GB·T 33502-2017| ISO16243·2011 表面化學(xué) 分析 X射線光電子能譜(XPS)數(shù)據(jù)記錄,報(bào)告規(guī)范 二維碼
發(fā)表時間:2019-10-17 10:52作者:武漢鑠思百檢測技術(shù)有限公司來源:鑠思百檢測 GB·T 33502-2017| ISO16243·2011 表面化學(xué) 分析 X射線光電子能譜(XPS)數(shù)據(jù)記錄,報(bào)告規(guī)范 x射線光電子能譜(xps)在材料表面分析中有著廣泛的應(yīng)用。樣品中的元素(除了h和he)是通過比較光電子能譜的核心結(jié)合能和這些能譜的元素表來確定的。這些元素的化學(xué)狀態(tài)信息可以從測量的化學(xué)位移和\/或與參考狀態(tài)相比的光電子的線排列中推斷出來。 xps分析樣品時記錄和報(bào)告信息的基本要求 1 份分析記錄錄本或電子文件(如計(jì)算機(jī)數(shù)據(jù)存儲系統(tǒng)); 2 譜圖; 3 樣品的 定量分析; 4 組分深度剖析; 5 面 掃 描; 5 化學(xué)位移數(shù)據(jù)。 發(fā)布時間:2017年2月28日 頒發(fā)部門:國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局 鑠思百檢測動態(tài)
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