鑠思百檢測(cè)

DETECTION OF TECHNICAL SOUSEPAD

透射電子顯微鏡(TEM-EDS)掃描電子顯微鏡(FESEM-EDS)球差電鏡激光共聚焦顯微鏡(LSCM)原子力顯微鏡(AFM)電子探針儀(EPMA)金相顯微鏡電子背散射衍射儀(EBSD)臺(tái)階儀,膜厚儀,探針接觸式輪廓儀,3D輪廓儀工業(yè)CT白光干涉儀(非接觸式3D表面輪廓儀)電鏡測(cè)試FIB制樣離子減薄制樣冷凍超薄切片制樣樹(shù)脂包埋制樣(生物制樣)液氮脆斷制樣金網(wǎng)鉬網(wǎng)銅網(wǎng)超薄碳膜微柵制樣電鏡制樣X射線(xiàn)光電子能譜分析儀(XPS)紫外光電子能譜(UPS)俄歇電子能譜(AES)X射線(xiàn)衍射儀(XRD)X射線(xiàn)散射儀SAXS/WAXSX射線(xiàn)殘余應(yīng)力分析儀X射線(xiàn)熒光光譜分析儀(XRF)電感耦合等離子體光譜儀(ICP-OES)紫外可見(jiàn)反射儀(DRS)拉曼光譜(RAMAN)紫外-可見(jiàn)分光光度計(jì)(UV)圓二色譜(CD)傅里葉變換紅外光譜分析儀(FTIR)吡啶紅外(DRIFTS)單晶衍射儀穆斯堡爾光譜儀穩(wěn)態(tài)瞬態(tài)熒光光譜分析儀(PL)原子吸收分光光度計(jì)原子熒光光度計(jì)(AFS)三維熒光 /熒光分光光度計(jì)紅外熱成像儀霧度儀旋光儀橢偏儀光譜測(cè)試電感耦合等離子體質(zhì)譜儀(ICP-MS)電噴霧離子化質(zhì)譜儀(ESI-MS)頂空-固相微萃取氣質(zhì)聯(lián)用儀(HS -SPME -GC -MS)二次離子質(zhì)譜(SIMS)基質(zhì)輔助激光解吸電離飛行時(shí)間質(zhì)譜儀(MALDI-TOF)裂解氣質(zhì)聯(lián)用儀(PY-GC-MS)氣質(zhì)聯(lián)用儀(GC-MS)同位素質(zhì)譜儀液質(zhì)聯(lián)用儀(LC-MS)質(zhì)譜測(cè)試差示掃描量熱儀(DSC)熱重分析儀(TGA)熱分析聯(lián)用儀(DSC-TGA)靜態(tài)/動(dòng)態(tài)熱機(jī)械分析儀(TMA/DMA)熱重紅外聯(lián)用儀(TG-IR)熱重紅外質(zhì)譜聯(lián)用儀(TG-IR-MS)熱重紅外氣相質(zhì)譜聯(lián)用(TG-IR-GC-MS)紅外熱成像儀激光導(dǎo)熱儀錐形量熱儀(CONE)熱譜測(cè)試電子順磁共振波譜儀(EPR、ESR)固體核磁共振儀(NMR)液體核磁共振儀(NMR)微波網(wǎng)絡(luò)矢量分析儀/矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀核磁順磁波譜測(cè)試比表面及孔徑分析儀(BET)表面張力儀(界面張力儀)高壓吸附儀化學(xué)吸附儀(TPD TPR)接觸角測(cè)量?jī)x納米壓痕儀壓汞儀(MIP)表界面物性測(cè)試氣相色譜儀(GC)高效液相色譜儀(HPLC)離子色譜儀(IC)凝膠色譜儀(GPC)液相色譜(LC)色譜測(cè)試電導(dǎo)率儀電化學(xué)工作站腐蝕測(cè)試儀介電常數(shù)測(cè)定儀卡爾費(fèi)休水分測(cè)定儀自動(dòng)電位滴定儀電化學(xué)儀器測(cè)試Zeta電位儀工業(yè)分析激光粒度儀流變儀密度測(cè)定儀納米粒度儀邵氏 維氏 洛氏硬度計(jì)有機(jī)鹵素分析儀(F,Cl,Br,I,At,Ts)有機(jī)元素分析儀(EA)粘度計(jì)振動(dòng)樣品磁強(qiáng)計(jì)(VSM)土壤分析測(cè)試植物分析測(cè)試其他測(cè)試同步輻射GIWAXS GISAXS同步輻射XRD,PDF,SAXS同步輻射吸收譜-高能機(jī)時(shí)同步輻射吸收譜之軟X射線(xiàn)同步輻射吸收譜之硬X射線(xiàn)同步輻射聚焦離子束掃描電鏡(FIB-SEM)礦物定量分析系統(tǒng)MLA球差校正透射電子顯微鏡高端電鏡類(lèi)原位XPS測(cè)試原位EBSD(in situ -EBSD)原位紅外原位掃描電子顯微鏡(in-situ-SEM)原位透射電子顯微鏡高端原位測(cè)試飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀(TOF-SIMS)輝光放電光譜(GD-OES MS)三維原子探針(APT)高端質(zhì)譜類(lèi)Micro/Nano /工業(yè)CT飛秒瞬態(tài)吸收光譜儀(fs-TAS)掃描隧道顯微鏡深能級(jí)瞬態(tài)譜儀正電子湮滅壽命譜儀其他XPS數(shù)據(jù)分析XRD全巖黏土分析表面成分分析技術(shù)-XPS測(cè)試分析常規(guī)XRD數(shù)據(jù)分析成分指紋分析技術(shù)-紅外測(cè)試分析二維紅外光譜技術(shù)紅外(IR)數(shù)據(jù)分析拉曼數(shù)據(jù)分析三維熒光數(shù)據(jù)分析圓二色譜(CD)數(shù)據(jù)分析成分含量分析EPR/ESR數(shù)據(jù)分析VSM數(shù)據(jù)分析電化學(xué)數(shù)據(jù)分析矢量網(wǎng)絡(luò)數(shù)據(jù)分析電磁分析CT數(shù)據(jù)分析X射線(xiàn)吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)普(XAFS)數(shù)據(jù)分析穆斯堡爾譜數(shù)據(jù)分析小角散射(SAXS/WAXS)數(shù)據(jù)分析高端測(cè)試分析固體核磁數(shù)據(jù)分析液體核磁(NMR)測(cè)試+分析一體化液體核磁(NMR)數(shù)據(jù)分析化學(xué)結(jié)構(gòu)分析EBSD數(shù)據(jù)分析TEM數(shù)據(jù)分析單晶XRD數(shù)據(jù)分析晶體結(jié)構(gòu)確證技術(shù)-XRD精修XRD定性定量分析晶體結(jié)構(gòu)分析BET數(shù)據(jù)分析其它數(shù)據(jù)分析需求熱分析數(shù)據(jù)處理數(shù)據(jù)分析作圖其他數(shù)據(jù)分析半導(dǎo)體激光器模擬發(fā)光二極管仿真光電探測(cè)器仿真太陽(yáng)能電池仿真半導(dǎo)體器件仿真表面能差分密度磁矩單原子催化電荷密度電解水制氫反應(yīng)(HER)費(fèi)米面(fermi surface)電子局域化函數(shù)(electron localization function)第一性原理分子模擬量子化學(xué)相分析有限元模擬常規(guī)理化-水樣常規(guī)理化-土樣/沉積物常規(guī)理化-氣體常規(guī)理化-植物/蔬果/農(nóng)作物常規(guī)理化-食品常規(guī)理化-肥料/飼料常規(guī)理化-巖礦常規(guī)理化-垃圾常規(guī)理化-職業(yè)衛(wèi)生常規(guī)理化-其它常規(guī)理化項(xiàng)目纖維素、半纖維素、木質(zhì)素含量bcr形態(tài)順序提取/tessier五步提取法土壤水體抗生素微塑料微生物磷脂脂肪酸(PLFA)非標(biāo)理化-其它非標(biāo)理化項(xiàng)目穩(wěn)定同位素放射性同位素同位素-其它金屬同位素同位素多糖的單糖組成測(cè)定可溶性寡糖定量土壤氨基糖多糖全套分析多糖甲基化植物糖化學(xué)-常規(guī)指標(biāo)糖化學(xué)液質(zhì)聯(lián)用LCMS高效液相色譜HPLC氣相色譜GC氣質(zhì)聯(lián)用GCMS全二維氣質(zhì)GC×GC-MS氣相色譜-離子遷移譜聯(lián)用儀(GC-IMS)液相色譜-原子熒光聯(lián)用(LC-AFS)制備型HPLC色譜質(zhì)譜數(shù)據(jù)分析液相色譜-電感耦合等離子體質(zhì)譜(LC-ICPMS)色譜質(zhì)譜DOM(FT- ICR- MS)水質(zhì)NOM(LC-OCD-OND)DOM(FT-ICR-MS)數(shù)據(jù)分析環(huán)境高端電池產(chǎn)品整體解決方案正極顆粒表面微觀形貌正極顆粒物截面形貌與元素三元正極顆粒循環(huán)前后晶界裂紋正極顆粒摻雜元素分布正極顆粒截面元素分布和晶格表征正極極片原位晶相分析正極極片截面元素分布和晶格表征正極表面CEI膜測(cè)試方法XPS正極極片截面微觀形貌觀察和元素分布正極極片CEI膜成分分析與厚度測(cè)定正極極片介電常數(shù)正極極片浸潤(rùn)性正極極片包覆層觀察正極極片雜質(zhì)含量測(cè)定正極極片氧空位測(cè)定負(fù)極顆粒表面微觀形貌觀察和元素分布負(fù)極顆粒截面微觀形貌觀察和元素分布石墨類(lèi)型判定負(fù)極顆粒粒徑分析負(fù)極極片孔洞分析負(fù)極顆粒包覆層觀察負(fù)極顆粒羥基含量測(cè)定負(fù)極極片包覆層觀察負(fù)極表面SEI膜分析XPS法負(fù)極極片SEI膜成分分析與厚度測(cè)定負(fù)極極片截面微觀形貌觀察和元素分布負(fù)極極片石墨碳和無(wú)定型碳比例隔膜表面微觀形貌觀察隔膜循環(huán)前后孔徑變化質(zhì)子交換膜形貌(厚度)觀察 CP+SEM質(zhì)子交換膜雜質(zhì)元素電池循環(huán)后鼓包氣電池循環(huán)后爆炸氣鋰電池極片和集流體間的粘結(jié)強(qiáng)度三元正極材料NCM比例燃料電池-整體解決方案電池產(chǎn)品-隔膜電池產(chǎn)品-優(yōu)勢(shì)項(xiàng)目正極材料-PH值正極材料-比表面積正極材料-磁性異物正極材料-化學(xué)成分正極材料-晶體結(jié)構(gòu)正極材料-粒徑分布正極材料-首次放電比容量及首次庫(kù)倫效率正極材料-水分含量正極材料-松裝密度正極材料-未知物分析正極材料-形貌,厚度與結(jié)構(gòu)正極材料-壓實(shí)密度正極材料-振實(shí)密度電池產(chǎn)品-正極材料負(fù)極材料-PH值負(fù)極材料-比表面積負(fù)極材料-層間距 石墨化度負(fù)極材料成分分析負(fù)極材料-磁性異物負(fù)極材料-粉末壓實(shí)密度負(fù)極材料-固定碳含量負(fù)極材料-化學(xué)成分負(fù)極材料-粒徑分布負(fù)極材料-石墨鑒定負(fù)極材料-水分負(fù)極材料-限用物質(zhì)含量負(fù)極材料-形貌與結(jié)構(gòu)負(fù)極材料-陰離子的測(cè)定負(fù)極材料-有機(jī)物含量負(fù)極材料-真密度負(fù)極材料-振實(shí)密度負(fù)極顆粒-石墨取向性(OI值)首次放電比容量及首次庫(kù)倫效率電池產(chǎn)品-負(fù)極材料電解液-電導(dǎo)率電解液-化學(xué)元素含量電解液-密度電解液-水分含量電解液-未知物分析電解液-游離酸(HF含量)電池產(chǎn)品-電解液電池產(chǎn)品-隔膜電池產(chǎn)品-隔膜
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瞬態(tài)吸收光譜

 二維碼
發(fā)表時(shí)間:2023-07-03 16:52作者:鑠思百檢測(cè)

簡(jiǎn)介及原理

瞬態(tài)吸收(Transient Absorption),首先是一種時(shí)間分辨技術(shù),其次它是吸收光譜;最早誕生于光化學(xué)領(lǐng)域,用于測(cè)量光化學(xué)反應(yīng)的過(guò)渡態(tài),最初被命名為“閃光解”,顧名思義,就是用一束單色脈沖光,泵浦樣品,脈沖光在瞬間釋放高能量,將分子或原子能級(jí)從基態(tài)提升到激發(fā)態(tài),這一過(guò)程有點(diǎn)像個(gè)水泵,因此形象的稱(chēng)之為泵浦 (Pump),同時(shí)用另一束寬帶白光照射樣品,這束光像個(gè)探針(Probe)一樣,探測(cè)樣品被脈沖光激發(fā)過(guò)程中光吸收發(fā)生的變化,因此瞬態(tài)吸收也被成為“泵浦-探測(cè)”(Pump-Probe)。

不同于穩(wěn)態(tài)吸收光譜,瞬態(tài)吸收光譜的信號(hào)AA(A)既有正信號(hào)也有負(fù)信號(hào),有時(shí)還會(huì)出現(xiàn)信號(hào)由正信號(hào)轉(zhuǎn)為負(fù)信號(hào)或者信號(hào)從負(fù)信號(hào)慢慢轉(zhuǎn)為正信號(hào)。以分子體系為例,通常信號(hào)主要來(lái)自于三種貢獻(xiàn):激發(fā)態(tài)吸收信號(hào)(ESA)基態(tài)漂白信號(hào)(GSB)受激發(fā)射信號(hào)(SE)。

瞬態(tài)測(cè)量系統(tǒng)組成

組成主要包括:

飛秒鈦寶石激光系統(tǒng)

飛秒鈦寶石激光系統(tǒng),輸出中心波長(zhǎng)在700-1080 nm間可調(diào)節(jié)。

光參量放大器

光參量放大器主要用來(lái)產(chǎn)生波長(zhǎng)可調(diào)的泵浦光,泵浦光的波長(zhǎng)調(diào)節(jié)范圍為240 nm -2600 nm。

瞬態(tài)光譜儀

瞬態(tài)光譜儀包括機(jī)械光學(xué)延遲產(chǎn)生平臺(tái)、鈦寶石窗口、斬波器和檢測(cè)器等,其中檢測(cè)器由單色儀和CMOS相機(jī)組成。

一束飛秒脈沖激光被分束片分成兩束,其中,能量較強(qiáng)的一束作為泵浦光照射待測(cè)樣品,使得待測(cè)樣品的基態(tài)分子被激發(fā)到激發(fā)態(tài),用另一束能量較弱的飛秒脈沖激光與特定物質(zhì)相互作用,產(chǎn)生超連續(xù)白光,作為探測(cè)光去照射待測(cè)樣品,通過(guò)調(diào)控電動(dòng)的數(shù)控平移臺(tái),使泵浦光和探測(cè)光存在一定的延時(shí),使兩束光照射到待測(cè)樣品的時(shí)間不一樣,分別測(cè)量有泵浦光照射時(shí)和沒(méi)有泵浦光照射時(shí)待測(cè)樣品對(duì)探測(cè)光的吸收情況,就可以得到樣品的差分吸收譜。

隨著泵浦光和探測(cè)光之間延時(shí)的連續(xù)變化,接收到的透過(guò)待測(cè)樣品的探測(cè)光的信號(hào)強(qiáng)弱會(huì)隨之變化,這說(shuō)明在激發(fā)態(tài)上的粒子數(shù)發(fā)生了變化,這樣,我們就得到了待測(cè)樣品的激發(fā)態(tài)衰退動(dòng)力學(xué)信息。

數(shù)據(jù)處理

通常激子壽命及躍遷速率可由對(duì)單檢測(cè)波長(zhǎng)處吸收差值與延遲時(shí)間的指數(shù)函數(shù)擬合或?qū)θS圖進(jìn)行基于特定模型的全局擬合得出。實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)通常由多指數(shù)函數(shù)衰減解卷積擬合而得,擬合過(guò)程中考慮儀器響應(yīng)函數(shù)(IRF:B(t-t0),t0 為中點(diǎn)坐標(biāo))。

DA(t) 是延遲時(shí)間t對(duì)應(yīng)的瞬態(tài)吸收差值,DAi;是衰減時(shí)間參量ti的振幅,DA0是長(zhǎng)衰減時(shí)間組分的相對(duì)偏移,而儀器響應(yīng)函數(shù)是由高斯公式擬合的最大值的半寬高所得。

近年來(lái)基于三維數(shù)據(jù)的全局?jǐn)M合變得更加炙手可熱,因?yàn)槿謹(jǐn)M合可以清楚分離出不同來(lái)源的激發(fā)態(tài)吸收譜圖和相對(duì)應(yīng)不同能級(jí)的壽命,在一定程度上實(shí)現(xiàn)了對(duì)數(shù)據(jù)的統(tǒng)計(jì)分析,此外,每年基于全局?jǐn)M合的軟件開(kāi)發(fā)也都在推陳出新。

應(yīng)用

飛秒瞬態(tài)吸收光譜是一種最常見(jiàn)的時(shí)間分辨光譜,通過(guò)對(duì)飛秒瞬態(tài)吸收光譜的分析,我們能夠得到基態(tài)漂白、受激發(fā)射和激發(fā)態(tài)吸收等豐富的光物理信息,能反映出處于激發(fā)態(tài)的樣品后續(xù)的光物理和光化學(xué)馳豫過(guò)程,同時(shí)也能夠反映同能態(tài)粒子數(shù)隨延遲時(shí)間的變化。因此,飛秒瞬態(tài)吸收光譜是研究物質(zhì)激發(fā)態(tài)動(dòng)力學(xué)等光物理特性的重要手段,廣泛應(yīng)用于功能材料的光物理過(guò)程的探測(cè)研究。

瞬態(tài)吸收對(duì)于研究染料敏化太陽(yáng)能電池、非線(xiàn)性光吸收、半導(dǎo)體材料的載流子遷移、單碳納米管的自由載流子、有機(jī)光電材料的基本機(jī)理有著不可替代的作用。

瞬態(tài)吸收在無(wú)機(jī)半導(dǎo)體微納體系中的應(yīng)用

無(wú)機(jī)半導(dǎo)體微納體系發(fā)展到現(xiàn)在,已經(jīng)從單一的形貌性能研究過(guò)渡到機(jī)理和原理研究的層面,因此采取瞬態(tài)吸收光譜的方法去仔細(xì)研究半導(dǎo)體吸收光后的能量轉(zhuǎn)移和電荷轉(zhuǎn)移過(guò)程,對(duì)于我們進(jìn)一步設(shè)計(jì)和提高材料的性能意義重大。以光催化體系為例。在半導(dǎo)體光催化材料體相吸收光子之后會(huì)很快的形成電子-空穴對(duì),這些電子空穴對(duì)之后會(huì)解離成自由的電子和空穴然后運(yùn)動(dòng)到半導(dǎo)體的表面發(fā)生各種氧化還原反應(yīng)。

在運(yùn)動(dòng)的過(guò)程中,很多電子和空穴出現(xiàn)了復(fù)合,大大降低了載流子的利用效率。因此在設(shè)計(jì)材料時(shí),載流子的弛豫過(guò)程、捕獲過(guò)程、轉(zhuǎn)移過(guò)程和復(fù)合過(guò)程對(duì)于材料的性能發(fā)揮起了至關(guān)重要的作用。為了提高材料的光催化性能,我們一方面要盡量減少電子空穴對(duì)的復(fù)合,另一方面也要加快電子空穴對(duì)的轉(zhuǎn)移過(guò)程。由于半導(dǎo)體內(nèi)的電荷轉(zhuǎn)移或能量轉(zhuǎn)移一般都在飛秒和皮秒量級(jí),因此采用飛秒超快光譜來(lái)實(shí)時(shí)研究半導(dǎo)體的載流子弛豫過(guò)程是目前為止最好的手段之一。

參考文獻(xiàn):

陳宗威. 無(wú)機(jī)半導(dǎo)體光催化微納體系的飛秒瞬態(tài)吸收光譜研究[D]. 中國(guó)科學(xué)技術(shù)大學(xué), 2017.

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