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球差電鏡和高分辨電鏡的區(qū)別 二維碼
發(fā)表時(shí)間：2023-04-11 13:41作者：鑠思百檢測 球差電鏡和高分辨電鏡的區(qū)別？今天鑠思百檢測小編整理了相關(guān)知識點(diǎn)，希望能幫到大家。 透射電子顯微鏡是指可以看清分辨率達(dá)到納米級的物體精細(xì)結(jié)構(gòu)觀測儀器，而球差透射電鏡的球差是像差的一種，是影響TEM分辨率的主要原因之一。相比TEM透射電鏡，由于球差電鏡有效削減了像差所以分辨率得到顯著提高，分辨率的提高意味著能夠?qū)Σ牧线M(jìn)行更精細(xì)更準(zhǔn)確的結(jié)構(gòu)表征。
球差電鏡的原理 球差是像差的一種，是影響TEM分辨率的主要原因之一。由于像差（球差、像散、彗形像差和色差）的存在，無論是光學(xué)透鏡還是電磁透鏡，其透鏡系統(tǒng)都無法做到完美。光學(xué)透鏡中，可通過將凸透鏡和凹透鏡組合使用來減少由凸透鏡邊緣匯聚能力強(qiáng)中心匯聚能力弱所致的所有的光線(電子)無法匯聚到一個(gè)焦點(diǎn)的缺點(diǎn)，可對于電磁透鏡，我們沒有凹透鏡，球差便成了影響TEM分辨率最主要也最難解決的問題。 ACTEM的種類 TEM中包含多個(gè)磁透鏡：聚光鏡、物鏡、中間鏡和投影鏡等。球差是由于磁鏡的構(gòu)造不完美造成的，那么這些磁鏡組都會產(chǎn)生球差。當(dāng)我們矯正不同的磁透鏡就有了不同種類的ACTEM?；叵胍幌耂TEM的原理，當(dāng)我們使用STEM模式時(shí)，聚光鏡匯聚電子束掃描樣品成像，此時(shí)聚光鏡球差是影響分辨率的主要原因。 因此，以做STEM為主的TEM，球差校正裝置會安裝在聚光鏡位置，即為AC-STEM。而當(dāng)我們使用image模式時(shí)，影響成像分辨率的主要是物鏡的球差，此種校正器安裝在物鏡位置的即為AC-TEM。當(dāng)然也有在一臺TEM上安裝兩個(gè)校正器的，就是所謂的雙球差校正TEM。此外，由于校正器有電壓限制，因此不同的型號的ACTEM有其對應(yīng)的加速電壓。 球差電鏡和高分辨電鏡的區(qū)別？ 球差透射電鏡有TEM和STEM兩種成像模式，在TEM模式中更多地用于形貌的觀察，STEM模式常用于原子構(gòu)象以及進(jìn)行EDS，EELS成分線掃和mapping的測試，進(jìn)行元素分析。由于球差校正透射電子顯微鏡不僅具有亞埃級的空間分辨率，而且兼具多種實(shí)驗(yàn)功能，因此可以在原子尺度內(nèi)同時(shí)研究材料的晶體結(jié)構(gòu)和對應(yīng)的電子結(jié)構(gòu)特征，從而理解樣品的微觀晶體結(jié)構(gòu)與性能之間的關(guān)聯(lián)，是研究材料構(gòu)效關(guān)系的一種非常有效的手段，因而其在物理學(xué)、材料學(xué)和化學(xué)等學(xué)科領(lǐng)域具有非常廣泛的應(yīng)用。 雖然現(xiàn)在ACTEM和ACSTEM正在“大眾化”，但是并非一定要用這么高大上的裝備。如果你想觀察你的樣品的原子級結(jié)構(gòu)并希望知道原子的元素種類（例如納米晶體催化劑等），ACSTEM將會是比較好的選擇。如果你想觀察樣品的形貌和電子衍射圖案或者樣品在TEM中的原位反應(yīng)，那么物鏡校正的ACTEM將會是更好的選擇。 免責(zé)聲明：部分文章整合自網(wǎng)絡(luò)，因內(nèi)容龐雜無法聯(lián)系到全部作者，如有侵權(quán)，請聯(lián)系刪除，我們會在第一時(shí)間予以答復(fù)，萬分感謝。 溫馨提示 1、不定期推出各種優(yōu)惠活動，詳情咨詢客服。 2、測試前聯(lián)系在線客服確認(rèn)測試條件、檢測費(fèi)用、檢測周期等。 檢測咨詢熱線：15071040697 黃工QQ：82187958 公司網(wǎng)站：m.gzbj666.cn 武漢鑠思百檢測技術(shù)有限公司 做透射電鏡測試費(fèi)用多少錢？掃描下方二維碼獲取詳細(xì)報(bào)價(jià)
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