1、樣品表面是不是需要基本平整？
答：最好平整；如果表面粗糙的話，高度差也盡量不要超過150μm。
2、電池鋰負(fù)極測試怎么處理？
答：手套箱里拆出來剪小，通過樣品傳送管制備樣品并對傳送樣品進(jìn)行保護(hù)。
3、離子后面帶的正或者負(fù)，為什么都是正一價或負(fù)一價呢？
答：這個正或者負(fù)只是代表正離子或者負(fù)離子，與價態(tài)無關(guān)。
4、請問測試TOF-SIMS時，正負(fù)離子都需要測，那么需要幾個樣品呢？是在同一個樣品上選取不同的區(qū)域嗎？
答：如果是質(zhì)譜和二維成像，是一個位置，因?yàn)闆]有損傷，采集完正離子可以繼續(xù)采集負(fù)離子；如果是深度分析，需要換位置，分別測試正離子和負(fù)離子。
5、TOF-SIMS可以測離子含量嗎？
答：不能。TOF-SIMS靜態(tài)二次離子質(zhì)譜，測試離子強(qiáng)度，定性測試，不能定量。
6、TOF-SIMS中，質(zhì)譜測試濺射厚度為多少？
答：一般2到3層原子，小于1nm。
7、可以測試Si中參雜的O不？
答：可以。含量在ppt-ppb范圍內(nèi)用D-SIMS測試，含量在ppm范圍內(nèi)用TOF-SIMS測試。
8、同位素比對是什么原理？
答：TOF-SIMS分析可以表征元素的同位素，其不同同位素譜峰的峰強(qiáng)比與其在自然界中的豐度比是一致的。所以根據(jù)同位素質(zhì)量位置以及譜峰比例關(guān)系有助于我們對元素和成分進(jìn)行定性判定。
9、不銹鋼中C含量，SIMS和EDS測試準(zhǔn)確性有差別嗎？
答：EDS可以半定量，但EDS不適合原子序數(shù)低的元素定量；SIMS定量需要用標(biāo)樣定量法，常規(guī)測試得不到含量值.
10、對生物或植物組織，石蠟包埋切斷面會影響結(jié)果嗎？
答：可以測，但測之前最好用團(tuán)簇離子源剝離表面再測比較好。
11、二次離子像這么散是因?yàn)椴惶珜?dǎo)電么？
答：二次離子這么散不是因?yàn)閷?dǎo)電性，是跟樣品形貌有關(guān)。不導(dǎo)電樣品用TOF-SIMS分析可以采用導(dǎo)電雙面膠制樣、加MASK以及采用雙束中和的功能就可以對不導(dǎo)電樣品有比較好的分析能力。
12、Mask有正反么？
答：Mask主要作用是在制備樣品的時候遮擋樣品部分表面以及改善荷電效應(yīng)，沒有正反面之分。
13、 質(zhì)譜測試正負(fù)離子模式是什么？測試的是同樣一個位置嗎？
TOF-SIMS是采用初級離子源（Bi源）入射樣品的表面激發(fā)出材料里的離子，通常給樣品加不同偏壓分別采集正離子或負(fù)離子，金屬離子主要在正離子模式產(chǎn)額比較高，而電負(fù)性元素如O\OH\F\Cl\S\N\Br等在負(fù)離子模式產(chǎn)額高，如果組分有金屬氧化物，比如NiO, 那一定會在正離子模式產(chǎn)生Ni原子離子，以及NixOy的分子離子，而負(fù)離子模式一定有O原子離子，同時也有NixOy的分子離子，當(dāng)然在正離子模式下大多數(shù)情況 x>y, 負(fù)離子模式下x<y, 這個案例中也有NiOH這樣的離子，說明有可能有氫氧化物存在。
