AFM測試常見問題 二維碼
發(fā)表時間:2021-03-05 11:39作者:鑠思百檢測來源:鑠思百檢測 鑠思百檢測可為您提供原子力顯微鏡(AFM)檢測服務(wù),AFM測試可以在大氣和液體環(huán)境下對各種材料和樣品進行納米區(qū)域的物理性質(zhì)包括形貌進行探測,或者直接進行納米操縱;現(xiàn)已廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、納米功能材料、生物、化工、食品、醫(yī)藥研究和科研院所各種納米相關(guān)學(xué)科的研究實驗等領(lǐng)域中,成為納米科學(xué)研究的基本工具。 在做AFM測試時,鑠思百檢測在與很多同學(xué)溝通中了解到,好多同學(xué)對此項目不太了解,針對此,鑠思百檢測平臺團隊組織相關(guān)同事對球差電鏡測試進行問題收集并整理,希望可以幫助到科研圈的伙伴們; 1、AFM接觸模式,掃描范圍越大,對針損壞越大嗎? 答:掃描范圍大的情況下考慮表面出現(xiàn)較高起伏顆粒會對探針造成磨損,另外掃描范圍很大時,接近掃描最大范圍93微米時會對掃描管造成損傷。 2、什么時候才會考慮調(diào)節(jié) I gain/P gain/setpoint這些參數(shù)? 答:setpoint與力有關(guān),接觸模式和峰值力輕敲模式下setpoint與力成正比關(guān)系,如果探針接觸不到表面出現(xiàn)形貌差異較大時需要增大setpoint,輕敲模式力與setpoint成拋物線關(guān)系,I gain在每次成像時都需要調(diào)節(jié),先慢慢增大至誤差通道出現(xiàn)噪聲震蕩時回調(diào)I gain值至震蕩消失為最佳,調(diào)節(jié)好I gain后將P gain設(shè)置為I gain的2倍。 3、接觸共振模式測粘性,振幅只與粘度有關(guān)嗎?quality factor 只與粘性有關(guān)(正相關(guān))嗎? 答:是的,quality factor只與粘性正相關(guān)。 4、AFM可以像STM那樣看到原子級尺度(納米)的形貌嗎? 答:可以,一般在液下測量原子相。 5、測量兩相之間電勢差采用KPFM模式還是PFM模式? 答:采用KPFM模式。 6、setpoin是加在壓電陶瓷上的直流偏壓嗎? 答:setpoint只是一個設(shè)定值,并不是直接加在陶瓷片上的直流偏壓。 7、AFM可以在平臺上加偏壓嗎?如果能一般能加到多大? 答:可以加在樣品臺上,最大可以加到10000 mV。 8、黏附力測試沒有那么平滑怎么辦? 答:可能是測試時外界噪聲影響,建議測試時減小ramp頻率,后期可以通過軟件將曲線適當(dāng)平滑處理。 9、樣品盤找不到鏡頭已經(jīng)降到最底下了怎么辦? 答:考慮顯微鏡聚焦沒調(diào)節(jié)好,一般在倒影相調(diào)好樣品虛像后再切換到sample相繼續(xù)往下聚焦至樣品實像。 10、片層兩邊黑是假象,怎么去掉? 答:片層兩邊黑是由于起伏對比度的差異,可以采用plane fit一階拉平的方式,注意框選同一個面上的點。 以上是原子力顯微鏡(AFM)的常見問題總結(jié),如需測試服務(wù)請聯(lián)系鑠思百檢測工程師! |