GB-2018微束分析掃描電子顯微鏡能譜分析單顆粒形貌及元素分析

GB-2018微束分析掃描電子顯微鏡能譜分析單顆粒形貌及元素分析

掃描電子顯微鏡（sem-eds）是一種簡(jiǎn)單、快速的單顆粒表面正電子技術(shù)。它可以觀(guān)察環(huán)境空氣中細(xì)顆粒的形貌，定性元素分析，掃描電鏡觀(guān)察形貌和粒徑測(cè)量，x射線(xiàn)能譜儀可以定性元素分析顆粒。該技術(shù)可以直接識(shí)別和區(qū)分顆粒物的類(lèi)型，對(duì)顆粒物的來(lái)源類(lèi)型做出明確而直接的判斷，并根據(jù)顆粒物的數(shù)量統(tǒng)計(jì)給出來(lái)源物的貢獻(xiàn)率。得到了不同粒徑范圍內(nèi)顆粒物的污染特性。全樣品化學(xué)分析逐漸擴(kuò)展到單粒子分析。

發(fā)布時(shí)間：2018-05-14   實(shí)施時(shí)間：2019-04-01

發(fā)布部門(mén)：國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局