X射線熒光光譜儀（XRF）

X射線熒光光譜儀（XRF）

分為波長色散型X射線熒光光譜儀(WD-XRF)和能譜色散型X-射線熒光光譜儀(ED-XRF)。

圖1 X射線熒光光譜儀

關鍵詞：X射線熒光光譜儀

原理：用X射線照射試樣時，試樣可以被激發(fā)出各種波長的熒光X射線，需要把混合的X射線按波長（或能量）分開，分別測量不同波長（或能量）的X射線強度，以進行定性和定量分析。

圖2 波長色散型和能量色散型譜儀原理圖

適合分析材料：鋁合金、不銹鋼、鉻鉬合金、金屬管道和法蘭材料，黃銅、青銅以及其他銅合金，金屬焊料、鈦合金、工具鋼、鎳基或鈷基等“超級合金”進行材料牌號匹配和元素定量分析。

應用領域：地質、環(huán)境、石化、金屬、礦物、水泥、玻璃等眾多工業(yè)及科研領域

特點：制樣簡單、快速,樣品整個表面、表面某一部分或特定點處的分析,分析速度快,穩(wěn)定性高、精度高；動態(tài)范圍寬（從ppm至100%）；先進的無標樣分析軟件包，可以對完全未知的樣品進行簡單、快速的分析。

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