鑠思百檢測

DETECTION OF TECHNICAL SOUSEPAD

透射電子顯微鏡（TEM-EDS）掃描電子顯微鏡（FESEM-EDS）球差電鏡激光共聚焦顯微鏡（LSCM）原子力顯微鏡（AFM）電子探針儀（EPMA)金相顯微鏡電子背散射衍射儀（EBSD）臺階儀，膜厚儀，探針接觸式輪廓儀，3D輪廓儀工業(yè)CT白光干涉儀（非接觸式3D表面輪廓儀）電鏡測試FIB制樣離子減薄制樣冷凍超薄切片制樣樹脂包埋制樣（生物制樣）液氮脆斷制樣金網(wǎng)鉬網(wǎng)銅網(wǎng)超薄碳膜微柵制樣電鏡制樣X射線光電子能譜分析儀（XPS）紫外光電子能譜（UPS）俄歇電子能譜（AES）X射線衍射儀（XRD）X射線散射儀SAXS/WAXSX射線殘余應力分析儀X射線熒光光譜分析儀（XRF）電感耦合等離子體光譜儀（ICP-OES）紫外可見反射儀（DRS）拉曼光譜（RAMAN）紫外-可見分光光度計（UV）圓二色譜（CD）傅里葉變換紅外光譜分析儀（FTIR）吡啶紅外（DRIFTS）單晶衍射儀穆斯堡爾光譜儀穩(wěn)態(tài)瞬態(tài)熒光光譜分析儀（PL）原子吸收分光光度計原子熒光光度計（AFS)三維熒光 /熒光分光光度計紅外熱成像儀霧度儀旋光儀橢偏儀光譜測試電感耦合等離子體質(zhì)譜儀（ICP-MS）電噴霧離子化質(zhì)譜儀（ESI-MS）頂空-固相微萃取氣質(zhì)聯(lián)用儀（HS -SPME -GC -MS）二次離子質(zhì)譜（SIMS）基質(zhì)輔助激光解吸電離飛行時間質(zhì)譜儀（MALDI-TOF）裂解氣質(zhì)聯(lián)用儀（PY-GC-MS）氣質(zhì)聯(lián)用儀（GC-MS）同位素質(zhì)譜儀液質(zhì)聯(lián)用儀（LC-MS）質(zhì)譜測試差示掃描量熱儀（DSC）熱重分析儀（TGA）熱分析聯(lián)用儀（DSC-TGA）靜態(tài)/動態(tài)熱機械分析儀（TMA/DMA）熱重紅外聯(lián)用儀（TG-IR）熱重紅外質(zhì)譜聯(lián)用儀（TG-IR-MS）熱重紅外氣相質(zhì)譜聯(lián)用（TG-IR-GC-MS）紅外熱成像儀激光導熱儀錐形量熱儀（CONE)熱譜測試電子順磁共振波譜儀（EPR、ESR）固體核磁共振儀（NMR）液體核磁共振儀（NMR）微波網(wǎng)絡(luò)矢量分析儀/矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀核磁順磁波譜測試比表面及孔徑分析儀（BET）表面張力儀（界面張力儀）高壓吸附儀化學吸附儀（TPD TPR）接觸角測量儀納米壓痕儀壓汞儀（MIP）表界面物性測試氣相色譜儀（GC）高效液相色譜儀（HPLC）離子色譜儀（IC）凝膠色譜儀（GPC）液相色譜（LC）色譜測試電導率儀電化學工作站腐蝕測試儀介電常數(shù)測定儀卡爾費休水分測定儀自動電位滴定儀電化學儀器測試Zeta電位儀工業(yè)分析激光粒度儀流變儀密度測定儀納米粒度儀邵氏 維氏 洛氏硬度計有機鹵素分析儀（F，Cl，Br，I，At，Ts)有機元素分析儀（EA）粘度計振動樣品磁強計（VSM）土壤分析測試植物分析測試其他測試同步輻射GIWAXS GISAXS同步輻射XRD，PDF，SAXS同步輻射吸收譜-高能機時同步輻射吸收譜之軟X射線同步輻射吸收譜之硬X射線同步輻射聚焦離子束掃描電鏡（FIB-SEM）礦物定量分析系統(tǒng)MLA球差校正透射電子顯微鏡高端電鏡類原位XPS測試原位EBSD（in situ -EBSD)原位紅外原位掃描電子顯微鏡（in-situ-SEM)原位透射電子顯微鏡高端原位測試飛行時間二次離子質(zhì)譜儀（TOF-SIMS）輝光放電光譜（GD-OES MS）三維原子探針（APT）高端質(zhì)譜類Micro/Nano /工業(yè)CT飛秒瞬態(tài)吸收光譜儀（fs-TAS)掃描隧道顯微鏡深能級瞬態(tài)譜儀正電子湮滅壽命譜儀其他XPS數(shù)據(jù)分析XRD全巖黏土分析表面成分分析技術(shù)-XPS測試分析常規(guī)XRD數(shù)據(jù)分析成分指紋分析技術(shù)-紅外測試分析二維紅外光譜技術(shù)紅外（IR）數(shù)據(jù)分析拉曼數(shù)據(jù)分析三維熒光數(shù)據(jù)分析圓二色譜（CD）數(shù)據(jù)分析成分含量分析EPR/ESR數(shù)據(jù)分析VSM數(shù)據(jù)分析電化學數(shù)據(jù)分析矢量網(wǎng)絡(luò)數(shù)據(jù)分析電磁分析CT數(shù)據(jù)分析X射線吸收精細結(jié)構(gòu)普（XAFS）數(shù)據(jù)分析穆斯堡爾譜數(shù)據(jù)分析小角散射（SAXS/WAXS）數(shù)據(jù)分析高端測試分析固體核磁數(shù)據(jù)分析液體核磁（NMR）測試+分析一體化液體核磁（NMR）數(shù)據(jù)分析化學結(jié)構(gòu)分析EBSD數(shù)據(jù)分析TEM數(shù)據(jù)分析單晶XRD數(shù)據(jù)分析晶體結(jié)構(gòu)確證技術(shù)-XRD精修XRD定性定量分析晶體結(jié)構(gòu)分析BET數(shù)據(jù)分析其它數(shù)據(jù)分析需求熱分析數(shù)據(jù)處理數(shù)據(jù)分析作圖其他數(shù)據(jù)分析半導體激光器模擬發(fā)光二極管仿真光電探測器仿真太陽能電池仿真半導體器件仿真表面能差分密度磁矩單原子催化電荷密度電解水制氫反應（HER）費米面（fermi surface)電子局域化函數(shù)（electron localization function)第一性原理分子模擬量子化學相分析有限元模擬常規(guī)理化-水樣常規(guī)理化-土樣/沉積物常規(guī)理化-氣體常規(guī)理化-植物/蔬果/農(nóng)作物常規(guī)理化-食品常規(guī)理化-肥料/飼料常規(guī)理化-巖礦常規(guī)理化-垃圾常規(guī)理化-職業(yè)衛(wèi)生常規(guī)理化-其它常規(guī)理化項目纖維素、半纖維素、木質(zhì)素含量bcr形態(tài)順序提取/tessier五步提取法土壤水體抗生素微塑料微生物磷脂脂肪酸（PLFA）非標理化-其它非標理化項目穩(wěn)定同位素放射性同位素同位素-其它金屬同位素同位素多糖的單糖組成測定可溶性寡糖定量土壤氨基糖多糖全套分析多糖甲基化植物糖化學-常規(guī)指標糖化學液質(zhì)聯(lián)用LCMS高效液相色譜HPLC氣相色譜GC氣質(zhì)聯(lián)用GCMS全二維氣質(zhì)GC×GC-MS氣相色譜-離子遷移譜聯(lián)用儀（GC-IMS）液相色譜-原子熒光聯(lián)用（LC-AFS)制備型HPLC色譜質(zhì)譜數(shù)據(jù)分析液相色譜-電感耦合等離子體質(zhì)譜（LC-ICPMS）色譜質(zhì)譜DOM（FT- ICR- MS）水質(zhì)NOM(LC-OCD-OND)DOM（FT-ICR-MS）數(shù)據(jù)分析環(huán)境高端電池產(chǎn)品整體解決方案正極顆粒表面微觀形貌正極顆粒物截面形貌與元素三元正極顆粒循環(huán)前后晶界裂紋正極顆粒摻雜元素分布正極顆粒截面元素分布和晶格表征正極極片原位晶相分析正極極片截面元素分布和晶格表征正極表面CEI膜測試方法XPS正極極片截面微觀形貌觀察和元素分布正極極片CEI膜成分分析與厚度測定正極極片介電常數(shù)正極極片浸潤性正極極片包覆層觀察正極極片雜質(zhì)含量測定正極極片氧空位測定負極顆粒表面微觀形貌觀察和元素分布負極顆粒截面微觀形貌觀察和元素分布石墨類型判定負極顆粒粒徑分析負極極片孔洞分析負極顆粒包覆層觀察負極顆粒羥基含量測定負極極片包覆層觀察負極表面SEI膜分析XPS法負極極片SEI膜成分分析與厚度測定負極極片截面微觀形貌觀察和元素分布負極極片石墨碳和無定型碳比例隔膜表面微觀形貌觀察隔膜循環(huán)前后孔徑變化質(zhì)子交換膜形貌（厚度）觀察 CP+SEM質(zhì)子交換膜雜質(zhì)元素電池循環(huán)后鼓包氣電池循環(huán)后爆炸氣鋰電池極片和集流體間的粘結(jié)強度三元正極材料NCM比例燃料電池-整體解決方案電池產(chǎn)品-隔膜電池產(chǎn)品-優(yōu)勢項目正極材料-PH值正極材料-比表面積正極材料-磁性異物正極材料-化學成分正極材料-晶體結(jié)構(gòu)正極材料-粒徑分布正極材料-首次放電比容量及首次庫倫效率正極材料-水分含量正極材料-松裝密度正極材料-未知物分析正極材料-形貌，厚度與結(jié)構(gòu)正極材料-壓實密度正極材料-振實密度電池產(chǎn)品-正極材料負極材料-PH值負極材料-比表面積負極材料-層間距 石墨化度負極材料成分分析負極材料-磁性異物負極材料-粉末壓實密度負極材料-固定碳含量負極材料-化學成分負極材料-粒徑分布負極材料-石墨鑒定負極材料-水分負極材料-限用物質(zhì)含量負極材料-形貌與結(jié)構(gòu)負極材料-陰離子的測定負極材料-有機物含量負極材料-真密度負極材料-振實密度負極顆粒-石墨取向性（OI值）首次放電比容量及首次庫倫效率電池產(chǎn)品-負極材料電解液-電導率電解液-化學元素含量電解液-密度電解液-水分含量電解液-未知物分析電解液-游離酸（HF含量）電池產(chǎn)品-電解液電池產(chǎn)品-隔膜電池產(chǎn)品-隔膜
設(shè)為首頁 | 收藏本站

關(guān)于透射電鏡你了解多少？

 二維碼
發(fā)表時間：2023-04-24 16:25作者：鑠思百檢測

一、TEM透射電鏡基本原理

透射電子顯微鏡（Transmission Electron Microscope, 簡稱TEM），是一種把經(jīng)加速和聚集的電子束透射到非常薄的樣品上，電子與樣品中的原子碰撞而改變方向，從而產(chǎn)生立體角散射。散射角的大小與樣品的密度、厚度等相關(guān)，因此可以形成明暗不同的影像，影像在放大、聚焦后在成像器件（如熒光屏，膠片以及感光耦合組件）上顯示出來的顯微鏡。

電子束與樣品之間的相互作用圖



二、TEM透射電鏡系統(tǒng)組件

TEM系統(tǒng)由以下幾部分組成：
· 電子槍：發(fā)射電子。由陰極，柵極和陽極組成。陰極管發(fā)射的電子通過柵極上的小孔形成射線束，經(jīng)陽極電壓加速后射向聚光鏡，起到對電子束加速和加壓的作用。
· 聚光鏡：將電子束聚集得到平行光源。
· 樣品桿：裝載需觀察的樣品。
· 物鏡：聚焦成像，一次放大。
· 中間鏡：二次放大，并控制成像模式（圖像模式或者電子衍射模式）。
· 投影鏡：三次放大。
· 熒光屏：將電子信號轉(zhuǎn)化為可見光，供操作者觀察。

· CCD相機：電荷耦合元件，將光學影像轉(zhuǎn)化為數(shù)字信號。



三、TEM透射電鏡樣品制備

制樣要求：

在材料科學的研究中，TEM樣品制備在電子顯微學研究工作，起著至關(guān)重要的作用，是非常精細的技術(shù)工作。要想得到好的TEM結(jié)果,首先要制備出好的薄膜樣品，TEM樣品制備在電子顯微學研究中起著非常重要的作用。傳統(tǒng)的常規(guī)制備方法很多，例如:化學減薄、電解雙噴、解理、超薄切片、粉碎研磨、FIB聚焦離子束機械減薄、離子減薄，這些方法都能制備出較好的薄膜樣品。
目前新材料的發(fā)展日新月異，給樣品制備提出了更高的要求。樣品制備的發(fā)展方向應該是制備時間更短，電子穿透面積更大，薄區(qū)的厚度更薄，高度局域減薄。
TEM樣品類型：
·塊狀:用于普通微結(jié)構(gòu)研究
·平面:用于薄膜和表面附近微結(jié)構(gòu)研究
·橫截面樣品:均勻薄膜和界面的微結(jié)構(gòu)研究

·小塊物體:粉末、纖維、納米量級的材料


四、TEM透射電鏡應用

透射電子顯微鏡在材料科學、生物學上應用較多。由于電子易散射或被物體吸收，故穿透力低，樣品的密度、厚度等都會影響到最后的成像質(zhì)量，必須制備更薄的超薄切片，通常為50～100納米。所以用透射電子顯微鏡觀察時的樣品需要處理得很薄。常用的方法有：超薄切片法、冷凍超薄切片法、冷凍蝕刻法、冷凍斷裂法等。對于液體樣品，通常是掛預處理過的銅網(wǎng)上進行觀察。


溫馨提示

1、不定期推出各種優(yōu)惠活動，詳情咨詢客服。

2、測試前聯(lián)系在線客服確認測試條件、檢測費用、檢測周期等。

檢測咨詢熱線：15071040697  黃工QQ：82187958

公司網(wǎng)站：m.gzbj666.cn  武漢鑠思百檢測技術(shù)有限公司

做TEM測試費用多少錢？掃描下方二維碼獲取詳細報價


關(guān)注我們

長按識別下方二維碼領(lǐng)取報價單

圖片
在線客服
 
 
 工作時間
周一至周六 ：8:00-18:00
 聯(lián)系方式
客服-黃工：150 7104 0697
客服-劉工：18120219335
兴城市| 海南省| 汉源县| 永昌县| 昆山市| 清镇市| 嘉义市| 富阳市| 广饶县| 渭南市| 手游| 邯郸县| 乾安县| 景德镇市| 襄城县| 信宜市| 隆昌县| 琼海市| 武汉市| 随州市| 铅山县| 镇江市| 呼伦贝尔市| 新和县| 拉孜县| 揭西县| 郧西县| 大丰市| 台南县| 陕西省| 梧州市| 江山市| 宁河县| 苍溪县| 南康市| 大港区| 西昌市| 闽侯县| 阿拉善左旗| 邯郸县| 红河县|