哪里可以測試SEM（場發(fā)射掃描電子顯微鏡）

儀器名稱：

場發(fā)射超高分辨率掃描電鏡(FESEM）

儀器型號：

SEM（Tescan mira3,Zeiss sigma500 Zeiss Merlin Compact）

EDS（OxfordX-MAX）

檢測項目：

表面形貌觀察（磁性、非磁樣品、生物樣均可），

EDS能譜（點掃、線掃、面掃），elements Mapping，EBSD

應(yīng)用范圍：

固體樣品的微觀形貌、結(jié)構(gòu)，樣品的微區(qū)元素成分、線分布、面分布，廣泛應(yīng)用于納米技術(shù)、材料、物理、化學(xué)、環(huán)境科學(xué)等領(lǐng)域。

塊體、粉末、磁性、生物樣品都適用。

適合導(dǎo)電性不佳的樣品形貌觀察。

制樣要求：

樣品尺寸要求：塊狀樣和生物樣，直徑小于26mm，高度小于15mm（樣品中不得含有水分）

粉末樣>0.02g

生物樣品需要提前制好樣，否則不予測試。

可以噴金，脆氮截面制樣。

備注：

PS：送樣請附帶“委托測試單”。

測試提示：

1.可開正規(guī)測試發(fā)票，附帶測試清單。

2.有腐蝕性，毒性，或其他有危害性等特殊樣品要事先告知測試人員，測試人員也要告知樣品方哪些樣品不能測或會對儀器產(chǎn)生損傷，測試后會對樣品產(chǎn)生哪些變化；

3.客戶需提供詳細的樣品資料，包括元素，主要成分和詳細測試參數(shù)及條件。和測試人員充分討論，商定最終測試條件；

4.測試人員與顧客通過QQ或郵件溝通，出現(xiàn)測試糾紛，郵件或聊天記錄將作為重要的仲裁依據(jù)；請加QQ和技術(shù)人員交流：82187958。

5.杜絕測試、解析和合成違反國家相關(guān)法律法規(guī)的樣品，一經(jīng)發(fā)現(xiàn)將追究其法律責(zé)任。

常見問題及回答：

不導(dǎo)電或?qū)щ姴畹臉悠?，為什么要噴金?/span>

SEM成像，是通過detecter獲得二次電子和背散射電子的信號。如樣品不導(dǎo)電或?qū)щ娦圆缓?，會造成樣品表面多余電子或游離粒子的累積不能及時導(dǎo)走，一定程度后就反復(fù)出現(xiàn)充電放電現(xiàn)象（charging)，最終影響電子信號的傳遞，造成圖像扭曲，變形、晃動等現(xiàn)象，噴金后樣品表面導(dǎo)電增強，從而避免積電現(xiàn)象

噴金后，對樣品形貌是否有影響？

樣品表面噴金后，只是在其表面覆蓋了幾個到十幾個金原子層，厚度只有幾個納米到十幾個納米而已，對于看形貌來說，幾乎是沒有什么影響的

寄樣的話，我不在旁邊怎么才能拍到我要的圖片？

寄樣測試：SEM或TEM，會給到您一個測試單，您把對應(yīng)的制樣要求（分散劑、超聲時間、銅網(wǎng)等）、測試要求（標(biāo)尺、拍攝位置、形貌效果等）、測試目的等寫清楚，測試老師會按您指定的要求來拍

一個樣品會提供幾張圖片？

測試效果案例：