鑠思百檢測(cè)

DETECTION OF TECHNICAL SOUSEPAD

透射電子顯微鏡(TEM-EDS)掃描電子顯微鏡(FESEM-EDS)球差電鏡激光共聚焦顯微鏡(LSCM)原子力顯微鏡(AFM)電子探針儀(EPMA)金相顯微鏡電子背散射衍射儀(EBSD)臺(tái)階儀,膜厚儀,探針接觸式輪廓儀,3D輪廓儀工業(yè)CT白光干涉儀(非接觸式3D表面輪廓儀)電鏡測(cè)試FIB制樣離子減薄制樣冷凍超薄切片制樣樹(shù)脂包埋制樣(生物制樣)液氮脆斷制樣金網(wǎng)鉬網(wǎng)銅網(wǎng)超薄碳膜微柵制樣電鏡制樣X射線光電子能譜分析儀(XPS)紫外光電子能譜(UPS)俄歇電子能譜(AES)X射線衍射儀(XRD)X射線散射儀SAXS/WAXSX射線殘余應(yīng)力分析儀X射線熒光光譜分析儀(XRF)電感耦合等離子體光譜儀(ICP-OES)紫外可見(jiàn)反射儀(DRS)拉曼光譜(RAMAN)紫外-可見(jiàn)分光光度計(jì)(UV)圓二色譜(CD)傅里葉變換紅外光譜分析儀(FTIR)吡啶紅外(DRIFTS)單晶衍射儀穆斯堡爾光譜儀穩(wěn)態(tài)瞬態(tài)熒光光譜分析儀(PL)原子吸收分光光度計(jì)原子熒光光度計(jì)(AFS)三維熒光 /熒光分光光度計(jì)紅外熱成像儀霧度儀旋光儀橢偏儀光譜測(cè)試電感耦合等離子體質(zhì)譜儀(ICP-MS)電噴霧離子化質(zhì)譜儀(ESI-MS)頂空-固相微萃取氣質(zhì)聯(lián)用儀(HS -SPME -GC -MS)二次離子質(zhì)譜(SIMS)基質(zhì)輔助激光解吸電離飛行時(shí)間質(zhì)譜儀(MALDI-TOF)裂解氣質(zhì)聯(lián)用儀(PY-GC-MS)氣質(zhì)聯(lián)用儀(GC-MS)同位素質(zhì)譜儀液質(zhì)聯(lián)用儀(LC-MS)質(zhì)譜測(cè)試差示掃描量熱儀(DSC)熱重分析儀(TGA)熱分析聯(lián)用儀(DSC-TGA)靜態(tài)/動(dòng)態(tài)熱機(jī)械分析儀(TMA/DMA)熱重紅外聯(lián)用儀(TG-IR)熱重紅外質(zhì)譜聯(lián)用儀(TG-IR-MS)熱重紅外氣相質(zhì)譜聯(lián)用(TG-IR-GC-MS)紅外熱成像儀激光導(dǎo)熱儀錐形量熱儀(CONE)熱譜測(cè)試電子順磁共振波譜儀(EPR、ESR)固體核磁共振儀(NMR)液體核磁共振儀(NMR)微波網(wǎng)絡(luò)矢量分析儀/矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀核磁順磁波譜測(cè)試比表面及孔徑分析儀(BET)表面張力儀(界面張力儀)高壓吸附儀化學(xué)吸附儀(TPD TPR)接觸角測(cè)量?jī)x納米壓痕儀壓汞儀(MIP)表界面物性測(cè)試氣相色譜儀(GC)高效液相色譜儀(HPLC)離子色譜儀(IC)凝膠色譜儀(GPC)液相色譜(LC)色譜測(cè)試電導(dǎo)率儀電化學(xué)工作站腐蝕測(cè)試儀介電常數(shù)測(cè)定儀卡爾費(fèi)休水分測(cè)定儀自動(dòng)電位滴定儀電化學(xué)儀器測(cè)試Zeta電位儀工業(yè)分析激光粒度儀流變儀密度測(cè)定儀納米粒度儀邵氏 維氏 洛氏硬度計(jì)有機(jī)鹵素分析儀(F,Cl,Br,I,At,Ts)有機(jī)元素分析儀(EA)粘度計(jì)振動(dòng)樣品磁強(qiáng)計(jì)(VSM)土壤分析測(cè)試植物分析測(cè)試其他測(cè)試同步輻射GIWAXS GISAXS同步輻射XRD,PDF,SAXS同步輻射吸收譜-高能機(jī)時(shí)同步輻射吸收譜之軟X射線同步輻射吸收譜之硬X射線同步輻射聚焦離子束掃描電鏡(FIB-SEM)礦物定量分析系統(tǒng)MLA球差校正透射電子顯微鏡高端電鏡類原位XPS測(cè)試原位EBSD(in situ -EBSD)原位紅外原位掃描電子顯微鏡(in-situ-SEM)原位透射電子顯微鏡高端原位測(cè)試飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀(TOF-SIMS)輝光放電光譜(GD-OES MS)三維原子探針(APT)高端質(zhì)譜類Micro/Nano /工業(yè)CT飛秒瞬態(tài)吸收光譜儀(fs-TAS)掃描隧道顯微鏡深能級(jí)瞬態(tài)譜儀正電子湮滅壽命譜儀其他XPS數(shù)據(jù)分析XRD全巖黏土分析表面成分分析技術(shù)-XPS測(cè)試分析常規(guī)XRD數(shù)據(jù)分析成分指紋分析技術(shù)-紅外測(cè)試分析二維紅外光譜技術(shù)紅外(IR)數(shù)據(jù)分析拉曼數(shù)據(jù)分析三維熒光數(shù)據(jù)分析圓二色譜(CD)數(shù)據(jù)分析成分含量分析EPR/ESR數(shù)據(jù)分析VSM數(shù)據(jù)分析電化學(xué)數(shù)據(jù)分析矢量網(wǎng)絡(luò)數(shù)據(jù)分析電磁分析CT數(shù)據(jù)分析X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)普(XAFS)數(shù)據(jù)分析穆斯堡爾譜數(shù)據(jù)分析小角散射(SAXS/WAXS)數(shù)據(jù)分析高端測(cè)試分析固體核磁數(shù)據(jù)分析液體核磁(NMR)測(cè)試+分析一體化液體核磁(NMR)數(shù)據(jù)分析化學(xué)結(jié)構(gòu)分析EBSD數(shù)據(jù)分析TEM數(shù)據(jù)分析單晶XRD數(shù)據(jù)分析晶體結(jié)構(gòu)確證技術(shù)-XRD精修XRD定性定量分析晶體結(jié)構(gòu)分析BET數(shù)據(jù)分析其它數(shù)據(jù)分析需求熱分析數(shù)據(jù)處理數(shù)據(jù)分析作圖其他數(shù)據(jù)分析半導(dǎo)體激光器模擬發(fā)光二極管仿真光電探測(cè)器仿真太陽(yáng)能電池仿真半導(dǎo)體器件仿真表面能差分密度磁矩單原子催化電荷密度電解水制氫反應(yīng)(HER)費(fèi)米面(fermi surface)電子局域化函數(shù)(electron localization function)第一性原理分子模擬量子化學(xué)相分析有限元模擬常規(guī)理化-水樣常規(guī)理化-土樣/沉積物常規(guī)理化-氣體常規(guī)理化-植物/蔬果/農(nóng)作物常規(guī)理化-食品常規(guī)理化-肥料/飼料常規(guī)理化-巖礦常規(guī)理化-垃圾常規(guī)理化-職業(yè)衛(wèi)生常規(guī)理化-其它常規(guī)理化項(xiàng)目纖維素、半纖維素、木質(zhì)素含量bcr形態(tài)順序提取/tessier五步提取法土壤水體抗生素微塑料微生物磷脂脂肪酸(PLFA)非標(biāo)理化-其它非標(biāo)理化項(xiàng)目穩(wěn)定同位素放射性同位素同位素-其它金屬同位素同位素多糖的單糖組成測(cè)定可溶性寡糖定量土壤氨基糖多糖全套分析多糖甲基化植物糖化學(xué)-常規(guī)指標(biāo)糖化學(xué)液質(zhì)聯(lián)用LCMS高效液相色譜HPLC氣相色譜GC氣質(zhì)聯(lián)用GCMS全二維氣質(zhì)GC×GC-MS氣相色譜-離子遷移譜聯(lián)用儀(GC-IMS)液相色譜-原子熒光聯(lián)用(LC-AFS)制備型HPLC色譜質(zhì)譜數(shù)據(jù)分析液相色譜-電感耦合等離子體質(zhì)譜(LC-ICPMS)色譜質(zhì)譜DOM(FT- ICR- MS)水質(zhì)NOM(LC-OCD-OND)DOM(FT-ICR-MS)數(shù)據(jù)分析環(huán)境高端電池產(chǎn)品整體解決方案正極顆粒表面微觀形貌正極顆粒物截面形貌與元素三元正極顆粒循環(huán)前后晶界裂紋正極顆粒摻雜元素分布正極顆粒截面元素分布和晶格表征正極極片原位晶相分析正極極片截面元素分布和晶格表征正極表面CEI膜測(cè)試方法XPS正極極片截面微觀形貌觀察和元素分布正極極片CEI膜成分分析與厚度測(cè)定正極極片介電常數(shù)正極極片浸潤(rùn)性正極極片包覆層觀察正極極片雜質(zhì)含量測(cè)定正極極片氧空位測(cè)定負(fù)極顆粒表面微觀形貌觀察和元素分布負(fù)極顆粒截面微觀形貌觀察和元素分布石墨類型判定負(fù)極顆粒粒徑分析負(fù)極極片孔洞分析負(fù)極顆粒包覆層觀察負(fù)極顆粒羥基含量測(cè)定負(fù)極極片包覆層觀察負(fù)極表面SEI膜分析XPS法負(fù)極極片SEI膜成分分析與厚度測(cè)定負(fù)極極片截面微觀形貌觀察和元素分布負(fù)極極片石墨碳和無(wú)定型碳比例隔膜表面微觀形貌觀察隔膜循環(huán)前后孔徑變化質(zhì)子交換膜形貌(厚度)觀察 CP+SEM質(zhì)子交換膜雜質(zhì)元素電池循環(huán)后鼓包氣電池循環(huán)后爆炸氣鋰電池極片和集流體間的粘結(jié)強(qiáng)度三元正極材料NCM比例燃料電池-整體解決方案電池產(chǎn)品-隔膜電池產(chǎn)品-優(yōu)勢(shì)項(xiàng)目正極材料-PH值正極材料-比表面積正極材料-磁性異物正極材料-化學(xué)成分正極材料-晶體結(jié)構(gòu)正極材料-粒徑分布正極材料-首次放電比容量及首次庫(kù)倫效率正極材料-水分含量正極材料-松裝密度正極材料-未知物分析正極材料-形貌,厚度與結(jié)構(gòu)正極材料-壓實(shí)密度正極材料-振實(shí)密度電池產(chǎn)品-正極材料負(fù)極材料-PH值負(fù)極材料-比表面積負(fù)極材料-層間距 石墨化度負(fù)極材料成分分析負(fù)極材料-磁性異物負(fù)極材料-粉末壓實(shí)密度負(fù)極材料-固定碳含量負(fù)極材料-化學(xué)成分負(fù)極材料-粒徑分布負(fù)極材料-石墨鑒定負(fù)極材料-水分負(fù)極材料-限用物質(zhì)含量負(fù)極材料-形貌與結(jié)構(gòu)負(fù)極材料-陰離子的測(cè)定負(fù)極材料-有機(jī)物含量負(fù)極材料-真密度負(fù)極材料-振實(shí)密度負(fù)極顆粒-石墨取向性(OI值)首次放電比容量及首次庫(kù)倫效率電池產(chǎn)品-負(fù)極材料電解液-電導(dǎo)率電解液-化學(xué)元素含量電解液-密度電解液-水分含量電解液-未知物分析電解液-游離酸(HF含量)電池產(chǎn)品-電解液電池產(chǎn)品-隔膜電池產(chǎn)品-隔膜
設(shè)為首頁(yè) | 收藏本站

納米粒度儀-納米粒度儀在深色及高濃樣品中的應(yīng)用

 二維碼
發(fā)表時(shí)間:2021-05-18 09:16作者:鑠思百檢測(cè)來(lái)源:鑠思百檢測(cè)

鑠思百檢測(cè)可提供粒度分析測(cè)試服務(wù)。傳統(tǒng)的 DLS 技術(shù)是表征納米顆粒粒度的有力手段。然而,由于激光束被樣品吸收并能引起干涉效應(yīng),在深色介質(zhì)中變得無(wú)能為力。在高濃縮樣品的情況下,多重散射的現(xiàn)象也會(huì)使測(cè)量產(chǎn)生偏差。為了解決這些問(wèn)題,本文提出了一種新穎的光學(xué)設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu),結(jié)合了背散射檢測(cè)技術(shù)和控制樣品厚度的功能。通過(guò)對(duì)乳膠分散體系的測(cè)試結(jié)果,論述了這些改進(jìn)的益處。最新的算法實(shí)現(xiàn)了 DLS 的粒度分布的測(cè)定。

1. 傳統(tǒng)動(dòng)態(tài)光散射的原理和局限性

1.1 原理

動(dòng)態(tài)光散射(DLS)是一種非常成熟的技術(shù),用于測(cè)量分散或溶解在液體中的粒度和粒度分布?;趯?duì)由顆粒的布朗運(yùn)動(dòng)引起的散射光波動(dòng)的分析,提供了納米到幾微米的粒度測(cè)量。其原理是分析懸濁液在給定角度下散射光隨時(shí)間的變化(圖 1)。由散射光強(qiáng)度波動(dòng)得出的相關(guān)計(jì)算可以確定布朗顆粒的擴(kuò)散系數(shù) D。

通過(guò)斯托克斯-愛(ài)因斯坦定律(方程式 1)得出粒度信息:

其中 D 是擴(kuò)散系數(shù),Kb 是玻爾茲曼常數(shù),T 是溫度,η是連續(xù)分散介質(zhì)粘度,Rh 是流體力學(xué)半徑。該定律僅適用于沒(méi)有相互作用的均勻致密球體。它反映了這樣一個(gè)事實(shí),在連續(xù)分散介質(zhì)的粘度和溫度恒定的情況下,顆粒越大,它們?cè)诮橘|(zhì)中的移動(dòng)就越慢。還要注意,物體的流體動(dòng)力學(xué)半徑等 于其致密核心的半徑,加上其表面上吸附分子層的厚度(如聚合物、表面活性劑等),再加上其溶劑化層(反離子隨顆粒移動(dòng))的厚度(圖 2)。因此,與其它技術(shù)(如透射電子顯微鏡)測(cè)量的半徑相比,流體動(dòng)力學(xué)半徑可以提供額外的信息。

圖 2. 流體聚合物的流體力學(xué)半徑

然而,傳統(tǒng)的 DLS 技術(shù)有著明顯的局限性,尤其是在分析深色和高濃分散體系時(shí)。實(shí)際上,傳統(tǒng)的 DLS 在不透明的介質(zhì)中變得無(wú)效,因?yàn)闆](méi)有光透過(guò)樣品。此外,低熱容溶劑或有機(jī)組分對(duì)入射激光光束[2]的吸收引起的熱效應(yīng)極為敏感。這種現(xiàn)象通常被低估,例如,僅將黑色墨水添加到乳膠分散體系中,就會(huì)明顯影響粒度測(cè)量。圖 3 顯示了分散在水中的聚苯乙烯膠乳的實(shí)驗(yàn)結(jié)果,該聚苯乙烯膠乳通過(guò)離子表面活性劑穩(wěn)定并且通過(guò)電鏡測(cè)定的平均直徑為 30 nm。事先將樣品稀釋至 0.001wt%, 以避免濃度對(duì)測(cè)量產(chǎn)生影響。對(duì)這種透明分散體的直接 DLS 分析表明,平均流體動(dòng)力學(xué)直徑為 32 nm(圖中的藍(lán)條)。但是,在向樣品中添加 10wt%的黑色可溶性有機(jī)墨水(參見(jiàn)圖 4 中的圖片)后,我們測(cè)得的直徑為 24 nm(圖中的紅條),即偏差達(dá)到 25%。

圖 3. 30 nm 乳膠的常規(guī) DLS 分析

散射光強(qiáng)度的歸一化幅度是流體動(dòng)力學(xué)半徑的函數(shù),藍(lán)色表示透明和稀釋的分散體系,紅色表示添加墨水后的流體動(dòng)力學(xué)直徑。

圖 4. 添加墨水后的乳膠分散液

1.2 多重散射偽像

使用傳統(tǒng)的 DLS 在濃縮樣品獲得的結(jié)果會(huì)受到多重散射偽像現(xiàn)象的嚴(yán)重影響。在稀釋樣品的體系中,激光在被檢測(cè)器檢測(cè)之前僅被散射一次。而在濃縮樣品中,由于顆粒彼此更靠近,會(huì)發(fā)生幾個(gè)散射現(xiàn)象(圖 5)。這種現(xiàn)象會(huì)干擾相關(guān)性計(jì)算,并且通常會(huì)導(dǎo)致低估顆粒的流體動(dòng)力學(xué)半徑。隨著濃度的增加,多重散射現(xiàn)象更為明顯。

圖 5. 多重散射現(xiàn)象的圖示。激光在樣品中被“散射”三次,然后被檢測(cè)

為 了 說(shuō) 明 這 種 現(xiàn) 象 , 以 兩 種 不 同 的 濃 度 (0.001wt % 和 0.1wt % ) 分 析 了 商 用 標(biāo) 準(zhǔn) 膠 乳(MerckEstapor?K010 微球,通過(guò)電鏡測(cè)得的直徑為 98 nm)。圖 6 顯示,對(duì)濃度更高的樣品進(jìn)行常規(guī) DLS 分析(圖中紅色條形圖) 時(shí),有效直徑為 84 nm。該值大大低于在稀釋狀態(tài)下測(cè)得的流體力學(xué)直徑(藍(lán)色條),即 115 nm,甚至低于通過(guò)電鏡測(cè)量的顆粒的直徑。

圖 6. 兩種不同濃度標(biāo)準(zhǔn)微球

測(cè)量中的這一顯著誤差(27%)是多重散射的典型結(jié)果,也是 DLS 技術(shù)在傳統(tǒng)上僅用于低濃度樣品的原因之一。

2. 解決方案

為了解決這些問(wèn)題,我們提出了一種新穎的樣品池設(shè)計(jì),增加背散射檢測(cè)技術(shù)和控制樣品厚度的功能。如圖 8 所示,測(cè)量單元的底部為玻璃棱鏡的上表面,棱鏡將入射的激光束引導(dǎo)到樣品上。該結(jié)構(gòu)以 135°的角度收集背散射的光信號(hào)。此外,機(jī)械系統(tǒng)會(huì)密閉樣品池,玻璃棒上(圖 8)帶有用以吸收透射光的光阱,可以通過(guò)設(shè)定玻璃棒的垂直位置控制樣品的厚度和散射光區(qū)域的大小。

圖 7. “ Vasco”儀器及樣品池

圖 8. “ Vasco”測(cè)量單元的圖示

反向散射光檢測(cè)有兩個(gè)主要好處。在不透明介質(zhì)中,它比傳統(tǒng)的透射裝置提供更高的檢測(cè)效率,因?yàn)樯⑸涔獠槐卮┻^(guò)要檢測(cè)的整個(gè)樣品。其次,它降低了多重光散射現(xiàn)象,因?yàn)榧す庠跇悠敷w系中背散射的可能性比向前散射的可能性小。然而,這種檢測(cè)通常不足以解決真正的高濃體系,也不能防止激光束引起的局部熱效應(yīng)。然而,通過(guò)控制樣品厚度的功能可以大大改善測(cè)量結(jié)果。實(shí)際上,對(duì)于原濃分散體系而言,降低分析體積似乎會(huì)顯著降低激光多重散射的可能性。因此,通過(guò)將樣品厚度調(diào)整為 20 微米,可以很好地校正在第 2.2 節(jié)中談到的多次散射偽像(圖 6)。使用薄層分析模式,我們實(shí)際測(cè)量的流體力學(xué)直徑為 115 nm(圖 9.a.),這正是我們所期望的數(shù)值(與稀釋狀態(tài)下的直徑相同)。這種特定的結(jié)構(gòu)還可以防止樣品被激光局部加熱。眾所周知,光吸收取決于它穿過(guò)材料的距離。這種現(xiàn)象在朗伯-比爾定律(方程 2)表示。

其中 I 和 I0 分別是透射光和入射光的強(qiáng)度,α是材料吸收系數(shù),而 ? 是路徑長(zhǎng)度。因此,樣品層越薄,激光吸收效果越低。最終,可移動(dòng)玻璃棒上的“光阱”吸收了多余的透射光。在圖 9B 中,對(duì) 2.1 節(jié)中所涉及樣品采用這種新的對(duì)深色樣品的測(cè)量方法。我們觀察到,與未添加黑色墨水的樣品(即 粒度 32nm)相比,將樣品厚度調(diào)整為 20 微米后,可以測(cè)量到含墨水樣品的相 同流體動(dòng)力學(xué)直徑。薄層分析實(shí)際上為這種深色樣品的 DLS 測(cè)定跨出了飛躍式一步。現(xiàn)在這種技術(shù)在歐洲已經(jīng)廣泛應(yīng)用于原油、油墨、墨水(包括電子墨水和打印墨水)、化妝品、石墨烯、電池材料和漿料,以及食品醫(yī)藥的納米粒度檢測(cè)。

圖 9. 使用薄層分析(厚度為 20μm)的DLS 測(cè)定

3. 結(jié)論

動(dòng)態(tài)光散射是用于在低濃度透明分散體系中納米顆粒粒度測(cè)量的合適技術(shù)。然而,因?yàn)闆](méi)有光透過(guò)樣品,傳統(tǒng)的 DLS 技術(shù)在不透明的介質(zhì)中變得無(wú)效。此外,低熱容溶劑或有機(jī)成分可能對(duì)吸收入射激光束引起的熱效應(yīng)極為敏感。例如,將黑色墨水添加到乳膠分散體系中會(huì)使測(cè)量值偏差 25%。對(duì)于原 濃樣品, 傳統(tǒng) DLS 的結(jié)果也會(huì)受到多重散射現(xiàn)象的影響。與稀釋狀態(tài)下測(cè)得的流體動(dòng)力學(xué)直徑相比,當(dāng)乳膠標(biāo)準(zhǔn)溶液的濃度提高到 0.1wt%時(shí),實(shí)際測(cè)量誤差為 27%。

為了解決這一問(wèn)題,我們提出了新穎的樣品池和光學(xué)結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)——Vasco,對(duì) DLS 的兩個(gè)改進(jìn):

  • 背散射檢測(cè)技術(shù):它為不透明樣品提供了更高的檢測(cè)效率,并降低了儀器對(duì)多重散射現(xiàn)象的可能。

  • 樣品厚度控制:自動(dòng)將樣品厚度控制在幾十微米,可進(jìn)一步限制了多重散射現(xiàn)象,并大大降低了激光熱效應(yīng)。這些創(chuàng)新使該儀器適用于墨水、油漆或原濃乳液等的分析。


在線客服
 
 
 工作時(shí)間
周一至周六 :8:00-18:00
 聯(lián)系方式
客服-黃工:150 7104 0697
客服-劉工:18120219335
永仁县| 普定县| 砚山县| 全南县| 玉山县| 平凉市| 辽中县| 冕宁县| 台湾省| 正宁县| 南平市| 宁远县| 仁布县| 屏东县| 高阳县| 芜湖市| 三亚市| 琼结县| 盐池县| 台东县| 望江县| 黑河市| 榆树市| 邢台市| 嘉荫县| 祁门县| 农安县| 泽州县| 永福县| 原阳县| 嘉兴市| 诏安县| 双鸭山市| 项城市| 池州市| 绥中县| 滦南县| 长武县| 武汉市| 松江区| 密云县|