電子探針為什么不能檢測到h和he元素

電子探針為什么不能檢測到H和He元素？因為H和He原子只有K 層電子，不能產(chǎn)生特征X 射線，所以無法進行電子探針成分分析。鋰(Li) 雖然能產(chǎn)生X 射線，但產(chǎn)生的特征X 射線波長太長，通常無法進行檢測， 電子探針用大面間距的皂化膜作為衍射晶體已經(jīng)可以檢測Be元素。今天鑠思百檢測小編把電子探針的相關介紹也一起整理了，希望對大家有幫助

電子探針EPMA是X射線波譜儀和掃描電鏡相結(jié)合的儀器:不但能觀察材料的表面形貌，而且能對材料表面的點、線和面進行成分分析。

電子探針EPMA成分分析的原理是利用電子和樣品作用產(chǎn)生的特征X射線，測量其波長(或能量)確定樣品的元素種類，測量其強度確定元素的含重。

若特征X射線檢測器的波長設置在某一數(shù)值(對應某一元素)，在電子束掃描過程中，根據(jù)不同微區(qū)發(fā)射該波長信號的強弱，可以得出該種元素的分布。

一、電子探針EPMA樣品要求

●表面清潔、平坦;

●薄片樣品不應覆蓋玻片;

●樣品表面應具有良好的導電性，對非導電樣品須噴鍍一層導電膜(碳、Au或鋁等）。

二、EPMA的分析方法-微區(qū)定性分析

1)元素分布狀態(tài)分析

主要為背散射電子像與吸收電子像分析。原子序數(shù)小的元素，背散射電子像較暗，而吸收電子像正相反。

2)點分析

測定一個點內(nèi)的特征X射線，從而得到元素組成。

3)線分析

測定一個線內(nèi)的特征X射線，從而得到一個線的元素分布。

4)面分析

使聚焦電子束在一個微區(qū)范圍內(nèi)進行二維平面掃描，從而得到一個面內(nèi)的元素分布。

在定性分析的基礎上進行定量分析時，電子束可以固定在選定的一點上或者在一個微小區(qū)域內(nèi)掃描。定量分析的基本步驟如下:

1)根據(jù)定性分析結(jié)果，確定定量分析元素的種類，并制備各待測元素的純元素標準試樣，然后，先在分析試樣的選定區(qū)域測量所含各元素特征X射線的強度IL及其本底X射線強度IB;在同樣條件下測量各純元素標準試樣的特征X射線的強度IM、及其本底X射線強度Ic;

2)計算各元素的第一次近似重量百分濃度:

在一個微小區(qū)域內(nèi)制備極均勻和極純的標樣是非常困難的，待測元素X射線強度與該元素標準試樣的X射線強度之比，即:

3)ZAF修正法

樣品中組成元素的百分含量與樣品激發(fā)區(qū)內(nèi)該元素產(chǎn)生的特征X射線成正比，但是，在特征X射線從產(chǎn)生到逸出表面的過程中，其強度會發(fā)生一定變化.目前認為，這種變化由:

樣品中各組成元素的原子序數(shù)(Z)

元素本身與元素間的吸收(A)

熒光效應(F)

三種主要因素決定。因此,要獲得準確的電子探針定量分析結(jié)果，必須進行這三種因子的修正計算。這種修正計算方法叫ZAF法，修正計算的總公式為:

式中:Ci為i元素的重量濃度;

Ki為樣品中i元素與標樣中同種元素的X射線強度比;

Zi為i元素的原子序數(shù)校正項;

Ai為i元素吸收系數(shù)修正項;

Fi為i元素熒光效應修正項。

原子序數(shù)校正

RA:A元素的背散射因子,由表查出

RAB:B元素對A元素的背散射因子

SA: A元素的阻止本領(非彈性散射因子)

SAB:B元素對A元素的阻止本領

吸收校正

式中 FA(XA)----對X的吸收校正系數(shù)

FAB(XAB)----對XAB的吸收校正系數(shù)

熒光效應校正

式中 IA為A元素特征X射線強度，IF為熒光X射線強度.

將以上各項修正因素代入式(3)得: