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tem可以測薄膜樣品嗎 二維碼
發(fā)表時間：2023-08-21 14:01作者：鑠思百檢測 TEM可以測薄膜樣品嗎？TEM是可以測薄膜樣品的。 今天鑠思百檢測小編帶大家來詳細(xì)了解多種TEM制樣方法。 透射電子顯微鏡（Transmission electron microscope, TEM）是使用最為廣泛的電子顯微鏡之一，和掃描電子顯微技術(shù)共同組成了電子顯微學(xué)的“兩大支柱”。TEM測試原理采用通過試樣電子成像并分析其結(jié)構(gòu)，因電子穿透能力弱，試樣厚度，導(dǎo)電性，磁性及分散性等性質(zhì)直接影響測試結(jié)果。所以，透射電鏡制樣比掃描電鏡制樣要復(fù)雜、精細(xì)得多，對不同材料應(yīng)按其性質(zhì)而采取適當(dāng)方法。 TEM測試的載樣工具介紹 TEM常用的載樣工具制成桿狀，稱樣品桿，針對不同的測試需求有不同的樣品桿（圖1），樣品搭載在支撐網(wǎng)（通常是銅網(wǎng)）里并放在樣品桿前端，每個樣品桿最多只能放1~2個銅網(wǎng)。采用樣品桿載樣具有載樣工具體積小，占用空間亦少，可布置于物鏡內(nèi)上部，利于電鏡分辨率提高等優(yōu)點。缺點是無法一次投入過多的樣品網(wǎng)，換樣時必須打破一次樣品室內(nèi)真空，且效率低下。
圖1 TEM樣品桿 【圖片來自網(wǎng)絡(luò)】 支撐網(wǎng)主要有超薄碳膜、微柵銅網(wǎng)、純碳膜、雙聯(lián)載網(wǎng)支持膜等，金屬支撐網(wǎng)的材質(zhì)有多種，如Cu、Ni、Be、尼龍等，選擇時要注意選擇成分有別于待分析樣品的支撐網(wǎng)。 TEM樣品要求 TEM的放大倍數(shù)高、觀測范圍有限、敏感度高，因此為了獲得清晰、準(zhǔn)確、穩(wěn)定的信號，對TEM的樣品要求也很高。 TEM的樣品種類分為粉末試樣、薄膜試樣、表面復(fù)型和萃取復(fù)型。 ①粉末式樣：主要用于粉末材料的形貌觀察、顆粒度的測定及結(jié)構(gòu)與成分分析等； ②薄膜試樣：樣品內(nèi)部的組織、結(jié)構(gòu)、成分、位錯組態(tài)和密度、相取向關(guān)系等； ③表面復(fù)型和萃取復(fù)型：金相組織觀察、斷口形貌、形變條紋、第二相形態(tài)、分布和結(jié)構(gòu)等。一般而言，TEM的樣品要求如下：樣品一般應(yīng)為厚度小于100 nm的固體；樣品在電鏡電磁場作用下不會被吸出，附于極靴上；樣品在高真空中能保持穩(wěn)定； ④ 不含有水分或其它易揮發(fā)物，如果含有水分或其他易揮發(fā)物的試樣應(yīng)先烘干。 TEM測試注意事項 1，粉體、液體、可測試，薄膜或塊狀樣品不能直接拍攝，需另行制樣（如離子減薄、包埋切片、FIB等）； 2，樣品的厚度不超過100nm，如果顆粒稍大一點，可適當(dāng)研磨至100nm以下（可先拍SEM判定顆粒大?。?/p> 3，一般制樣選微柵銅網(wǎng)即可，如果顆粒直徑小于10nm用超薄碳膜制樣；樣品含Cu，需要拍EDS能譜和mapping可選鎳網(wǎng)或者鉬網(wǎng)等；
-END- 以上就是鑠思百檢測平臺對"TEM可以測薄膜樣品的介紹"如有測試需求，可以和鑠思百檢測聯(lián)系，我們會給與您最準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)和最好的服務(wù)體驗，希望可以在大家的科研路上有所幫助。 溫馨提示 1、不定期推出各種優(yōu)惠活動，詳情咨詢客服。 2、測試前聯(lián)系在線客服確認(rèn)測試條件、檢測費用、檢測周期等。 檢測咨詢熱線：15071040697 黃工QQ：82187958 公司網(wǎng)站：m.gzbj666.cn 武漢鑠思百檢測技術(shù)有限公司 做TEM測試一個樣品多少錢？掃描下方二維碼獲取詳細(xì)報價
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