GB T36655-2018電子封裝用球形硅粉中α晶二氧化硅含量試驗(yàn)方法XRD法

GB T36655-2018電子封裝用球形硅粉中α晶二氧化硅含量試驗(yàn)方法XRD法

XRD法測(cè)定電子封裝用球形二氧化硅粉末中的α-結(jié)晶二氧化硅含量，以及其它非晶二氧化硅的含量也可根據(jù)該標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行測(cè)試。旋轉(zhuǎn)靶多晶x射線(xiàn)衍射法的一般原理

發(fā)布時(shí)間：2018年9月17日      實(shí)施時(shí)間：2019年1月1日

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