sem截面制樣方法匯總 二維碼
發(fā)表時(shí)間:2023-08-25 14:22作者:鑠思百檢測(cè) SEM拍樣品截面需注意哪些?如何制樣?
對(duì)于高分子聚合物,有一定塑性和韌性,該法則不可取,可使用以下方法: SEM拍攝的顆粒的邊界不清晰,比較渾濁,是什么原因呢? (1)首先可能是樣品的導(dǎo)電性的問(wèn)題; SEM和TEM的EDS區(qū)別? 不管透射電鏡還是掃描電鏡,EDS的原理是一樣的,只是透射電鏡的電子束能聚的更小,探測(cè)的區(qū)域也更小,一般能到幾納米的量級(jí),而掃描則沒(méi)這么好(不過(guò)好的場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡也能夠達(dá)到10納米)。如果選擇的倍數(shù)差不多,不同的EDS數(shù)據(jù)肯定具有可比性。如果倍數(shù)差太多,就是大塊區(qū)域和微區(qū)的差別了。當(dāng)然如果材料很均勻,也就沒(méi)關(guān)系了。 |