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測試儀器：X射線衍射儀XRD

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發(fā)表時間：2019-12-18 10:15作者：武漢鑠思百檢測技術有限公司來源：鑠思百檢測

測試儀器之X射線衍射儀XRD

簡介：

X射線衍射儀:高精度垂直型測角儀，獨立2軸驅動模式，可擴展的超大樣品空間設計，可滿足各種類型樣品的X射線衍射分析要求，廣泛應用從材料基礎研究到工業(yè)生產控制等諸多領域。

儀器簡稱

中文名：X射線衍射儀　簡稱：XRD

儀器型號：D8?Advance

測角儀：

θ/θ立體式測角儀，采用光學編碼器技術與步進馬達雙重定位，轉動范圍：-11°-168°，測角儀半徑：≥200nm，最小步長：0.001°，角度重現(xiàn)性：0.001°；驅動方式：步進馬達驅動；最高定位速度：≥1000°/mm；

功能及特點：

　　樣品的物相分析（定性分析）、晶粒尺寸測定、分析納米粒度大小及粒徑分布、物相定量分析、薄膜物相鑒、.測量纖維或高分子樣品的物相.取向度等、織構分析、應力分析等

測品要求：

　　粉末樣品要求：干燥，在空氣中穩(wěn)定，粒度小于20μm，粉末樣品量約需2~4g；塊狀樣品要求：測試面清潔平整，也可是板狀、片狀或絲狀，帶襯底材料的薄膜或帶基材的鍍層等原始形狀，厚度≤3cm，直徑≤3cm。特殊樣品要求：微粉樣品需要顆粒均勻細小，性質穩(wěn)定，對Si無腐蝕性。條帶需要平整光滑且不能太厚。若樣品中含有Fe、Co、Ni等熒光物質，請告知

a、X射線衍射儀技術（XRD）

X射線衍射儀技術(X-raydiffraction，XRD)。通過對材料進行X射線衍射，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內部原子或分子的結構或形態(tài)等信息的研究手段。X射線衍射分析法是研究物質的物相和晶體結構的主要方法。當某物質(晶體或非晶體)進行衍射分析時,該物質被X射線照射產生不同程度的衍射現(xiàn)象,物質組成、晶型、分子內成鍵方式、分子的構型、構象等決定該物質產生特有的衍射圖譜。X射線衍射方法具有不損傷樣品、無污染、快捷、測量精度高、能得到有關晶體完整性的大量信息等優(yōu)點。因此,X射線衍射分析法作為材料結構和成分分析的一種現(xiàn)代科學方法,已逐步在各學科研究和生產中廣泛應用。

b.X射線衍射儀技術（XRD）可為客戶解決的問題

（1）當材料由多種結晶成分組成，需區(qū)分各成分所占比例，可使用XRD物相鑒定功能，分析各結晶相的比例。

（2）很多材料的性能由結晶程度決定，可使用XRD結晶度分析，確定材料的結晶程度。

（3）新材料開發(fā)需要充分了解材料的晶格參數(shù)，使用XRD可快捷測試出點陣參數(shù)，為新材料開發(fā)應用提供性能驗證指標。

（4）產品在使用過程中出現(xiàn)斷裂、變形等失效現(xiàn)象，可能涉及微觀應力方面影響，使用XRD可以快捷測定微觀應力。

（5）納米材料由于顆粒細小,極易形成團粒,采用通常的粒度分析儀往往會給出錯誤的數(shù)據(jù)。采用X射線衍射線線寬法(謝樂法)可以測定納米粒子的平均粒徑。

　總結：

X射線衍射儀和散射儀是材料表征的有力工具。不論是基礎研究還是工業(yè)質量控制，我們都能為客戶提供合適的解決方案。

1. 物相定性分析

2. 物相定量相分析

3. 結構解析

4. 雙體分布函數(shù)（PDF）分析

5. 小角散射

6. x射線反射率

7. 高分辨x射線衍射

8. 倒易空間強度分布圖（RSM）

9. 殘余應力

10. 織構分析

可以分析的材料狀態(tài)包括：粉末樣品、塊狀樣品、薄膜樣品、微區(qū)微量樣品。對無機材料以及部分高分子多晶體材料進行定性、定量分析，對固體材料進行擇優(yōu)取向分析以及殘余應力分析，測定未知晶體結構。廣泛應用于材料化學、化學工程、醫(yī)藥衛(wèi)生、商檢質檢等不同科學研究領域，各種材料結構分析，如金屬材料、無機材料、復合材料、有機材料、納米材料、超導材料。

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