鑠思百檢測(cè)

DETECTION OF TECHNICAL SOUSEPAD

透射電子顯微鏡(TEM-EDS)掃描電子顯微鏡(FESEM-EDS)球差電鏡激光共聚焦顯微鏡(LSCM)原子力顯微鏡(AFM)電子探針儀(EPMA)金相顯微鏡電子背散射衍射儀(EBSD)臺(tái)階儀,膜厚儀,探針接觸式輪廓儀,3D輪廓儀工業(yè)CT白光干涉儀(非接觸式3D表面輪廓儀)電鏡測(cè)試FIB制樣離子減薄制樣冷凍超薄切片制樣樹(shù)脂包埋制樣(生物制樣)液氮脆斷制樣金網(wǎng)鉬網(wǎng)銅網(wǎng)超薄碳膜微柵制樣電鏡制樣X射線光電子能譜分析儀(XPS)紫外光電子能譜(UPS)俄歇電子能譜(AES)X射線衍射儀(XRD)X射線散射儀SAXS/WAXSX射線殘余應(yīng)力分析儀X射線熒光光譜分析儀(XRF)電感耦合等離子體光譜儀(ICP-OES)紫外可見(jiàn)反射儀(DRS)拉曼光譜(RAMAN)紫外-可見(jiàn)分光光度計(jì)(UV)圓二色譜(CD)傅里葉變換紅外光譜分析儀(FTIR)吡啶紅外(DRIFTS)單晶衍射儀穆斯堡爾光譜儀穩(wěn)態(tài)瞬態(tài)熒光光譜分析儀(PL)原子吸收分光光度計(jì)原子熒光光度計(jì)(AFS)三維熒光 /熒光分光光度計(jì)紅外熱成像儀霧度儀旋光儀橢偏儀光譜測(cè)試電感耦合等離子體質(zhì)譜儀(ICP-MS)電噴霧離子化質(zhì)譜儀(ESI-MS)頂空-固相微萃取氣質(zhì)聯(lián)用儀(HS -SPME -GC -MS)二次離子質(zhì)譜(SIMS)基質(zhì)輔助激光解吸電離飛行時(shí)間質(zhì)譜儀(MALDI-TOF)裂解氣質(zhì)聯(lián)用儀(PY-GC-MS)氣質(zhì)聯(lián)用儀(GC-MS)同位素質(zhì)譜儀液質(zhì)聯(lián)用儀(LC-MS)質(zhì)譜測(cè)試差示掃描量熱儀(DSC)熱重分析儀(TGA)熱分析聯(lián)用儀(DSC-TGA)靜態(tài)/動(dòng)態(tài)熱機(jī)械分析儀(TMA/DMA)熱重紅外聯(lián)用儀(TG-IR)熱重紅外質(zhì)譜聯(lián)用儀(TG-IR-MS)熱重紅外氣相質(zhì)譜聯(lián)用(TG-IR-GC-MS)紅外熱成像儀激光導(dǎo)熱儀錐形量熱儀(CONE)熱譜測(cè)試電子順磁共振波譜儀(EPR、ESR)固體核磁共振儀(NMR)液體核磁共振儀(NMR)微波網(wǎng)絡(luò)矢量分析儀/矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀核磁順磁波譜測(cè)試比表面及孔徑分析儀(BET)表面張力儀(界面張力儀)高壓吸附儀化學(xué)吸附儀(TPD TPR)接觸角測(cè)量?jī)x納米壓痕儀壓汞儀(MIP)表界面物性測(cè)試氣相色譜儀(GC)高效液相色譜儀(HPLC)離子色譜儀(IC)凝膠色譜儀(GPC)液相色譜(LC)色譜測(cè)試電導(dǎo)率儀電化學(xué)工作站腐蝕測(cè)試儀介電常數(shù)測(cè)定儀卡爾費(fèi)休水分測(cè)定儀自動(dòng)電位滴定儀電化學(xué)儀器測(cè)試Zeta電位儀工業(yè)分析激光粒度儀流變儀密度測(cè)定儀納米粒度儀邵氏 維氏 洛氏硬度計(jì)有機(jī)鹵素分析儀(F,Cl,Br,I,At,Ts)有機(jī)元素分析儀(EA)粘度計(jì)振動(dòng)樣品磁強(qiáng)計(jì)(VSM)土壤分析測(cè)試植物分析測(cè)試其他測(cè)試同步輻射GIWAXS GISAXS同步輻射XRD,PDF,SAXS同步輻射吸收譜-高能機(jī)時(shí)同步輻射吸收譜之軟X射線同步輻射吸收譜之硬X射線同步輻射聚焦離子束掃描電鏡(FIB-SEM)礦物定量分析系統(tǒng)MLA球差校正透射電子顯微鏡高端電鏡類原位XPS測(cè)試原位EBSD(in situ -EBSD)原位紅外原位掃描電子顯微鏡(in-situ-SEM)原位透射電子顯微鏡高端原位測(cè)試飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀(TOF-SIMS)輝光放電光譜(GD-OES MS)三維原子探針(APT)高端質(zhì)譜類Micro/Nano /工業(yè)CT飛秒瞬態(tài)吸收光譜儀(fs-TAS)掃描隧道顯微鏡深能級(jí)瞬態(tài)譜儀正電子湮滅壽命譜儀其他XPS數(shù)據(jù)分析XRD全巖黏土分析表面成分分析技術(shù)-XPS測(cè)試分析常規(guī)XRD數(shù)據(jù)分析成分指紋分析技術(shù)-紅外測(cè)試分析二維紅外光譜技術(shù)紅外(IR)數(shù)據(jù)分析拉曼數(shù)據(jù)分析三維熒光數(shù)據(jù)分析圓二色譜(CD)數(shù)據(jù)分析成分含量分析EPR/ESR數(shù)據(jù)分析VSM數(shù)據(jù)分析電化學(xué)數(shù)據(jù)分析矢量網(wǎng)絡(luò)數(shù)據(jù)分析電磁分析CT數(shù)據(jù)分析X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)普(XAFS)數(shù)據(jù)分析穆斯堡爾譜數(shù)據(jù)分析小角散射(SAXS/WAXS)數(shù)據(jù)分析高端測(cè)試分析固體核磁數(shù)據(jù)分析液體核磁(NMR)測(cè)試+分析一體化液體核磁(NMR)數(shù)據(jù)分析化學(xué)結(jié)構(gòu)分析EBSD數(shù)據(jù)分析TEM數(shù)據(jù)分析單晶XRD數(shù)據(jù)分析晶體結(jié)構(gòu)確證技術(shù)-XRD精修XRD定性定量分析晶體結(jié)構(gòu)分析BET數(shù)據(jù)分析其它數(shù)據(jù)分析需求熱分析數(shù)據(jù)處理數(shù)據(jù)分析作圖其他數(shù)據(jù)分析半導(dǎo)體激光器模擬發(fā)光二極管仿真光電探測(cè)器仿真太陽(yáng)能電池仿真半導(dǎo)體器件仿真表面能差分密度磁矩單原子催化電荷密度電解水制氫反應(yīng)(HER)費(fèi)米面(fermi surface)電子局域化函數(shù)(electron localization function)第一性原理分子模擬量子化學(xué)相分析有限元模擬常規(guī)理化-水樣常規(guī)理化-土樣/沉積物常規(guī)理化-氣體常規(guī)理化-植物/蔬果/農(nóng)作物常規(guī)理化-食品常規(guī)理化-肥料/飼料常規(guī)理化-巖礦常規(guī)理化-垃圾常規(guī)理化-職業(yè)衛(wèi)生常規(guī)理化-其它常規(guī)理化項(xiàng)目纖維素、半纖維素、木質(zhì)素含量bcr形態(tài)順序提取/tessier五步提取法土壤水體抗生素微塑料微生物磷脂脂肪酸(PLFA)非標(biāo)理化-其它非標(biāo)理化項(xiàng)目穩(wěn)定同位素放射性同位素同位素-其它金屬同位素同位素多糖的單糖組成測(cè)定可溶性寡糖定量土壤氨基糖多糖全套分析多糖甲基化植物糖化學(xué)-常規(guī)指標(biāo)糖化學(xué)液質(zhì)聯(lián)用LCMS高效液相色譜HPLC氣相色譜GC氣質(zhì)聯(lián)用GCMS全二維氣質(zhì)GC×GC-MS氣相色譜-離子遷移譜聯(lián)用儀(GC-IMS)液相色譜-原子熒光聯(lián)用(LC-AFS)制備型HPLC色譜質(zhì)譜數(shù)據(jù)分析液相色譜-電感耦合等離子體質(zhì)譜(LC-ICPMS)色譜質(zhì)譜DOM(FT- ICR- MS)水質(zhì)NOM(LC-OCD-OND)DOM(FT-ICR-MS)數(shù)據(jù)分析環(huán)境高端電池產(chǎn)品整體解決方案正極顆粒表面微觀形貌正極顆粒物截面形貌與元素三元正極顆粒循環(huán)前后晶界裂紋正極顆粒摻雜元素分布正極顆粒截面元素分布和晶格表征正極極片原位晶相分析正極極片截面元素分布和晶格表征正極表面CEI膜測(cè)試方法XPS正極極片截面微觀形貌觀察和元素分布正極極片CEI膜成分分析與厚度測(cè)定正極極片介電常數(shù)正極極片浸潤(rùn)性正極極片包覆層觀察正極極片雜質(zhì)含量測(cè)定正極極片氧空位測(cè)定負(fù)極顆粒表面微觀形貌觀察和元素分布負(fù)極顆粒截面微觀形貌觀察和元素分布石墨類型判定負(fù)極顆粒粒徑分析負(fù)極極片孔洞分析負(fù)極顆粒包覆層觀察負(fù)極顆粒羥基含量測(cè)定負(fù)極極片包覆層觀察負(fù)極表面SEI膜分析XPS法負(fù)極極片SEI膜成分分析與厚度測(cè)定負(fù)極極片截面微觀形貌觀察和元素分布負(fù)極極片石墨碳和無(wú)定型碳比例隔膜表面微觀形貌觀察隔膜循環(huán)前后孔徑變化質(zhì)子交換膜形貌(厚度)觀察 CP+SEM質(zhì)子交換膜雜質(zhì)元素電池循環(huán)后鼓包氣電池循環(huán)后爆炸氣鋰電池極片和集流體間的粘結(jié)強(qiáng)度三元正極材料NCM比例燃料電池-整體解決方案電池產(chǎn)品-隔膜電池產(chǎn)品-優(yōu)勢(shì)項(xiàng)目正極材料-PH值正極材料-比表面積正極材料-磁性異物正極材料-化學(xué)成分正極材料-晶體結(jié)構(gòu)正極材料-粒徑分布正極材料-首次放電比容量及首次庫(kù)倫效率正極材料-水分含量正極材料-松裝密度正極材料-未知物分析正極材料-形貌,厚度與結(jié)構(gòu)正極材料-壓實(shí)密度正極材料-振實(shí)密度電池產(chǎn)品-正極材料負(fù)極材料-PH值負(fù)極材料-比表面積負(fù)極材料-層間距 石墨化度負(fù)極材料成分分析負(fù)極材料-磁性異物負(fù)極材料-粉末壓實(shí)密度負(fù)極材料-固定碳含量負(fù)極材料-化學(xué)成分負(fù)極材料-粒徑分布負(fù)極材料-石墨鑒定負(fù)極材料-水分負(fù)極材料-限用物質(zhì)含量負(fù)極材料-形貌與結(jié)構(gòu)負(fù)極材料-陰離子的測(cè)定負(fù)極材料-有機(jī)物含量負(fù)極材料-真密度負(fù)極材料-振實(shí)密度負(fù)極顆粒-石墨取向性(OI值)首次放電比容量及首次庫(kù)倫效率電池產(chǎn)品-負(fù)極材料電解液-電導(dǎo)率電解液-化學(xué)元素含量電解液-密度電解液-水分含量電解液-未知物分析電解液-游離酸(HF含量)電池產(chǎn)品-電解液電池產(chǎn)品-隔膜電池產(chǎn)品-隔膜
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活動(dòng)價(jià) ¥200.00
比表面及孔徑分析儀(BET)
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儀器型號(hào)   美國(guó)麥克3Flex


服務(wù)周期   收到樣品后平均2-4工作日完成


比表面及孔徑分析儀BET

?項(xiàng)目簡(jiǎn)介


BET物理吸附儀目前主要應(yīng)用于多孔材料的比表面積與孔結(jié)構(gòu)的分析,其利用固體材料的吸附特性,借助氣體分子作為量具來(lái)度量材料的表面積和孔結(jié)構(gòu),可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸脫附曲線等數(shù)據(jù);

常用的吸附質(zhì)氣體有氮?dú)?,二氧化碳,氬氣,氫氣等?/span>

可測(cè)試的孔徑范圍包括微孔(孔直徑φ2nm)和介孔(2 nm ≤ φ ≤ 50 nm);

介孔模式:包含介孔范圍內(nèi)等溫吸脫附曲線,比表面積,孔容、孔徑分布等數(shù)據(jù);

全孔模式:包含微孔和介孔范圍內(nèi)等溫吸脫附曲線,比表面積,孔容、孔徑分布等數(shù)據(jù);

比表面積模式:只有p/p00.05-0.35之間得到比表面積數(shù)據(jù),沒(méi)有等溫吸脫附曲線和孔容孔徑等數(shù)據(jù)。


?樣品要求


1)比表面積大于500請(qǐng)?zhí)峁?/span>100mg以上,可以用公式:比表面積(m2/g*樣品量(g=15-20m2來(lái)大致確定所需樣品量,實(shí)際測(cè)試?yán)蠋煏?huì)根據(jù)情況來(lái)確定測(cè)試樣品量。

2)在不知道比表面積情況下,一般測(cè)試全孔和微孔質(zhì)量要100mg以上(前提是樣品中有微孔),測(cè)試介孔需要250mg以上,為方便取樣,請(qǐng)不要用自封袋裝樣。

3)一般都是粉末樣品,如是顆粒狀請(qǐng)盡量物理粉碎得比較小,一般要求在3mm以下。


?結(jié)果展示

麥克儀器結(jié)果:


等溫吸脫附曲線:


比表面積








孔容


平均孔徑:





孔徑分布圖:



?常見(jiàn)問(wèn)題


1. 為什么得到的BET值為負(fù)?

正常情況下樣品對(duì)吸附質(zhì)有吸附的話比表面積值應(yīng)該為正,出現(xiàn)負(fù)值的可能有三種原因:

1. 樣品自身的原因,可以看等溫吸脫附曲線,如果沒(méi)有吸附的話吸附值應(yīng)該在0附近,再加上儀器誤差的現(xiàn)象,也可能跑到負(fù)值出現(xiàn)吸附點(diǎn),所以該類樣品的吸附幾乎可以忽略。

2. 測(cè)試所加樣品量過(guò)少,造成總的吸附值很低,則容易產(chǎn)生這個(gè)現(xiàn)象。

3. 脫氣溫度和時(shí)間不合理,脫氣溫度過(guò)高,造成孔結(jié)構(gòu)的變化或坍塌,脫附溫度太低或者脫氣時(shí)間短,造成脫氣不完全,也會(huì)產(chǎn)生這個(gè)問(wèn)題。

2. 為什么等溫吸脫附曲是不閉合的?

等溫吸脫附曲線不閉合,這種情況比較常見(jiàn),產(chǎn)生這種現(xiàn)象的原因也比較多,可能原因如下:1. 材料表面存在特殊的基團(tuán)和化學(xué)性能,導(dǎo)致吸附的氣體分子無(wú)法完全脫離,即材料對(duì)吸附質(zhì)有較強(qiáng)作用,導(dǎo)致吸脫附會(huì)存在一定的不閉合程度;2. 材料自身的比表面較小,一般吸脫附閉合程度會(huì)較差;3. 稱樣量問(wèn)題,稱樣量太少,容易造成測(cè)量不準(zhǔn),也會(huì)出現(xiàn)此類情況;4. 樣品前處理問(wèn)題,溫度太高,測(cè)試的孔結(jié)構(gòu)坍塌,氣體脫附不出來(lái)會(huì)造成曲線不閉合; 5. 如果研究碳材料的話需要注意,碳材料的孔大多為柔性孔或者墨水瓶孔,氣體吸附之后孔口直徑收縮,導(dǎo)致吸附上的氣體不易脫附,很容易導(dǎo)致吸脫附曲線不閉合。

3. BJH脫附孔徑分布存在假峰

在氣體脫附過(guò)程中大多數(shù)情況下都反映了一個(gè)滯后的過(guò)程。所以在用BJH方法分析樣品孔徑時(shí),脫附段很容易出現(xiàn)假峰,一般是在3.8nm處出現(xiàn),出現(xiàn)假峰的原因與孔的類型有關(guān)系,內(nèi)部孔道的連通性,孔型的多樣性以及孔徑的分散性等等原因都會(huì)導(dǎo)致在脫附過(guò)程中出現(xiàn)假峰。

4. 為什么BET方程參數(shù)里面的C值為負(fù)


C值具有一定的物理含義,它代表了樣品的吸附熱,正常情況下應(yīng)該為正值。當(dāng)遇到C值為負(fù)的情況時(shí),我們首先要看C值負(fù)有多大,如果是很大的負(fù)值,可去除高壓區(qū)數(shù)據(jù)再重新擬合一下,或者把壓力選點(diǎn)范圍降低即可。如果是較小的負(fù)值,通常微孔樣品容易出現(xiàn)這個(gè)問(wèn)題,對(duì)于微孔材料,因?yàn)槲轿镔|(zhì)的分子是在非常狹窄的微孔,所以它與BET方法的假設(shè)會(huì)嚴(yán)重偏離,如果使用BET模型計(jì)算就會(huì)得到一個(gè)明顯小于樣品的正常的比表面積。因此對(duì)于微孔的樣品一般推薦用Langmuir方法來(lái)計(jì)算比表面積

5. 為什么等溫吸脫附曲是交叉的?


吸附曲線和脫附曲線發(fā)生交叉的主要原因是:1. 樣品吸附值本身就比較小,容易出現(xiàn)波動(dòng);2. 脫氣條件不合適,脫氣溫度低或者時(shí)間短,水分沒(méi)有完全除去,在脫附過(guò)程中脫去了;3. 實(shí)驗(yàn)過(guò)程中發(fā)生了漏氣,如樣品管沒(méi)有擰緊或者樣品管上面O形圈老化都會(huì)造成密封不嚴(yán),造成等溫吸附曲線和等溫脫附曲線產(chǎn)生交叉的現(xiàn)象。

6. 為什么孔徑分布圖為什么不是從0開(kāi)始?


1. 一般孔徑分布圖是從開(kāi)始有孔的地方出現(xiàn)數(shù)據(jù),低壓處無(wú)孔則不會(huì)出現(xiàn)數(shù)據(jù)。

2. 與使用的吸附質(zhì)有關(guān),孔徑分布數(shù)據(jù)理論上最小只能從吸附質(zhì)的直徑開(kāi)始。

7. BET結(jié)果與SEMTEM結(jié)果不符合,原因是什么?


常見(jiàn)情況為SEMTEM圖片中能看到孔,但是BET結(jié)果中顯示無(wú)孔或孔很少,或者BET測(cè)到的孔和電鏡中看到的不一致。這主要是因?yàn)?/span>BET測(cè)試的是樣品整體的孔情況,電鏡看到的是局部的情況,所以會(huì)有不一致的情況,而且倍數(shù)太高的話,SEM的標(biāo)尺是可能有一定誤差的,所以兩者可比性并不太大。

8. 如何確定樣品的脫氣時(shí)間?


脫氣時(shí)間越長(zhǎng),樣品預(yù)處理效果越好。脫氣時(shí)間的選擇與樣品孔道的復(fù)雜程度有關(guān)。一般來(lái)說(shuō),孔道越復(fù)雜,微孔含量越高,脫氣時(shí)間越長(zhǎng);選擇的脫氣溫度越低,樣品所需要的脫氣時(shí)間也就越長(zhǎng)。IUPAC 推薦脫氣時(shí)間不少于 6 小時(shí),而那些需要低溫脫氣的樣品則需要更長(zhǎng)的脫氣時(shí)間。


9. 如何選擇樣品的脫氣溫度?


系統(tǒng)溫度越高,分子擴(kuò)散運(yùn)動(dòng)越快,因此脫氣效果越好。

選擇脫氣溫度的首要原則是不破壞樣品結(jié)構(gòu)。如果脫氣溫度設(shè)置過(guò)高,會(huì)導(dǎo)致樣品結(jié)構(gòu)的不可逆變化,例如燒結(jié)會(huì)降低樣品的比表面積,分解會(huì)提高樣品的比表面積。但是如果為了保險(xiǎn),脫氣溫度設(shè)置過(guò)低,就可能使樣品表面處理不完全, 導(dǎo)致分析結(jié)果偏小。

因此在不確定脫氣溫度的情況下,建議使用化學(xué)手冊(cè),如 the Handbook of Chemistry and Physics (CRC, Boca Raton, Florida),以及各標(biāo)準(zhǔn)組織發(fā)布的標(biāo)準(zhǔn)方法,如 ASTM,作為相關(guān)參考。 脫氣溫度的選擇不能高于固體的熔點(diǎn)或玻璃的相變點(diǎn), 建議不要超過(guò)熔點(diǎn)溫度的一半。當(dāng)然,如果條件許可,使用熱分析儀能夠最精確地得到適合的脫氣溫度。一般而言,脫氣溫度應(yīng)當(dāng)是熱重曲線上平臺(tái)段的溫度。




?測(cè)試提示:


1.可開(kāi)正規(guī)測(cè)試發(fā)票,附帶測(cè)試清單。

2.有腐蝕性,毒性,或其他有危害性等特殊樣品要事先告知測(cè)試人員,測(cè)試人員也要告知樣品方哪些樣品不能測(cè)或會(huì)對(duì)儀器產(chǎn)生損傷,測(cè)試后會(huì)對(duì)樣品產(chǎn)生哪些變化;

3.客戶需提供詳細(xì)的樣品資料,包括元素,主要成分和詳細(xì)測(cè)試參數(shù)及條件。和測(cè)試人員充分討論,商定最終測(cè)試條件;

4.測(cè)試人員與顧客通過(guò)QQ,微信或郵件溝通,出現(xiàn)測(cè)試糾紛,郵件或聊天記錄將作為重要的仲裁依據(jù);請(qǐng)加QQ和技術(shù)人員交流。QQ:82187958。微信:15071040697

5.杜絕測(cè)試、解析和合成違反國(guó)家相關(guān)法律法規(guī)的樣品,一經(jīng)發(fā)現(xiàn)將追究其法律責(zé)任。



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