GB_T 16594-2008 微米級(jí)長(zhǎng)度的掃描電鏡測(cè)量方法

GB_T 16594-2008 微米μm級(jí)長(zhǎng)度的SEM掃描電鏡測(cè)量方法

      SEM掃描電鏡測(cè)量微米級(jí)長(zhǎng)度的通用原則，測(cè)量（0.5-10）μm的長(zhǎng)度

本標(biāo)準(zhǔn)是比較性的測(cè)量方法在不改變的條件下，用SEM掃描電鏡獲取標(biāo)準(zhǔn)長(zhǎng)度跟被測(cè)長(zhǎng)度的二次電子像，然后測(cè)量車圖像中標(biāo)準(zhǔn)長(zhǎng)度的測(cè)得值和被測(cè)長(zhǎng)度的測(cè)得值，結(jié)合標(biāo)準(zhǔn)長(zhǎng)度的標(biāo)定值，可以算出被測(cè)長(zhǎng)度的測(cè)得值

發(fā)布時(shí)間：2008-09-18   實(shí)施時(shí)間：2009-05-01

發(fā)布部門：國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局

鑠思百檢測(cè)動(dòng)態(tài)

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