AFM測(cè)試常見(jiàn)問(wèn)題及解答（一）

1   AFM接觸模式，掃描范圍越大，對(duì)針損壞越大嗎？

答：掃描范圍大的情況下考慮表面出現(xiàn)較高起伏顆粒會(huì)對(duì)探針造成磨損，另外掃描范圍很大時(shí)，接近掃描最大范圍93微米時(shí)會(huì)對(duì)掃描管造成損傷。

2   什么時(shí)候才會(huì)考慮調(diào)節(jié) I gain/P gain/setpoint這些參數(shù)?

答：setpoint與力有關(guān)，接觸模式和峰值力輕敲模式下setpoint與力成正比關(guān)系，如果探針接觸不到表面出現(xiàn)形貌差異較大時(shí)需要增大setpoint，輕敲模式力與setpoint成拋物線關(guān)系，I gain在每次成像時(shí)都需要調(diào)節(jié)，先慢慢增大至誤差通道出現(xiàn)噪聲震蕩時(shí)回調(diào)I gain值至震蕩消失為最佳，調(diào)節(jié)好I gain后將P gain設(shè)置為I gain的2倍。

3   接觸共振模式測(cè)粘性，振幅只與粘度有關(guān)嗎？quality factor 只與粘性有關(guān)（正相關(guān)）嗎？

答：是的，quality factor只與粘性正相關(guān)。

4   AFM可以像STM那樣看到原子級(jí)尺度（納米）的形貌嗎？

答：可以，一般在液下測(cè)量原子相。

5   測(cè)量?jī)上嘀g電勢(shì)差采用KPFM模式還是PFM模式？

答：采用KPFM模式。

8   setpoin是加在壓電陶瓷上的直流偏壓?jiǎn)幔?/strong>

答：setpoint只是一個(gè)設(shè)定值，并不是直接加在陶瓷片上的直流偏壓。

9   AFM可以在平臺(tái)上加偏壓?jiǎn)?？如果能一般能加到多大?/strong>

答：可以加在樣品臺(tái)上，最大可以加到10000 mV。

10   黏附力測(cè)試沒(méi)有那么平滑怎么辦？

答：可能是測(cè)試時(shí)外界噪聲影響，建議測(cè)試時(shí)減小ramp頻率，后期可以通過(guò)軟件將曲線適當(dāng)平滑處理。

11   樣品盤找不到鏡頭已經(jīng)降到最底下了怎么辦？

答：考慮顯微鏡聚焦沒(méi)調(diào)節(jié)好，一般在倒影相調(diào)好樣品虛像后再切換到sample相繼續(xù)往下聚焦至樣品實(shí)像。

12   片層兩邊黑是假象，怎么去掉？

答：片層兩邊黑是由于起伏對(duì)比度的差異，可以采用plane fit一階拉平的方式，注意框選同一個(gè)面上的點(diǎn)。