì)振動(dòng)樣品磁強(qiáng)計(jì)(VSM)土壤分析測(cè)試植物分析測(cè)試其他測(cè)試同步輻射GIWAXS GISAXS同步輻射XRD,PDF,SAXS同步輻射吸收譜-高能機(jī)時(shí)同步輻射吸收譜之軟X射線同步輻射吸收譜之硬X射線同步輻射聚焦離子束掃描電鏡(FIB-SEM)礦物定量分析系統(tǒng)MLA球差校正透射電子顯微鏡高端電鏡類原位XPS測(cè)試原位EBSD(in situ -EBSD)原位紅外原位掃描電子顯微鏡(in-situ-SEM)原位透射電子顯微鏡高端原位測(cè)試飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀(TOF-SIMS)輝光放電光譜(GD-OES MS)三維原子探針(APT)高端質(zhì)譜類Micro/Nano /工業(yè)CT飛秒瞬態(tài)吸收光譜儀(fs-TAS)掃描隧道顯微鏡深能級(jí)瞬態(tài)譜儀正電子湮滅壽命譜儀其他XPS數(shù)據(jù)分析XRD全巖黏土分析表面成分分析技術(shù)-XPS測(cè)試分析常規(guī)XRD數(shù)據(jù)分析成分指紋分析技術(shù)-紅外測(cè)試分析二維紅外光譜技術(shù)紅外(IR)數(shù)據(jù)分析拉曼數(shù)據(jù)分析三維熒光數(shù)據(jù)分析圓二色譜(CD)數(shù)據(jù)分析成分含量分析EPR/ESR數(shù)據(jù)分析VSM數(shù)據(jù)分析電化學(xué)數(shù)據(jù)分析矢量網(wǎng)絡(luò)數(shù)據(jù)分析電磁分析CT數(shù)據(jù)分析X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)普(XAFS)數(shù)據(jù)分析穆斯堡爾譜數(shù)據(jù)分析小角散射(SAXS/WAXS)數(shù)據(jù)分析高端測(cè)試分析固體核磁數(shù)據(jù)分析液體核磁(NMR)測(cè)試+分析一體化液體核磁(NMR)數(shù)據(jù)分析化學(xué)結(jié)構(gòu)分析EBSD數(shù)據(jù)分析TEM數(shù)據(jù)分析單晶XRD數(shù)據(jù)分析晶體結(jié)構(gòu)確證技術(shù)-XRD精修XRD定性定量分析晶體結(jié)構(gòu)分析BET數(shù)據(jù)分析其它數(shù)據(jù)分析需求熱分析數(shù)據(jù)處理數(shù)據(jù)分析作圖其他數(shù)據(jù)分析半導(dǎo)體激光器模擬發(fā)光二極管仿真光電探測(cè)器仿真太陽能電池仿真半導(dǎo)體器件仿真表面能差分密度磁矩單原子催化電荷密度電解水制氫反應(yīng)(HER)費(fèi)米面(fermi surface)電子局域化函數(shù)(electron localization function)第一性原理分子模擬量子化學(xué)相分析有限元模擬常規(guī)理化-水樣常規(guī)理化-土樣/沉積物常規(guī)理化-氣體常規(guī)理化-植物/蔬果/農(nóng)作物常規(guī)理化-食品常規(guī)理化-肥料/飼料常規(guī)理化-巖礦常規(guī)理化-垃圾常規(guī)理化-職業(yè)衛(wèi)生常規(guī)理化-其它常規(guī)理化項(xiàng)目纖維素、半纖維素、木質(zhì)素含量bcr形態(tài)順序提取/tessier五步提取法土壤水體抗生素微塑料微生物磷脂脂肪酸(PLFA)非標(biāo)理化-其它非標(biāo)理化項(xiàng)目穩(wěn)定同位素放射性同位素同位素-其它金屬同位素同位素多糖的單糖組成測(cè)定可溶性寡糖定量土壤氨基糖多糖全套分析多糖甲基化植物糖化學(xué)-常規(guī)指標(biāo)糖化學(xué)液質(zhì)聯(lián)用LCMS高效液相色譜HPLC氣相色譜GC氣質(zhì)聯(lián)用GCMS全二維氣質(zhì)GC×GC-MS氣相色譜-離子遷移譜聯(lián)用儀(GC-IMS)液相色譜-原子熒光聯(lián)用(LC-AFS)制備型HPLC色譜質(zhì)譜數(shù)據(jù)分析液相色譜-電感耦合等離子體質(zhì)譜(LC-ICPMS)色譜質(zhì)譜DOM(FT- ICR- MS)水質(zhì)NOM(LC-OCD-OND)DOM(FT-ICR-MS)數(shù)據(jù)分析環(huán)境高端電池產(chǎn)品整體解決方案正極顆粒表面微觀形貌正極顆粒物截面形貌與元素三元正極顆粒循環(huán)前后晶界裂紋正極顆粒摻雜元素分布正極顆粒截面元素分布和晶格表征正極極片原位晶相分析正極極片截面元素分布和晶格表征正極表面CEI膜測(cè)試方法XPS正極極片截面微觀形貌觀察和元素分布正極極片CEI膜成分分析與厚度測(cè)定正極極片介電常數(shù)正極極片浸潤性正極極片包覆層觀察正極極片雜質(zhì)含量測(cè)定正極極片氧空位測(cè)定負(fù)極顆粒表面微觀形貌觀察和元素分布負(fù)極顆粒截面微觀形貌觀察和元素分布石墨類型判定負(fù)極顆粒粒徑分析負(fù)極極片孔洞分析負(fù)極顆粒包覆層觀察負(fù)極顆粒羥基含量測(cè)定負(fù)極極片包覆層觀察負(fù)極表面SEI膜分析XPS法負(fù)極極片SEI膜成分分析與厚度測(cè)定負(fù)極極片截面微觀形貌觀察和元素分布負(fù)極極片石墨碳和無定型碳比例隔膜表面微觀形貌觀察隔膜循環(huán)前后孔徑變化質(zhì)子交換膜形貌(厚度)觀察 CP+SEM質(zhì)子交換膜雜質(zhì)元素電池循環(huán)后鼓包氣電池循環(huán)后爆炸氣鋰電池極片和集流體間的粘結(jié)強(qiáng)度三元正極材料NCM比例燃料電池-整體解決方案電池產(chǎn)品-隔膜電池產(chǎn)品-優(yōu)勢(shì)項(xiàng)目正極材料-PH值正極材料-比表面積正極材料-磁性異物正極材料-化學(xué)成分正極材料-晶體結(jié)構(gòu)正極材料-粒徑分布正極材料-首次放電比容量及首次庫倫效率正極材料-水分含量正極材料-松裝密度正極材料-未知物分析正極材料-形貌,厚度與結(jié)構(gòu)正極材料-壓實(shí)密度正極材料-振實(shí)密度電池產(chǎn)品-正極材料負(fù)極材料-PH值負(fù)極材料-比表面積負(fù)極材料-層間距 石墨化度負(fù)極材料成分分析負(fù)極材料-磁性異物負(fù)極材料-粉末壓實(shí)密度負(fù)極材料-固定碳含量負(fù)極材料-化學(xué)成分負(fù)極材料-粒徑分布負(fù)極材料-石墨鑒定負(fù)極材料-水分負(fù)極材料-限用物質(zhì)含量負(fù)極材料-形貌與結(jié)構(gòu)負(fù)極材料-陰離子的測(cè)定負(fù)極材料-有機(jī)物含量負(fù)極材料-真密度負(fù)極材料-振實(shí)密度負(fù)極顆粒-石墨取向性(OI值)首次放電比容量及首次庫倫效率電池產(chǎn)品-負(fù)極材料電解液-電導(dǎo)率電解液-化學(xué)元素含量電解液-密度電解液-水分含量電解液-未知物分析電解液-游離酸(HF含量)電池產(chǎn)品-電解液電池產(chǎn)品-隔膜電池產(chǎn)品-隔膜
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活動(dòng)價(jià) ¥160.00
穩(wěn)態(tài)瞬態(tài)熒光光譜分析儀(PL)
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儀器型號(hào)   英國愛丁堡FLS 980

服務(wù)周期   收到樣品后平均3-5工作日完成


穩(wěn)態(tài)/瞬態(tài)熒光光譜儀

?項(xiàng)目簡介


愛丁堡是一家專注于生產(chǎn)和研發(fā)高性能研究級(jí)光譜儀的公司。其推出的FLS980FLS1000是當(dāng)前較為先進(jìn)、功能強(qiáng)大、模塊化搭建的穩(wěn)態(tài)瞬態(tài)熒光光譜儀(圖1)。


1

FLS系列注于穩(wěn)態(tài)及時(shí)間分辨光譜測(cè)試,具有超高的靈敏度。通過搭配適宜的組件和附件,可以滿足熒光、量子產(chǎn)率、磷光、近紅外、熒光壽命等一系列測(cè)試需求。根據(jù)測(cè)試需要,可設(shè)置不同的光源和不同的測(cè)試模式,表1列舉了不同測(cè)試模式對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)采集技術(shù):

1 不同測(cè)試模式對(duì)應(yīng)的光源和數(shù)據(jù)采集技術(shù)


除了愛丁堡的儀器,濱松的設(shè)備也常用來測(cè)試材料的熒光量子產(chǎn)率。濱松的絕對(duì)量子產(chǎn)率測(cè)試系統(tǒng),測(cè)試波段覆蓋從紫外到近紅外短波區(qū)域。相比愛丁堡的PMT探測(cè)器,濱松產(chǎn)率設(shè)備配置的CCD探測(cè)器主要特點(diǎn)是多通道性,可讀出一段光譜區(qū)域內(nèi)的連續(xù)光譜,實(shí)現(xiàn)全譜測(cè)定,測(cè)試響應(yīng)速度更快,特定波長范圍下的相對(duì)檢測(cè)噪音也低。

此外,日立FL系列熒光光度計(jì)、HORIBA的熒光光譜儀、愛丁堡FS5等等。不同光譜儀的組成復(fù)雜程度不同,但它們的基本結(jié)構(gòu)是相似的:光源照射樣品,樣品發(fā)出熒光,探測(cè)器接收信號(hào),光電流經(jīng)處理得到相應(yīng)數(shù)值。


?樣品要求


確定樣品有熒光/磷光性能,樣品要光激勵(lì)下能發(fā)光,不然所有熒光類測(cè)試都沒有意義!

對(duì)于發(fā)光在可見區(qū)的樣品,最簡單直觀的就是紫外燈或者紫外暗箱照射下看看樣品的發(fā)光。

一些熒光樣品在uv365燈下的照片:


粉末樣品:一般需要20mg以上,塊狀或薄膜樣品要求基底尺寸在1*1cm-2*2cm之間。

溶液樣品:5ml左右,可能有溶度猝滅、溶劑效應(yīng)等因素帶來的影響,所以濃度根據(jù)自己樣品情況把控,不做要求。

1)選擇另測(cè)激發(fā)一定是在預(yù)約光譜的前提下,其它測(cè)試項(xiàng)目要測(cè)激發(fā)一定要附帶預(yù)約上光譜。測(cè)過激發(fā)譜后一般選最佳激發(fā)位置來做后續(xù)測(cè)試。

2)一定要測(cè)過先測(cè)過光譜的前提下再預(yù)約壽命、產(chǎn)率的測(cè)試!如未測(cè)過光譜,需同時(shí)預(yù)約光譜測(cè)試!

3)測(cè)量子產(chǎn)率時(shí),固體樣品用硫酸鋇作空白樣,溶液的樣品以溶劑作空白樣。所以溶液樣品測(cè)產(chǎn)率需同時(shí)提供溶劑,具體是什么溶劑請(qǐng)?jiān)陬A(yù)約時(shí)備注清楚。

4)變溫測(cè)試都不接受易揮發(fā)、易腐蝕的樣品,如高溫下有危害性請(qǐng)?zhí)崆案嬷?。液體樣品,一定要備注好溶劑是什么、膨脹系數(shù)多大(如果膨脹系數(shù)過大,低溫下迅速結(jié)冰,會(huì)撐破比色皿)。

注意:我們測(cè)常規(guī)發(fā)射譜的光源就是氙燈,測(cè)壽命的激光器光源不適合來測(cè)光譜!有些材料只能在特定激光激發(fā)下才能產(chǎn)生熒光,其發(fā)射光譜需要特定波長的大功率激光器來測(cè),就是激光誘導(dǎo)的熒光,建議在鑠思百平臺(tái)搜索:拉曼-熒光聯(lián)用測(cè)試。像一些光催化、半導(dǎo)體材料等,可以考究下文獻(xiàn)用的是什么光源,氙燈測(cè)試合不合適。相關(guān)測(cè)試大致說明如下,如有特殊需求和其它未盡事宜,可再聯(lián)系熒光測(cè)試負(fù)責(zé)工程師。



?結(jié)果展示


常規(guī)熒光測(cè)試-數(shù)據(jù)格式解讀(20213月版)

包含以下測(cè)試的數(shù)據(jù)說明,可具體查看:

愛丁堡儀器:光譜、量子產(chǎn)率、熒光壽命、其它測(cè)試(簡要)

愛丁堡儀器:FLS980

1、愛丁堡光譜

1)保存的格式:源數(shù)據(jù)FS +圖片(wmf等)+文本txt

FS源數(shù)據(jù),有電子狗不能打開,客戶僅保存,留作測(cè)試記錄;

圖片直觀體現(xiàn)測(cè)試參數(shù)信息:激發(fā)波長、狹縫信息、積分時(shí)間等;

文本數(shù)據(jù)直接使用作圖;客戶可origin等軟件自行處理

2)數(shù)據(jù)命名:注意大小寫區(qū)分

發(fā)射譜樣品編號(hào)-EM-ex激發(fā)波長

激發(fā)譜:樣品編號(hào)-EX-em監(jiān)測(cè)波長

EM代表發(fā)射譜,ex代表所用激發(fā)波長

EX代表激發(fā)譜,em代表所用監(jiān)測(cè)波長

3)其它說明:

提供圖片是為了讓客戶更直觀看數(shù)據(jù)、參數(shù)信息,如圖1;

一般來說,測(cè)試一個(gè)譜對(duì)應(yīng)一張圖,后文相同;

如果客戶要求比較熒光強(qiáng)度的,所有樣品可能集合在一張圖保存

1

4)參考示例:


2、愛丁堡量子產(chǎn)率

1)保存的格式:源數(shù)據(jù)FS +圖片(wmf等)+文本txt

FS源數(shù)據(jù),有電子狗不能打開,客戶僅保存,留作測(cè)試記錄

2)數(shù)據(jù)命名:

樣品編號(hào)-QY-ex激發(fā)波長;

QY代表產(chǎn)率測(cè)試,ex代表所用激發(fā)波長
3)其它說明:

樣品數(shù)據(jù)和參比(背景)數(shù)據(jù)通常保存在一起,不分別保存!

提供圖片是為了讓客戶直觀看到產(chǎn)率結(jié)果、測(cè)試曲線形狀(縱坐標(biāo)取對(duì)數(shù))、產(chǎn)率計(jì)算時(shí)積分選取范圍(散射范圍、發(fā)射范圍),如圖2

2

4)參考示例:

3、愛丁堡熒光壽命

1)保存的格式:源數(shù)據(jù)FL +圖片(wmf等)+文本txt

FS源數(shù)據(jù),有電子狗不能打開,客戶僅保存,留作測(cè)試記錄;

文本數(shù)據(jù)直接使用作圖;客戶可origin等軟件自行處理

2)數(shù)據(jù)命名:

a. 原始數(shù)據(jù):

樣品編號(hào)-decay-光源,如:

1-decay-340epled;2-decay-375epl;3-decay-nslamp;4-decay-uslamp

decay表示衰減曲線,包含FL和文本2個(gè)格式,一般不再附圖

b. 測(cè)試參數(shù)信息:

樣品編號(hào)-decay-canshu

參數(shù)信息非常重要,驗(yàn)證光源、檢測(cè)器和監(jiān)測(cè)波長信息,如圖3

3

c. 擬合后的數(shù)據(jù):

統(tǒng)一用“fit”表示,一般不再給文本數(shù)據(jù);

命名為:樣品編號(hào)-decay-fit,如:1-decay-fit-1;1-decay-fit-2;

直接給擬合后的2張圖,如圖4、圖5;兩張圖分別對(duì)應(yīng)“-1-2”

4顯示擬合的曲線界面:擬合的曲線(綠色)、擬合的加權(quán)殘差(紫色);

5顯示具體的擬合結(jié)果:擬合的壽命τ1 (τ2τ3)和對(duì)應(yīng)的占比 B1 (B2、B3),如有需其它擬合或者計(jì)算平均壽命,可另行處理。


4

5

3)其它說明:

根據(jù)上述內(nèi)容,數(shù)據(jù)至少有1個(gè)FL1個(gè)txt3張圖片;

壽命遇到衰減不完全,或者測(cè)不出衰減信號(hào)的一般會(huì)附加說明;

熒光弱的樣品測(cè)試曲線信噪比會(huì)比較差,也存在不適合擬合等情況。

4)參考示例:(字母D大寫小寫同理)

4、其它測(cè)試(簡單說明,具體以數(shù)據(jù)為準(zhǔn))

近紅外相關(guān)測(cè)試:開了近紅外探測(cè)器的,除上述標(biāo)準(zhǔn)會(huì)另加上“NIR”字眼;

參考示例:1-NIR-EM-ex340;1-NIR-QY-ex3401-NIR-decay-exuslamp;

變溫相關(guān)測(cè)試:變溫相關(guān)測(cè)試,命名按前文,另加上溫度字眼;

參考示例:1-100k-EM;1-100k-EX1-100k-decay-uslamp


?常見問題


1.做熒光測(cè)試前必須了解的知識(shí)概要;

在鑠思百平臺(tái)可以搜索相關(guān)文章

2. 測(cè)光譜光源需要用到激光器的?

熒光光譜儀測(cè)常規(guī)發(fā)射譜的光源就是氙燈,測(cè)壽命的激光器光源不適合來測(cè)光譜!有些材料只能在特定激光激發(fā)下才能產(chǎn)生熒光,其發(fā)射光譜需要特定波長的大功率激光器來測(cè),即激光誘導(dǎo)的熒光。

像一些光催化、半導(dǎo)體材料等,可以考究下文獻(xiàn)測(cè)穩(wěn)態(tài)譜用的是什么光源,氙燈測(cè)試合不合適。如需要激光光源測(cè)光譜的請(qǐng)搜索拉曼-熒光聯(lián)用測(cè)試,用拉曼設(shè)備測(cè)試激光誘導(dǎo)的熒光。

3. 樣品一定先測(cè)穩(wěn)態(tài),再測(cè)量子產(chǎn)率、瞬態(tài)光譜?

產(chǎn)率測(cè)試前,樣品要測(cè)過光譜,不要沒有測(cè)過熒光就要直接測(cè)產(chǎn)率。可同時(shí)預(yù)約發(fā)射譜”+“量子產(chǎn)率測(cè)試;

穩(wěn)態(tài)譜的數(shù)據(jù)是壽命測(cè)試的必要條件,沒有測(cè)過光譜的,不清楚監(jiān)測(cè)波長的,務(wù)必選擇發(fā)射譜測(cè)試。一般穩(wěn)態(tài)譜和壽命用的激發(fā)波長是一樣的,或者是相近波長的激光器。熒光壽命的監(jiān)測(cè)波長通常是光譜峰位或根據(jù)樣品發(fā)射機(jī)制來確定的。

4. 熒光壽命擬合結(jié)果的分析及如何運(yùn)用origin快速擬合熒光壽命?

在鑠思百平臺(tái)可以搜索相關(guān)文章



?測(cè)試提示



1.可開正規(guī)測(cè)試發(fā)票,附帶測(cè)試清單。

2.有腐蝕性,毒性,或其他有危害性等特殊樣品要事先告知測(cè)試人員,測(cè)試人員也要告知樣品方哪些樣品不能測(cè)或會(huì)對(duì)儀器產(chǎn)生損傷,測(cè)試后會(huì)對(duì)樣品產(chǎn)生哪些變化;

3.客戶需提供詳細(xì)的樣品資料,包括元素,主要成分和詳細(xì)測(cè)試參數(shù)及條件。和測(cè)試人員充分討論,商定最終測(cè)試條件;

4.測(cè)試人員與顧客通過QQ,微信或郵件溝通,出現(xiàn)測(cè)試糾紛,郵件或聊天記錄將作為重要的仲裁依據(jù);請(qǐng)加QQ和技術(shù)人員交流。QQ:82187958;微信:15071040697

5.杜絕測(cè)試、解析和合成違反國家相關(guān)法律法規(guī)的樣品,一經(jīng)發(fā)現(xiàn)將追究其法律責(zé)任。




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