鑠思百檢測

DETECTION OF TECHNICAL SOUSEPAD

透射電子顯微鏡(TEM-EDS)掃描電子顯微鏡(FESEM-EDS)球差電鏡激光共聚焦顯微鏡(LSCM)原子力顯微鏡(AFM)電子探針儀(EPMA)金相顯微鏡電子背散射衍射儀(EBSD)臺階儀,膜厚儀,探針接觸式輪廓儀,3D輪廓儀工業(yè)CT白光干涉儀(非接觸式3D表面輪廓儀)電鏡測試FIB制樣離子減薄制樣冷凍超薄切片制樣樹脂包埋制樣(生物制樣)液氮脆斷制樣金網(wǎng)鉬網(wǎng)銅網(wǎng)超薄碳膜微柵制樣電鏡制樣X射線光電子能譜分析儀(XPS)紫外光電子能譜(UPS)俄歇電子能譜(AES)X射線衍射儀(XRD)X射線散射儀SAXS/WAXSX射線殘余應(yīng)力分析儀X射線熒光光譜分析儀(XRF)電感耦合等離子體光譜儀(ICP-OES)紫外可見反射儀(DRS)拉曼光譜(RAMAN)紫外-可見分光光度計(UV)圓二色譜(CD)傅里葉變換紅外光譜分析儀(FTIR)吡啶紅外(DRIFTS)單晶衍射儀穆斯堡爾光譜儀穩(wěn)態(tài)瞬態(tài)熒光光譜分析儀(PL)原子吸收分光光度計原子熒光光度計(AFS)三維熒光 /熒光分光光度計紅外熱成像儀霧度儀旋光儀橢偏儀光譜測試電感耦合等離子體質(zhì)譜儀(ICP-MS)電噴霧離子化質(zhì)譜儀(ESI-MS)頂空-固相微萃取氣質(zhì)聯(lián)用儀(HS -SPME -GC -MS)二次離子質(zhì)譜(SIMS)基質(zhì)輔助激光解吸電離飛行時間質(zhì)譜儀(MALDI-TOF)裂解氣質(zhì)聯(lián)用儀(PY-GC-MS)氣質(zhì)聯(lián)用儀(GC-MS)同位素質(zhì)譜儀液質(zhì)聯(lián)用儀(LC-MS)質(zhì)譜測試差示掃描量熱儀(DSC)熱重分析儀(TGA)熱分析聯(lián)用儀(DSC-TGA)靜態(tài)/動態(tài)熱機械分析儀(TMA/DMA)熱重紅外聯(lián)用儀(TG-IR)熱重紅外質(zhì)譜聯(lián)用儀(TG-IR-MS)熱重紅外氣相質(zhì)譜聯(lián)用(TG-IR-GC-MS)紅外熱成像儀激光導(dǎo)熱儀錐形量熱儀(CONE)熱譜測試電子順磁共振波譜儀(EPR、ESR)固體核磁共振儀(NMR)液體核磁共振儀(NMR)微波網(wǎng)絡(luò)矢量分析儀/矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀核磁順磁波譜測試比表面及孔徑分析儀(BET)表面張力儀(界面張力儀)高壓吸附儀化學(xué)吸附儀(TPD TPR)接觸角測量儀納米壓痕儀壓汞儀(MIP)表界面物性測試氣相色譜儀(GC)高效液相色譜儀(HPLC)離子色譜儀(IC)凝膠色譜儀(GPC)液相色譜(LC)色譜測試電導(dǎo)率儀電化學(xué)工作站腐蝕測試儀介電常數(shù)測定儀卡爾費休水分測定儀自動電位滴定儀電化學(xué)儀器測試Zeta電位儀工業(yè)分析激光粒度儀流變儀密度測定儀納米粒度儀邵氏 維氏 洛氏硬度計有機鹵素分析儀(F,Cl,Br,I,At,Ts)有機元素分析儀(EA)粘度計振動樣品磁強計(VSM)土壤分析測試植物分析測試其他測試同步輻射GIWAXS GISAXS同步輻射XRD,PDF,SAXS同步輻射吸收譜-高能機時同步輻射吸收譜之軟X射線同步輻射吸收譜之硬X射線同步輻射聚焦離子束掃描電鏡(FIB-SEM)礦物定量分析系統(tǒng)MLA球差校正透射電子顯微鏡高端電鏡類原位XPS測試原位EBSD(in situ -EBSD)原位紅外原位掃描電子顯微鏡(in-situ-SEM)原位透射電子顯微鏡高端原位測試飛行時間二次離子質(zhì)譜儀(TOF-SIMS)輝光放電光譜(GD-OES MS)三維原子探針(APT)高端質(zhì)譜類Micro/Nano /工業(yè)CT飛秒瞬態(tài)吸收光譜儀(fs-TAS)掃描隧道顯微鏡深能級瞬態(tài)譜儀正電子湮滅壽命譜儀其他XPS數(shù)據(jù)分析XRD全巖黏土分析表面成分分析技術(shù)-XPS測試分析常規(guī)XRD數(shù)據(jù)分析成分指紋分析技術(shù)-紅外測試分析二維紅外光譜技術(shù)紅外(IR)數(shù)據(jù)分析拉曼數(shù)據(jù)分析三維熒光數(shù)據(jù)分析圓二色譜(CD)數(shù)據(jù)分析成分含量分析EPR/ESR數(shù)據(jù)分析VSM數(shù)據(jù)分析電化學(xué)數(shù)據(jù)分析矢量網(wǎng)絡(luò)數(shù)據(jù)分析電磁分析CT數(shù)據(jù)分析X射線吸收精細結(jié)構(gòu)普(XAFS)數(shù)據(jù)分析穆斯堡爾譜數(shù)據(jù)分析小角散射(SAXS/WAXS)數(shù)據(jù)分析高端測試分析固體核磁數(shù)據(jù)分析液體核磁(NMR)測試+分析一體化液體核磁(NMR)數(shù)據(jù)分析化學(xué)結(jié)構(gòu)分析EBSD數(shù)據(jù)分析TEM數(shù)據(jù)分析單晶XRD數(shù)據(jù)分析晶體結(jié)構(gòu)確證技術(shù)-XRD精修XRD定性定量分析晶體結(jié)構(gòu)分析BET數(shù)據(jù)分析其它數(shù)據(jù)分析需求熱分析數(shù)據(jù)處理數(shù)據(jù)分析作圖其他數(shù)據(jù)分析半導(dǎo)體激光器模擬發(fā)光二極管仿真光電探測器仿真太陽能電池仿真半導(dǎo)體器件仿真表面能差分密度磁矩單原子催化電荷密度電解水制氫反應(yīng)(HER)費米面(fermi surface)電子局域化函數(shù)(electron localization function)第一性原理分子模擬量子化學(xué)相分析有限元模擬常規(guī)理化-水樣常規(guī)理化-土樣/沉積物常規(guī)理化-氣體常規(guī)理化-植物/蔬果/農(nóng)作物常規(guī)理化-食品常規(guī)理化-肥料/飼料常規(guī)理化-巖礦常規(guī)理化-垃圾常規(guī)理化-職業(yè)衛(wèi)生常規(guī)理化-其它常規(guī)理化項目纖維素、半纖維素、木質(zhì)素含量bcr形態(tài)順序提取/tessier五步提取法土壤水體抗生素微塑料微生物磷脂脂肪酸(PLFA)非標(biāo)理化-其它非標(biāo)理化項目穩(wěn)定同位素放射性同位素同位素-其它金屬同位素同位素多糖的單糖組成測定可溶性寡糖定量土壤氨基糖多糖全套分析多糖甲基化植物糖化學(xué)-常規(guī)指標(biāo)糖化學(xué)液質(zhì)聯(lián)用LCMS高效液相色譜HPLC氣相色譜GC氣質(zhì)聯(lián)用GCMS全二維氣質(zhì)GC×GC-MS氣相色譜-離子遷移譜聯(lián)用儀(GC-IMS)液相色譜-原子熒光聯(lián)用(LC-AFS)制備型HPLC色譜質(zhì)譜數(shù)據(jù)分析液相色譜-電感耦合等離子體質(zhì)譜(LC-ICPMS)色譜質(zhì)譜DOM(FT- ICR- MS)水質(zhì)NOM(LC-OCD-OND)DOM(FT-ICR-MS)數(shù)據(jù)分析環(huán)境高端電池產(chǎn)品整體解決方案正極顆粒表面微觀形貌正極顆粒物截面形貌與元素三元正極顆粒循環(huán)前后晶界裂紋正極顆粒摻雜元素分布正極顆粒截面元素分布和晶格表征正極極片原位晶相分析正極極片截面元素分布和晶格表征正極表面CEI膜測試方法XPS正極極片截面微觀形貌觀察和元素分布正極極片CEI膜成分分析與厚度測定正極極片介電常數(shù)正極極片浸潤性正極極片包覆層觀察正極極片雜質(zhì)含量測定正極極片氧空位測定負極顆粒表面微觀形貌觀察和元素分布負極顆粒截面微觀形貌觀察和元素分布石墨類型判定負極顆粒粒徑分析負極極片孔洞分析負極顆粒包覆層觀察負極顆粒羥基含量測定負極極片包覆層觀察負極表面SEI膜分析XPS法負極極片SEI膜成分分析與厚度測定負極極片截面微觀形貌觀察和元素分布負極極片石墨碳和無定型碳比例隔膜表面微觀形貌觀察隔膜循環(huán)前后孔徑變化質(zhì)子交換膜形貌(厚度)觀察 CP+SEM質(zhì)子交換膜雜質(zhì)元素電池循環(huán)后鼓包氣電池循環(huán)后爆炸氣鋰電池極片和集流體間的粘結(jié)強度三元正極材料NCM比例燃料電池-整體解決方案電池產(chǎn)品-隔膜電池產(chǎn)品-優(yōu)勢項目正極材料-PH值正極材料-比表面積正極材料-磁性異物正極材料-化學(xué)成分正極材料-晶體結(jié)構(gòu)正極材料-粒徑分布正極材料-首次放電比容量及首次庫倫效率正極材料-水分含量正極材料-松裝密度正極材料-未知物分析正極材料-形貌,厚度與結(jié)構(gòu)正極材料-壓實密度正極材料-振實密度電池產(chǎn)品-正極材料負極材料-PH值負極材料-比表面積負極材料-層間距 石墨化度負極材料成分分析負極材料-磁性異物負極材料-粉末壓實密度負極材料-固定碳含量負極材料-化學(xué)成分負極材料-粒徑分布負極材料-石墨鑒定負極材料-水分負極材料-限用物質(zhì)含量負極材料-形貌與結(jié)構(gòu)負極材料-陰離子的測定負極材料-有機物含量負極材料-真密度負極材料-振實密度負極顆粒-石墨取向性(OI值)首次放電比容量及首次庫倫效率電池產(chǎn)品-負極材料電解液-電導(dǎo)率電解液-化學(xué)元素含量電解液-密度電解液-水分含量電解液-未知物分析電解液-游離酸(HF含量)電池產(chǎn)品-電解液電池產(chǎn)品-隔膜電池產(chǎn)品-隔膜
設(shè)為首頁 | 收藏本站

紫外可見漫反射光譜圖解析

 二維碼
發(fā)表時間:2024-01-10 13:28

一、紫外可見光譜的基本原理

光的本質(zhì)是一種電磁波,光的波長越短、頻率越高,其能量越大。根據(jù)光波長的長短,可將光劃分為不同區(qū)域,如圖1。

光子是光的能量載體。光譜則是描述某種特定光的波長(單個光子能量)和強度(光子的密度)之間的關(guān)系的圖譜。

圖1光波區(qū)域劃分

紫外可見吸收/漫反射光譜,常簡稱為紫外可見光譜。紫外可見光譜法是利用物質(zhì)對光的選擇性吸收、透射或反射的特性,從而測定、分析、推斷物質(zhì)的組成、含量及結(jié)構(gòu)。由于遠紫外區(qū)域的測試條件嚴苛,儀器復(fù)雜,因此一般不用此波段光進行測量?,F(xiàn)在主流的儀器基本都可實現(xiàn)波長范圍覆蓋近紫外、可見、近紅外、中紅外光區(qū)的測試,并盡可能降低在近紅外、中紅外光區(qū)的噪音。在實際應(yīng)用中,更多的材料還是測試波長200-800 nm范圍(包含紫外-可見區(qū)域)。

二、紫外可見光譜常見概念和應(yīng)用


1、透光率(T%):

一束單色光通過樣品后,入射光光強I0減弱為I,則透光率:T = I/I0,或用百分透光率表示:T% = I/I0 x 100%。

透光率的表示方法有T%、Transmittance%、Transmission%。

2、吸光度(A)

A = log (I0/I),吸光度和透過率的轉(zhuǎn)換公式是A = -logT。根據(jù)定義,吸光度數(shù)值可大于1,且當(dāng)T趨于0時,A趨于∞,如圖2。實際檢測器是有響應(yīng)范圍的。

吸光度的表示方法有A、Abs、Absorbance、Absorption。

圖2 透過率和吸光度的轉(zhuǎn)換

3、反射率(R%):

鏡面反射:反射角等于入射角,光不被吸收。鏡面反射只發(fā)生在表面顆粒的表層,未與樣品內(nèi)部發(fā)生作用,因此它沒有負載樣品內(nèi)層的結(jié)構(gòu)和組成的信息。

漫反射:光進入樣品內(nèi)部,經(jīng)過多次反射、折射、散射及吸收后返回樣品表面的光。漫反射光是分析與樣品內(nèi)部分子發(fā)生作用以后的光,攜帶有豐富的樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)和組織信息。

總反射:鏡面發(fā)射+漫反射,粉末樣品的鏡面反射很低,但在一些特定的,如光學(xué)涂層、光學(xué)鍍膜等材料時就要考慮鏡面反射的影響和測定。


圖3 鏡面反射和漫反射

總體來說,紫外設(shè)備通常主要還是測定相對總反射率或漫反射率,表示方法有R、R%、Reflection%。鏡面反射可通過適配積分球的鏡面反射端口消除,單獨的鏡面反射通過鏡面反射附件也可以測定。

這邊提到的相對的概念,除了利用絕對反射率附件測試絕對反射率的情況,紫外設(shè)備通常測定的都是相對數(shù)值,相對吸光度、相對透過率和相對反射率。如相對反射率,即相對一個標(biāo)準(zhǔn)樣品的反射率:R’∞ = R∞(樣品)/ R∞(參比物),參比物質(zhì)多用聚四氟乙烯標(biāo)準(zhǔn)品或BaSO4白板。

4、吸收率(A%):

吸收率反映的是吸收的入射光光強占入射光光強的比例。因此吸收率A%和吸光度A是不同概念,不是簡單的百分比換算。一般情形下,吸收率A%可以理解成,等于1-R%-T%的結(jié)果。

但是實際應(yīng)用中,吸收率的換算并不準(zhǔn)確。因為無論是R%還是T%,本身測的都是相對的數(shù)值,且透過的測試和反射的測試,光打在樣品的區(qū)域未必是一致的,導(dǎo)致1- R%-T%結(jié)果的誤差,甚至出現(xiàn)負值。一般測試中,我們也不建議去算吸收率。


三、儀器基本信息


1、擴展反射光譜的測試

在儀器分析中,紫外-可見分光光度法是歷史悠久、應(yīng)用最為廣泛的一種光學(xué)分析方法。早先的紫外-可見光譜儀只能測試物質(zhì)的吸收或透過,因此也叫做紫外-可見吸收光譜儀,僅能測試均勻的稀溶液或透明薄膜,對粉末、塊體和乳濁液等樣品的測試誤差較大,測量效果不理想。通過增加積分球附屬裝置,擴展了反射光譜的測試,有效地解決了這一問題,如圖4。

積分球是一個中空的帶窗口的球殼,內(nèi)壁涂覆白色漫反射層,一般為BaSO4或光學(xué)聚四氟乙烯涂層。積分球的作用就是可以將所有的漫反射光收集,聚焦以后達到檢測器,通過樣品與參比的信號差異,轉(zhuǎn)化為樣品的紫外-可見漫反射光譜或吸收光譜。

圖4 液體紫外和固體紫外

2、紫外儀器基本部件

紫外-可見光譜儀,也通常叫紫外-可見分光光度計。不同光譜儀的組成復(fù)雜程度不同,但它們的基本原理結(jié)構(gòu)是相似的:光源照射樣品,光與樣品發(fā)生作用,探測器接收信號,光電流經(jīng)處理得到相應(yīng)數(shù)值。

(1)光源:紫外區(qū):氫燈和氘燈;可見區(qū)到中紅外區(qū):鎢燈和鹵鎢燈。儀器測試中,存在光源轉(zhuǎn)換的過程,從可見到紫外區(qū),光源可以自動進行切換。

(2)單色器:將光源發(fā)射的復(fù)合光分解成單色光的光學(xué)系統(tǒng)。整個構(gòu)造包含了入射狹縫、準(zhǔn)光裝置、色散元件(光柵)、聚焦裝置、出射狹縫等。

(3)樣品室:包含了液體和固體樣品支架、吸收池(比色皿)、積分球、粉末樣品槽。不同儀器的支架和樣品槽會略有差異。

(4)檢測器:利用光電效應(yīng)將吸收池的光信號變成可測的電信號,大多數(shù)儀器是雙檢測器(PMT+PbS),有的采用了三檢測器(PMT+InGaAs+PbS)。根據(jù)測試模式不同,也可以區(qū)分為標(biāo)準(zhǔn)檢測器和積分球檢測器。一般標(biāo)準(zhǔn)檢測器能做的測試范圍比積分球檢測器大。儀器測試中,也存在檢測器轉(zhuǎn)換的過程,從近紅外到可見區(qū),探測器可以自動進行切換。

順便給大家介紹一下紫外可見光譜測試處理方法

1、液體、透明薄膜


(1)測試模式選擇:液體、透明薄膜選擇吸收度或透過率。(2)樣品要求:液體樣品盡量均一透明、濃度適當(dāng),不能有氣泡、懸浮物或渾濁;透明的薄膜盡量平整均勻,尺寸可稍大。(3)測試常規(guī)過程:液體樣品通常選擇空白溶劑作參比,先用參比池調(diào)節(jié)儀器的吸收零點,再測試被測溶液的吸光度或透過率。透明薄膜就直接空氣作參比。


2、粉末、塊體、不透明薄膜


(1)測試模式選擇:粉末、塊體、不透明薄膜選擇吸收度或反射率。


(2)樣品要求:粉末樣品一般需要100mg以上,顆粒盡量細碎、干燥;塊體或薄膜樣品測試面尺寸≥1*1cm,盡量平整均勻。




3、測試情況說明


(1)實際測試中,液體樣品的參比樣未必一定選用空白溶劑,可根據(jù)需要設(shè)置。比色皿最好選用石英比色皿,紫外和可見光區(qū)都適用。


(2)粉末樣品可以放置在樣品槽,用石英皿壓緊,或者直接壓片測試;如果樣品量少或者樣品吸收太強,為了分析峰型,也可以用加入BaSO4和樣品混勻,再放置測試。


(3)塊體薄膜的測試,只需將測試面對準(zhǔn)積分球樣品窗口,用夾具固定。在參比窗口一測放參比白板即可測樣品的漫反射光譜。



-END-

本公司位于湖北武漢,從事檢測行業(yè)十多年,專業(yè)提供XPS、ICP、SEM+EDS/SEM云視頻 TEM+EDS/TEM云視頻XRD、AFM、BET、TG-DSC、粒度、Zeta電位、RAMAN、順磁、核磁、熒光等測試服務(wù)。我們一直致力于為高校、科研院所、企業(yè)提供一站式專業(yè)測試服務(wù)。歡迎各行各業(yè)咨詢!歡迎開展科研項目合作、科研經(jīng)費報銷合作等。長期合作價格優(yōu)惠。


溫馨提示

1、不定期推出各種優(yōu)惠活動,詳情咨詢客服。

2、測試前聯(lián)系在線客服確認測試條件、檢測費用、檢測周期等。

檢測咨詢熱線:15071040697(手機同微信)   黃工QQ:82187958

公司網(wǎng)站:m.gzbj666.cn   武漢鑠思百檢測技術(shù)有限公司


關(guān)注我們

長按識別下方二維碼領(lǐng)取報價單

圖片


免責(zé)聲明:部分文章整合自網(wǎng)絡(luò),因內(nèi)容龐雜無法聯(lián)系到全部作者,如有侵權(quán),請聯(lián)系刪除,我們會在第一時間予以答復(fù),萬分感謝




在線客服
 
 
 工作時間
周一至周六 :8:00-18:00
 聯(lián)系方式
客服-黃工:150 7104 0697
客服-劉工:18120219335
西林县| 阜阳市| 乃东县| 江源县| 岳西县| 西林县| 尚志市| 霸州市| 乐业县| 怀安县| 新津县| 临漳县| 济阳县| 都安| 平罗县| 衡阳县| 怀柔区| 蒙城县| 隆子县| 海伦市| 清远市| 门源| 当涂县| 隆子县| 华阴市| 高雄市| 无锡市| 平乐县| 三原县| 泽库县| 泽普县| 新晃| 朝阳市| 安阳市| 洪雅县| 上林县| 子长县| 易门县| 伽师县| 澄江县| 盐边县|