鑠思百檢測(cè)

DETECTION OF TECHNICAL SOUSEPAD

透射電子顯微鏡(TEM-EDS)掃描電子顯微鏡(FESEM-EDS)球差電鏡激光共聚焦顯微鏡(LSCM)原子力顯微鏡(AFM)電子探針儀(EPMA)金相顯微鏡電子背散射衍射儀(EBSD)臺(tái)階儀,膜厚儀,探針接觸式輪廓儀,3D輪廓儀工業(yè)CT白光干涉儀(非接觸式3D表面輪廓儀)電鏡測(cè)試FIB制樣離子減薄制樣冷凍超薄切片制樣樹脂包埋制樣(生物制樣)液氮脆斷制樣金網(wǎng)鉬網(wǎng)銅網(wǎng)超薄碳膜微柵制樣電鏡制樣X射線光電子能譜分析儀(XPS)紫外光電子能譜(UPS)俄歇電子能譜(AES)X射線衍射儀(XRD)X射線散射儀SAXS/WAXSX射線殘余應(yīng)力分析儀X射線熒光光譜分析儀(XRF)電感耦合等離子體光譜儀(ICP-OES)紫外可見反射儀(DRS)拉曼光譜(RAMAN)紫外-可見分光光度計(jì)(UV)圓二色譜(CD)傅里葉變換紅外光譜分析儀(FTIR)吡啶紅外(DRIFTS)單晶衍射儀穆斯堡爾光譜儀穩(wěn)態(tài)瞬態(tài)熒光光譜分析儀(PL)原子吸收分光光度計(jì)原子熒光光度計(jì)(AFS)三維熒光 /熒光分光光度計(jì)紅外熱成像儀霧度儀旋光儀橢偏儀光譜測(cè)試電感耦合等離子體質(zhì)譜儀(ICP-MS)電噴霧離子化質(zhì)譜儀(ESI-MS)頂空-固相微萃取氣質(zhì)聯(lián)用儀(HS -SPME -GC -MS)二次離子質(zhì)譜(SIMS)基質(zhì)輔助激光解吸電離飛行時(shí)間質(zhì)譜儀(MALDI-TOF)裂解氣質(zhì)聯(lián)用儀(PY-GC-MS)氣質(zhì)聯(lián)用儀(GC-MS)同位素質(zhì)譜儀液質(zhì)聯(lián)用儀(LC-MS)質(zhì)譜測(cè)試差示掃描量熱儀(DSC)熱重分析儀(TGA)熱分析聯(lián)用儀(DSC-TGA)靜態(tài)/動(dòng)態(tài)熱機(jī)械分析儀(TMA/DMA)熱重紅外聯(lián)用儀(TG-IR)熱重紅外質(zhì)譜聯(lián)用儀(TG-IR-MS)熱重紅外氣相質(zhì)譜聯(lián)用(TG-IR-GC-MS)紅外熱成像儀激光導(dǎo)熱儀錐形量熱儀(CONE)熱譜測(cè)試電子順磁共振波譜儀(EPR、ESR)固體核磁共振儀(NMR)液體核磁共振儀(NMR)微波網(wǎng)絡(luò)矢量分析儀/矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀核磁順磁波譜測(cè)試比表面及孔徑分析儀(BET)表面張力儀(界面張力儀)高壓吸附儀化學(xué)吸附儀(TPD TPR)接觸角測(cè)量?jī)x納米壓痕儀壓汞儀(MIP)表界面物性測(cè)試氣相色譜儀(GC)高效液相色譜儀(HPLC)離子色譜儀(IC)凝膠色譜儀(GPC)液相色譜(LC)色譜測(cè)試電導(dǎo)率儀電化學(xué)工作站腐蝕測(cè)試儀介電常數(shù)測(cè)定儀卡爾費(fèi)休水分測(cè)定儀自動(dòng)電位滴定儀電化學(xué)儀器測(cè)試Zeta電位儀工業(yè)分析激光粒度儀流變儀密度測(cè)定儀納米粒度儀邵氏 維氏 洛氏硬度計(jì)有機(jī)鹵素分析儀(F,Cl,Br,I,At,Ts)有機(jī)元素分析儀(EA)粘度計(jì)振動(dòng)樣品磁強(qiáng)計(jì)(VSM)土壤分析測(cè)試植物分析測(cè)試其他測(cè)試同步輻射GIWAXS GISAXS同步輻射XRD,PDF,SAXS同步輻射吸收譜-高能機(jī)時(shí)同步輻射吸收譜之軟X射線同步輻射吸收譜之硬X射線同步輻射聚焦離子束掃描電鏡(FIB-SEM)礦物定量分析系統(tǒng)MLA球差校正透射電子顯微鏡高端電鏡類原位XPS測(cè)試原位EBSD(in situ -EBSD)原位紅外原位掃描電子顯微鏡(in-situ-SEM)原位透射電子顯微鏡高端原位測(cè)試飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀(TOF-SIMS)輝光放電光譜(GD-OES MS)三維原子探針(APT)高端質(zhì)譜類Micro/Nano /工業(yè)CT飛秒瞬態(tài)吸收光譜儀(fs-TAS)掃描隧道顯微鏡深能級(jí)瞬態(tài)譜儀正電子湮滅壽命譜儀其他XPS數(shù)據(jù)分析XRD全巖黏土分析表面成分分析技術(shù)-XPS測(cè)試分析常規(guī)XRD數(shù)據(jù)分析成分指紋分析技術(shù)-紅外測(cè)試分析二維紅外光譜技術(shù)紅外(IR)數(shù)據(jù)分析拉曼數(shù)據(jù)分析三維熒光數(shù)據(jù)分析圓二色譜(CD)數(shù)據(jù)分析成分含量分析EPR/ESR數(shù)據(jù)分析VSM數(shù)據(jù)分析電化學(xué)數(shù)據(jù)分析矢量網(wǎng)絡(luò)數(shù)據(jù)分析電磁分析CT數(shù)據(jù)分析X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)普(XAFS)數(shù)據(jù)分析穆斯堡爾譜數(shù)據(jù)分析小角散射(SAXS/WAXS)數(shù)據(jù)分析高端測(cè)試分析固體核磁數(shù)據(jù)分析液體核磁(NMR)測(cè)試+分析一體化液體核磁(NMR)數(shù)據(jù)分析化學(xué)結(jié)構(gòu)分析EBSD數(shù)據(jù)分析TEM數(shù)據(jù)分析單晶XRD數(shù)據(jù)分析晶體結(jié)構(gòu)確證技術(shù)-XRD精修XRD定性定量分析晶體結(jié)構(gòu)分析BET數(shù)據(jù)分析其它數(shù)據(jù)分析需求熱分析數(shù)據(jù)處理數(shù)據(jù)分析作圖其他數(shù)據(jù)分析半導(dǎo)體激光器模擬發(fā)光二極管仿真光電探測(cè)器仿真太陽能電池仿真半導(dǎo)體器件仿真表面能差分密度磁矩單原子催化電荷密度電解水制氫反應(yīng)(HER)費(fèi)米面(fermi surface)電子局域化函數(shù)(electron localization function)第一性原理分子模擬量子化學(xué)相分析有限元模擬常規(guī)理化-水樣常規(guī)理化-土樣/沉積物常規(guī)理化-氣體常規(guī)理化-植物/蔬果/農(nóng)作物常規(guī)理化-食品常規(guī)理化-肥料/飼料常規(guī)理化-巖礦常規(guī)理化-垃圾常規(guī)理化-職業(yè)衛(wèi)生常規(guī)理化-其它常規(guī)理化項(xiàng)目纖維素、半纖維素、木質(zhì)素含量bcr形態(tài)順序提取/tessier五步提取法土壤水體抗生素微塑料微生物磷脂脂肪酸(PLFA)非標(biāo)理化-其它非標(biāo)理化項(xiàng)目穩(wěn)定同位素放射性同位素同位素-其它金屬同位素同位素多糖的單糖組成測(cè)定可溶性寡糖定量土壤氨基糖多糖全套分析多糖甲基化植物糖化學(xué)-常規(guī)指標(biāo)糖化學(xué)液質(zhì)聯(lián)用LCMS高效液相色譜HPLC氣相色譜GC氣質(zhì)聯(lián)用GCMS全二維氣質(zhì)GC×GC-MS氣相色譜-離子遷移譜聯(lián)用儀(GC-IMS)液相色譜-原子熒光聯(lián)用(LC-AFS)制備型HPLC色譜質(zhì)譜數(shù)據(jù)分析液相色譜-電感耦合等離子體質(zhì)譜(LC-ICPMS)色譜質(zhì)譜DOM(FT- ICR- MS)水質(zhì)NOM(LC-OCD-OND)DOM(FT-ICR-MS)數(shù)據(jù)分析環(huán)境高端電池產(chǎn)品整體解決方案正極顆粒表面微觀形貌正極顆粒物截面形貌與元素三元正極顆粒循環(huán)前后晶界裂紋正極顆粒摻雜元素分布正極顆粒截面元素分布和晶格表征正極極片原位晶相分析正極極片截面元素分布和晶格表征正極表面CEI膜測(cè)試方法XPS正極極片截面微觀形貌觀察和元素分布正極極片CEI膜成分分析與厚度測(cè)定正極極片介電常數(shù)正極極片浸潤(rùn)性正極極片包覆層觀察正極極片雜質(zhì)含量測(cè)定正極極片氧空位測(cè)定負(fù)極顆粒表面微觀形貌觀察和元素分布負(fù)極顆粒截面微觀形貌觀察和元素分布石墨類型判定負(fù)極顆粒粒徑分析負(fù)極極片孔洞分析負(fù)極顆粒包覆層觀察負(fù)極顆粒羥基含量測(cè)定負(fù)極極片包覆層觀察負(fù)極表面SEI膜分析XPS法負(fù)極極片SEI膜成分分析與厚度測(cè)定負(fù)極極片截面微觀形貌觀察和元素分布負(fù)極極片石墨碳和無定型碳比例隔膜表面微觀形貌觀察隔膜循環(huán)前后孔徑變化質(zhì)子交換膜形貌(厚度)觀察 CP+SEM質(zhì)子交換膜雜質(zhì)元素電池循環(huán)后鼓包氣電池循環(huán)后爆炸氣鋰電池極片和集流體間的粘結(jié)強(qiáng)度三元正極材料NCM比例燃料電池-整體解決方案電池產(chǎn)品-隔膜電池產(chǎn)品-優(yōu)勢(shì)項(xiàng)目正極材料-PH值正極材料-比表面積正極材料-磁性異物正極材料-化學(xué)成分正極材料-晶體結(jié)構(gòu)正極材料-粒徑分布正極材料-首次放電比容量及首次庫倫效率正極材料-水分含量正極材料-松裝密度正極材料-未知物分析正極材料-形貌,厚度與結(jié)構(gòu)正極材料-壓實(shí)密度正極材料-振實(shí)密度電池產(chǎn)品-正極材料負(fù)極材料-PH值負(fù)極材料-比表面積負(fù)極材料-層間距 石墨化度負(fù)極材料成分分析負(fù)極材料-磁性異物負(fù)極材料-粉末壓實(shí)密度負(fù)極材料-固定碳含量負(fù)極材料-化學(xué)成分負(fù)極材料-粒徑分布負(fù)極材料-石墨鑒定負(fù)極材料-水分負(fù)極材料-限用物質(zhì)含量負(fù)極材料-形貌與結(jié)構(gòu)負(fù)極材料-陰離子的測(cè)定負(fù)極材料-有機(jī)物含量負(fù)極材料-真密度負(fù)極材料-振實(shí)密度負(fù)極顆粒-石墨取向性(OI值)首次放電比容量及首次庫倫效率電池產(chǎn)品-負(fù)極材料電解液-電導(dǎo)率電解液-化學(xué)元素含量電解液-密度電解液-水分含量電解液-未知物分析電解液-游離酸(HF含量)電池產(chǎn)品-電解液電池產(chǎn)品-隔膜電池產(chǎn)品-隔膜
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掃描透射電鏡,不僅用好,還要好用

 二維碼
發(fā)表時(shí)間:2019-11-05 14:50作者:武漢鑠思百檢測(cè)技術(shù)有限公司來源:鑠思百檢測(cè)

鑠思百檢測(cè):“電鏡雖好,但價(jià)格昂貴,并不是每家研究機(jī)構(gòu)都能買得起。”近日,在2019年掃描電鏡及相關(guān)分析技術(shù)研討會(huì)上,部分與會(huì)學(xué)者表示,希望進(jìn)一步提高電子顯微鏡共享資源的利用率。

近年來,電子顯微術(shù)(電鏡)正廣已廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、物理、能源、化學(xué)、化工、醫(yī)療、生物等研究領(lǐng)域。利用電子顯微術(shù),研究者取得了一些重要進(jìn)展,也發(fā)現(xiàn)了一些問題

16世紀(jì)發(fā)明的光學(xué)顯微鏡可以將物體放大1500倍以上,微小的動(dòng)物、植物及其內(nèi)部結(jié)構(gòu)可以清晰地顯示在鏡頭中。然而,隨著科學(xué)研究的需要,納米材料、新型半導(dǎo)體、疾病治療靶標(biāo)等光學(xué)顯微鏡下看不見的材料急需研究,這對(duì)顯微鏡提出了更高的要求

在二十世紀(jì),電子顯微鏡的最大放大倍數(shù)超過1500萬倍,打開了通向微觀世界的大門。電子顯微鏡通常包括掃描電子顯微鏡和透射電子顯微鏡。前者所呈現(xiàn)的圖像具有一定的立體性,用于觀察樣品的表面結(jié)構(gòu);后者可直接獲得樣品的二維投影,用于分析樣品的晶體結(jié)構(gòu)和內(nèi)部結(jié)構(gòu)

近年來,掃描透射電子顯微鏡(SEM)由于兼有TEM和SEM的功能而變得越來越重要最近清華大學(xué)化工系教授在2019年掃描透射電子顯微鏡及相關(guān)分析技術(shù)研討會(huì)上展示了一個(gè)典型的應(yīng)用

一般來說,國(guó)內(nèi)外石油工業(yè)從石油中提取化工產(chǎn)品,需要選擇催化劑來大大提高石油中低碳烯烴的收率。因此,研究小組通過stem觀察到,分子篩不同晶面的產(chǎn)物選擇性地控制了產(chǎn)物的進(jìn)出,通過對(duì)分子篩不同晶面產(chǎn)物的定向控制,可以獲得高選擇性的丙烯副產(chǎn)芳烴可減少5倍

目前,該技術(shù)已成功應(yīng)用于煤、甲醇等常用能源,促進(jìn)了煤制烯烴的產(chǎn)業(yè)化。如采用STEM技術(shù),在甲醇制低碳烯烴成套工業(yè)化技術(shù)中(MTO,MTP),甲醇轉(zhuǎn)化率接近100%,低碳烯烴選擇性為90%。截至2017年底,MTP技術(shù)已達(dá)到全國(guó)烯烴生產(chǎn)能力的MTO/3以上

為了開展博士研究,經(jīng)常需要與北京大學(xué)、有色金屬研究院等單位預(yù)約電子顯微鏡。然而,這些電子顯微鏡的時(shí)間非常緊張,通常需要排隊(duì)等候周以上周以上,這影響了科學(xué)研究的進(jìn)展速度。

“一臺(tái)電鏡的價(jià)格動(dòng)輒幾百萬至上千萬,球差校正電鏡一般在兩千萬到三千萬之間,一個(gè)研究機(jī)構(gòu)很難覆蓋所有種類,半導(dǎo)體所安裝了掃描電鏡卻沒有透射電鏡,因此需要到其他單位借用,借用能夠解決問題,但時(shí)間的延誤也令科研人員惋惜。”寧靜探測(cè)理論

在使用電子顯微鏡的過程中,我們可以知道每個(gè)研究機(jī)構(gòu)和學(xué)院都有什么樣的電子顯微鏡?!盀槭裁床唤⒁粋€(gè)科研資源共享平臺(tái)讓更多科研人員使用到這些電鏡呢?”zest檢測(cè)

2015年,要加快科研設(shè)施和儀器向社會(huì)開放,進(jìn)一步提高科技資源利用效率。

截至目前,公司已與35電鏡實(shí)驗(yàn)室共享平臺(tái)多家實(shí)驗(yàn)室合作,成功幫助1500電鏡實(shí)驗(yàn)室共享平臺(tái)多家單位連接檢測(cè)設(shè)備,其中電鏡實(shí)驗(yàn)室共享平臺(tái)是最重要的業(yè)務(wù)之一

“這歸功于視野開闊的院所企業(yè),是他們勇于拿出大型儀器?!辫p思百檢測(cè)“對(duì)比我國(guó)擁有的電鏡總量和電鏡總需求,電鏡共享仍有巨大上升空間??梢哉f,電鏡共享仍在走向公共化的路上。”

在2019年的掃描透射電子顯微鏡及相關(guān)分析技術(shù)研討會(huì)上,研究人員也提出了一個(gè)問題:“有先進(jìn)的電鏡,有高價(jià)值的樣品,但放在一起就是不能出結(jié)果,儀器與樣品不匹配影響著科研進(jìn)度?!?/p>

如果一個(gè)問題被提出,它就會(huì)被解決。從事電子顯微術(shù)20多年的研究人員白雪冬已經(jīng)從傳統(tǒng)的電子顯微術(shù)轉(zhuǎn)向各種原位電子顯微術(shù)設(shè)備的開發(fā)這些原位裝置不僅提高了樣品與儀器的匹配程度,而且可以在電子顯微鏡中對(duì)樣品進(jìn)行控制,獲得工作狀態(tài)下樣品結(jié)構(gòu)的演變,從而促進(jìn)了達(dá)成的科學(xué)目標(biāo)。

目前,包括掃描電鏡在內(nèi)的透射電鏡技術(shù)的研究和產(chǎn)品開發(fā)正朝著多個(gè)方向發(fā)展。一個(gè)方向是追求高分辨率目前,300kV球差校正tem的最高分辨率為0.04nm他們使用聚光鏡球差校正技術(shù)和物鏡球差校正片技術(shù),其中許多配備了雙球差校正片系統(tǒng)二是原位tem技術(shù)的發(fā)展,包括原位高溫、原位催化反應(yīng)、原位力學(xué)和多次原位觀察。三是通過超低電壓獲得高分辨率;四是超快電子顯微鏡技術(shù)的發(fā)展,配備了超快相機(jī)或電子槍和樣品超快控制系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)了樣品變化過程中的超快信息采集和機(jī)理分析。

雖然歐美和日本已經(jīng)掌握了掃描透射電子顯微鏡系統(tǒng)的主要部分,使得電子顯微鏡的分辨率更高、穩(wěn)定性更強(qiáng),但目前對(duì)電子顯微鏡及其附件的研究也呈現(xiàn)出一定的中國(guó)特點(diǎn)尤其是附件的效率“在研究過程中,要揚(yáng)長(zhǎng)避短,有所為有所不為,避免重復(fù)性工作,在有限時(shí)間、有限經(jīng)費(fèi)的支持下,爭(zhēng)取最大效率”,與國(guó)內(nèi)研究方向緊密結(jié)合。”


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武漢鑠思百檢測(cè),是華中地區(qū)專業(yè)的第三方檢測(cè)平臺(tái),提供材料檢測(cè)服務(wù),常規(guī)測(cè)試3-5個(gè)工作日出檢測(cè)結(jié)果,鑠思百檢測(cè)專業(yè)的實(shí)驗(yàn)室儀器,專業(yè)科研團(tuán)隊(duì)碩博測(cè)試工程師90%,鑠思百檢測(cè),堅(jiān)持“恪守信譽(yù)、質(zhì)量第一、客戶第一”

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