ICP-OES可以測(cè)到ppm級(jí),ICP-MS可以測(cè)到ppb級(jí)"/>

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DETECTION OF TECHNICAL SOUSEPAD

透射電子顯微鏡(TEM-EDS)掃描電子顯微鏡(FESEM-EDS)球差電鏡激光共聚焦顯微鏡(LSCM)原子力顯微鏡(AFM)電子探針儀(EPMA)金相顯微鏡電子背散射衍射儀(EBSD)臺(tái)階儀,膜厚儀,探針接觸式輪廓儀,3D輪廓儀工業(yè)CT白光干涉儀(非接觸式3D表面輪廓儀)電鏡測(cè)試FIB制樣離子減薄制樣冷凍超薄切片制樣樹脂包埋制樣(生物制樣)液氮脆斷制樣金網(wǎng)鉬網(wǎng)銅網(wǎng)超薄碳膜微柵制樣電鏡制樣X射線光電子能譜分析儀(XPS)紫外光電子能譜(UPS)俄歇電子能譜(AES)X射線衍射儀(XRD)X射線散射儀SAXS/WAXSX射線殘余應(yīng)力分析儀X射線熒光光譜分析儀(XRF)電感耦合等離子體光譜儀(ICP-OES)紫外可見(jiàn)反射儀(DRS)拉曼光譜(RAMAN)紫外-可見(jiàn)分光光度計(jì)(UV)圓二色譜(CD)傅里葉變換紅外光譜分析儀(FTIR)吡啶紅外(DRIFTS)單晶衍射儀穆斯堡爾光譜儀穩(wěn)態(tài)瞬態(tài)熒光光譜分析儀(PL)原子吸收分光光度計(jì)原子熒光光度計(jì)(AFS)三維熒光 /熒光分光光度計(jì)紅外熱成像儀霧度儀旋光儀橢偏儀光譜測(cè)試電感耦合等離子體質(zhì)譜儀(ICP-MS)電噴霧離子化質(zhì)譜儀(ESI-MS)頂空-固相微萃取氣質(zhì)聯(lián)用儀(HS -SPME -GC -MS)二次離子質(zhì)譜(SIMS)基質(zhì)輔助激光解吸電離飛行時(shí)間質(zhì)譜儀(MALDI-TOF)裂解氣質(zhì)聯(lián)用儀(PY-GC-MS)氣質(zhì)聯(lián)用儀(GC-MS)同位素質(zhì)譜儀液質(zhì)聯(lián)用儀(LC-MS)質(zhì)譜測(cè)試差示掃描量熱儀(DSC)熱重分析儀(TGA)熱分析聯(lián)用儀(DSC-TGA)靜態(tài)/動(dòng)態(tài)熱機(jī)械分析儀(TMA/DMA)熱重紅外聯(lián)用儀(TG-IR)熱重紅外質(zhì)譜聯(lián)用儀(TG-IR-MS)熱重紅外氣相質(zhì)譜聯(lián)用(TG-IR-GC-MS)紅外熱成像儀激光導(dǎo)熱儀錐形量熱儀(CONE)熱譜測(cè)試電子順磁共振波譜儀(EPR、ESR)固體核磁共振儀(NMR)液體核磁共振儀(NMR)微波網(wǎng)絡(luò)矢量分析儀/矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀核磁順磁波譜測(cè)試比表面及孔徑分析儀(BET)表面張力儀(界面張力儀)高壓吸附儀化學(xué)吸附儀(TPD TPR)接觸角測(cè)量?jī)x納米壓痕儀壓汞儀(MIP)表界面物性測(cè)試氣相色譜儀(GC)高效液相色譜儀(HPLC)離子色譜儀(IC)凝膠色譜儀(GPC)液相色譜(LC)色譜測(cè)試電導(dǎo)率儀電化學(xué)工作站腐蝕測(cè)試儀介電常數(shù)測(cè)定儀卡爾費(fèi)休水分測(cè)定儀自動(dòng)電位滴定儀電化學(xué)儀器測(cè)試Zeta電位儀工業(yè)分析激光粒度儀流變儀密度測(cè)定儀納米粒度儀邵氏 維氏 洛氏硬度計(jì)有機(jī)鹵素分析儀(F,Cl,Br,I,At,Ts)有機(jī)元素分析儀(EA)粘度計(jì)振動(dòng)樣品磁強(qiáng)計(jì)(VSM)土壤分析測(cè)試植物分析測(cè)試其他測(cè)試同步輻射GIWAXS GISAXS同步輻射XRD,PDF,SAXS同步輻射吸收譜-高能機(jī)時(shí)同步輻射吸收譜之軟X射線同步輻射吸收譜之硬X射線同步輻射聚焦離子束掃描電鏡(FIB-SEM)礦物定量分析系統(tǒng)MLA球差校正透射電子顯微鏡高端電鏡類原位XPS測(cè)試原位EBSD(in situ -EBSD)原位紅外原位掃描電子顯微鏡(in-situ-SEM)原位透射電子顯微鏡高端原位測(cè)試飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀(TOF-SIMS)輝光放電光譜(GD-OES MS)三維原子探針(APT)高端質(zhì)譜類Micro/Nano /工業(yè)CT飛秒瞬態(tài)吸收光譜儀(fs-TAS)掃描隧道顯微鏡深能級(jí)瞬態(tài)譜儀正電子湮滅壽命譜儀其他XPS數(shù)據(jù)分析XRD全巖黏土分析表面成分分析技術(shù)-XPS測(cè)試分析常規(guī)XRD數(shù)據(jù)分析成分指紋分析技術(shù)-紅外測(cè)試分析二維紅外光譜技術(shù)紅外(IR)數(shù)據(jù)分析拉曼數(shù)據(jù)分析三維熒光數(shù)據(jù)分析圓二色譜(CD)數(shù)據(jù)分析成分含量分析EPR/ESR數(shù)據(jù)分析VSM數(shù)據(jù)分析電化學(xué)數(shù)據(jù)分析矢量網(wǎng)絡(luò)數(shù)據(jù)分析電磁分析CT數(shù)據(jù)分析X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)普(XAFS)數(shù)據(jù)分析穆斯堡爾譜數(shù)據(jù)分析小角散射(SAXS/WAXS)數(shù)據(jù)分析高端測(cè)試分析固體核磁數(shù)據(jù)分析液體核磁(NMR)測(cè)試+分析一體化液體核磁(NMR)數(shù)據(jù)分析化學(xué)結(jié)構(gòu)分析EBSD數(shù)據(jù)分析TEM數(shù)據(jù)分析單晶XRD數(shù)據(jù)分析晶體結(jié)構(gòu)確證技術(shù)-XRD精修XRD定性定量分析晶體結(jié)構(gòu)分析BET數(shù)據(jù)分析其它數(shù)據(jù)分析需求熱分析數(shù)據(jù)處理數(shù)據(jù)分析作圖其他數(shù)據(jù)分析半導(dǎo)體激光器模擬發(fā)光二極管仿真光電探測(cè)器仿真太陽(yáng)能電池仿真半導(dǎo)體器件仿真表面能差分密度磁矩單原子催化電荷密度電解水制氫反應(yīng)(HER)費(fèi)米面(fermi surface)電子局域化函數(shù)(electron localization function)第一性原理分子模擬量子化學(xué)相分析有限元模擬常規(guī)理化-水樣常規(guī)理化-土樣/沉積物常規(guī)理化-氣體常規(guī)理化-植物/蔬果/農(nóng)作物常規(guī)理化-食品常規(guī)理化-肥料/飼料常規(guī)理化-巖礦常規(guī)理化-垃圾常規(guī)理化-職業(yè)衛(wèi)生常規(guī)理化-其它常規(guī)理化項(xiàng)目纖維素、半纖維素、木質(zhì)素含量bcr形態(tài)順序提取/tessier五步提取法土壤水體抗生素微塑料微生物磷脂脂肪酸(PLFA)非標(biāo)理化-其它非標(biāo)理化項(xiàng)目穩(wěn)定同位素放射性同位素同位素-其它金屬同位素同位素多糖的單糖組成測(cè)定可溶性寡糖定量土壤氨基糖多糖全套分析多糖甲基化植物糖化學(xué)-常規(guī)指標(biāo)糖化學(xué)液質(zhì)聯(lián)用LCMS高效液相色譜HPLC氣相色譜GC氣質(zhì)聯(lián)用GCMS全二維氣質(zhì)GC×GC-MS氣相色譜-離子遷移譜聯(lián)用儀(GC-IMS)液相色譜-原子熒光聯(lián)用(LC-AFS)制備型HPLC色譜質(zhì)譜數(shù)據(jù)分析液相色譜-電感耦合等離子體質(zhì)譜(LC-ICPMS)色譜質(zhì)譜DOM(FT- ICR- MS)水質(zhì)NOM(LC-OCD-OND)DOM(FT-ICR-MS)數(shù)據(jù)分析環(huán)境高端電池產(chǎn)品整體解決方案正極顆粒表面微觀形貌正極顆粒物截面形貌與元素三元正極顆粒循環(huán)前后晶界裂紋正極顆粒摻雜元素分布正極顆粒截面元素分布和晶格表征正極極片原位晶相分析正極極片截面元素分布和晶格表征正極表面CEI膜測(cè)試方法XPS正極極片截面微觀形貌觀察和元素分布正極極片CEI膜成分分析與厚度測(cè)定正極極片介電常數(shù)正極極片浸潤(rùn)性正極極片包覆層觀察正極極片雜質(zhì)含量測(cè)定正極極片氧空位測(cè)定負(fù)極顆粒表面微觀形貌觀察和元素分布負(fù)極顆粒截面微觀形貌觀察和元素分布石墨類型判定負(fù)極顆粒粒徑分析負(fù)極極片孔洞分析負(fù)極顆粒包覆層觀察負(fù)極顆粒羥基含量測(cè)定負(fù)極極片包覆層觀察負(fù)極表面SEI膜分析XPS法負(fù)極極片SEI膜成分分析與厚度測(cè)定負(fù)極極片截面微觀形貌觀察和元素分布負(fù)極極片石墨碳和無(wú)定型碳比例隔膜表面微觀形貌觀察隔膜循環(huán)前后孔徑變化質(zhì)子交換膜形貌(厚度)觀察 CP+SEM質(zhì)子交換膜雜質(zhì)元素電池循環(huán)后鼓包氣電池循環(huán)后爆炸氣鋰電池極片和集流體間的粘結(jié)強(qiáng)度三元正極材料NCM比例燃料電池-整體解決方案電池產(chǎn)品-隔膜電池產(chǎn)品-優(yōu)勢(shì)項(xiàng)目正極材料-PH值正極材料-比表面積正極材料-磁性異物正極材料-化學(xué)成分正極材料-晶體結(jié)構(gòu)正極材料-粒徑分布正極材料-首次放電比容量及首次庫(kù)倫效率正極材料-水分含量正極材料-松裝密度正極材料-未知物分析正極材料-形貌,厚度與結(jié)構(gòu)正極材料-壓實(shí)密度正極材料-振實(shí)密度電池產(chǎn)品-正極材料負(fù)極材料-PH值負(fù)極材料-比表面積負(fù)極材料-層間距 石墨化度負(fù)極材料成分分析負(fù)極材料-磁性異物負(fù)極材料-粉末壓實(shí)密度負(fù)極材料-固定碳含量負(fù)極材料-化學(xué)成分負(fù)極材料-粒徑分布負(fù)極材料-石墨鑒定負(fù)極材料-水分負(fù)極材料-限用物質(zhì)含量負(fù)極材料-形貌與結(jié)構(gòu)負(fù)極材料-陰離子的測(cè)定負(fù)極材料-有機(jī)物含量負(fù)極材料-真密度負(fù)極材料-振實(shí)密度負(fù)極顆粒-石墨取向性(OI值)首次放電比容量及首次庫(kù)倫效率電池產(chǎn)品-負(fù)極材料電解液-電導(dǎo)率電解液-化學(xué)元素含量電解液-密度電解液-水分含量電解液-未知物分析電解液-游離酸(HF含量)電池產(chǎn)品-電解液電池產(chǎn)品-隔膜電池產(chǎn)品-隔膜
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ICP測(cè)試經(jīng)驗(yàn),ICP-OES/ICP-MS有什么不同?

 二維碼
發(fā)表時(shí)間:2019-12-31 15:55作者:武漢鑠思百檢測(cè)技術(shù)有限公司來(lái)源:鑠思百檢測(cè)

ICP-OES/ICP-MS的區(qū)別?


ICP
是測(cè)試樣品元素含量的定量測(cè)試
ICPOES可以測(cè)到ppm級(jí),ICPMS可以測(cè)到ppb級(jí)


1,含Ag樣品專場(chǎng)

由于Ag離子遇到Cl離子會(huì)產(chǎn)生AgCl沉淀所以!劃重點(diǎn)
單獨(dú)測(cè)Ag時(shí),樣品盡量用純硝酸消解,不能引入任何的HCl及其他Cl離子,如果含有硅酸鹽等不能消解的成份時(shí),可以加入少量的氫氟酸,如果樣品在硝酸和氫氟酸都不能完全消解的情況下,必須用到HCl時(shí),可以考慮用氨水處理產(chǎn)生的AgCl沉淀,AgCl會(huì)與氨水產(chǎn)生銀氨離子,從而達(dá)到使AgCl沉淀溶解目的#

樣品為Ag和其他元素的組合時(shí)需要注意的是——特殊的元素組合比如,同時(shí)測(cè)Ag和AuAg的消解盡量不能引入Cl離子但是Au的消解必須用到王水(王水的一個(gè)組分就是鹽酸)那么問(wèn)題來(lái)了,怎么進(jìn)行前處理呢這就要考慮兩個(gè)元素單獨(dú)進(jìn)行前處理,測(cè)試Ag時(shí)(不考慮Au)測(cè)試Au時(shí)(不考慮Ag)——產(chǎn)生的氯化銀沉淀過(guò)濾掉。

2,氫氟酸小課堂

含有Si,Zr,Hf,Ta,Nb,Ti,Al等化合物時(shí),一般需要用到氫氟酸。但是,測(cè)Au,La,Y等元素時(shí),氟會(huì)與其產(chǎn)生不溶于酸和水的化合物,敲黑板!盡量在完全消解樣品的情況下用量最少消解后可以考慮加過(guò)量的硼酸,高溫加熱樣品,以使過(guò)量的氟離子被趕盡同時(shí)產(chǎn)生的氟化物由于溶液中氟的減少而使這個(gè)溶解平衡段向左移動(dòng),最終達(dá)到完全溶解。

3,為什么Si測(cè)不準(zhǔn)呢

消解時(shí)HF與Si反應(yīng)后生成SiF4很容易在消解體系中溢出而使Si元素?fù)p失而進(jìn)樣系統(tǒng)大部分都是石英部件當(dāng)測(cè)試溶液(可能含有微量的HF)經(jīng)過(guò)這些玻璃部件時(shí)會(huì)對(duì)石英部件有腐蝕作用從而又使測(cè)試溶液額外引入了Si元素當(dāng)當(dāng)當(dāng)!總結(jié)一下前處理可能會(huì)造成Si的損失儀器測(cè)試可能會(huì)額外引入Si元素測(cè)Si有風(fēng)險(xiǎn)且測(cè)且珍惜。

4,部分材料tips

樣品主要成分為Fe或Al的金屬時(shí),應(yīng)用王水消解,因?yàn)?!硝酸的氧化性?huì)使其表面形成一個(gè)致密的氧化層,進(jìn)而阻止酸與樣品進(jìn)一步的反應(yīng)

ICP的適宜濃度和前處理


提到定量分析樣品中某些元素的含量,大家往往都會(huì)想到XPS、EDS、XRF沒(méi)錯(cuò),這些確實(shí)可以但是,這些手段往往都是半定量結(jié)果僅供參考若是想準(zhǔn)確定量。ICP基本都能滿足你的需求無(wú)論是ppm還是ppb含量級(jí)別,但即使是準(zhǔn)確定量,我們還是會(huì)碰到有同學(xué)問(wèn)為什么測(cè)試出來(lái)的結(jié)果跟我的預(yù)期相差很大呢?
沒(méi)有什么測(cè)試手段是萬(wàn)能的或多或少都會(huì)有一定限制ICP也不例外。

我們可以根據(jù)元素含量把ICP定量分析分為以下三種:

1常量分析 0.X%-20%

2微量分析 0.00X%-0.X%

3痕量分析:0.0000X%-0.000X%


可以看到如果樣品中元素含量太高,
超過(guò)百分之二十,ICP就沒(méi)法做到那么準(zhǔn)確了。因?yàn)椤楸WC上機(jī)樣品濃度在標(biāo)準(zhǔn)曲線范圍內(nèi)。就會(huì)進(jìn)行較大倍數(shù)的稀釋。誤差就隨之而來(lái)了當(dāng)然,如果要測(cè)定的元素含量太低達(dá)不到儀器的定量限,也會(huì)導(dǎo)致結(jié)果出現(xiàn)偏差,所以在測(cè)試前一個(gè)重要問(wèn)題,就是確定測(cè)定元素大致含量這個(gè)問(wèn)題的出現(xiàn)不是不無(wú)道理哦。
看了這些,相信大家也會(huì)判斷自己的樣品用ICP分析得到的數(shù)據(jù)是否準(zhǔn)確了除此之外,如果樣品前處理方法選擇不當(dāng)想得到“有用”的數(shù)據(jù)也是不現(xiàn)實(shí)的啦

友情提示:

比如出現(xiàn)問(wèn)題比較多的Si、Ti這兩種元素

大家一定要用偏硼酸鋰溶樣哈
除此以外若給我們的樣品已經(jīng)是處理過(guò)的一定要保證消解完全如果擔(dān)心自己沒(méi)有經(jīng)驗(yàn),處理不好那就交給我們身經(jīng)百戰(zhàn)專業(yè)的測(cè)試?yán)蠋煱?,畢竟撇開數(shù)據(jù)準(zhǔn)確性不說(shuō)這個(gè)過(guò)程中可能會(huì)用到的試劑還有高溫操作可不是開玩笑的,想當(dāng)年自己前處理的時(shí)候?qū)嶒?yàn)服破洞,手指蛻皮都是常有的事所以在這里要提醒大家,安全第一數(shù)據(jù)能不能用,能否順利畢業(yè)都沒(méi)啥大不了的。
再啰嗦一條前處理方法有特殊要求的一定要提前說(shuō)明并且把方法附上我們一定會(huì)按照您的吩咐來(lái)處理事后諸葛亮真的是太頭痛啦!


鑠思百檢測(cè)動(dòng)態(tài)


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鑠思百檢測(cè)項(xiàng)目

電鏡檢測(cè):SEM掃描電鏡,TEM透射電鏡,球差電鏡,LSCM,EBSD,AFM 等等

電鏡制樣:FIB制樣,冷凍超薄切片加工,離子減薄制樣,液氮脆斷 等等

光譜檢測(cè): XPS,UPS,AES,XRD,AFS,XRF,ICP-OES,DRS,RAMAN,UV,CD,單晶衍射儀,穆斯堡爾光譜儀,X射線殘余應(yīng)力分析儀,臺(tái)階儀,3D輪廓儀,穩(wěn)態(tài)瞬態(tài)熒光光譜儀,F(xiàn)TIR,DRIFTS,等等

熱譜檢測(cè):TGA,DSC,TGA-DSC,PY-GCMS,TG-MS,TG-IR,DMA/TMA,TG-IR-MS,導(dǎo)熱系數(shù)儀,熱膨脹系數(shù)儀,氧氮量熱儀,

核磁順磁波普測(cè)試:固體核磁共振儀NMR,液體核磁共振儀NMR,EPR/ESR電子順磁共振波譜儀

質(zhì)譜檢測(cè):ICP-MS,ESI-MS,SIMS,GC-MS,同位素質(zhì)譜,MALDI-TOF

色譜檢測(cè):GC,HPLC,GPC,IC,

表介面物性分析:BET,TPD/TPR,接觸角,壓汞儀,納米壓痕儀

其他測(cè)試:VSM,EA,TOC,Zeta電位儀,有機(jī)硫鹵分析儀,激光粒度儀,工業(yè)分析,萬(wàn)能試驗(yàn)機(jī),矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀,四探針原位測(cè)試,土壤分析測(cè)試。

更多測(cè)試請(qǐng)咨詢?cè)诰€客服


測(cè)試流程

1、客戶提出測(cè)試要求(在線預(yù)約

2、細(xì)節(jié)溝通(聯(lián)系在線QQ

3、下載填寫測(cè)試委托單

4、測(cè)試委托單和樣品郵寄

5、聯(lián)系客服付款

6、安心等待

7、接受數(shù)據(jù)

8、后期服務(wù)

以上是對(duì)于測(cè)試的相關(guān)介紹,如有其它檢測(cè)需求可以咨詢實(shí)驗(yàn)室工程師,為您一對(duì)一服務(wù)。

溫馨提示

1、不定期推出各種優(yōu)惠活動(dòng),詳情咨詢客服。

2、測(cè)試前聯(lián)系在線客服確認(rèn)測(cè)試條件、檢測(cè)費(fèi)用、檢測(cè)周期等。

檢測(cè)咨詢熱線:15071040697      黃工QQ:82187958

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