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一文看懂XPS與UPS的區(qū)別

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發(fā)表時(shí)間:2020-01-18 09:34作者:鑠思百檢測來源:鑠思百檢測

UPS的基本原理和XPS類似,低能的UV光打到樣品表面,因?yàn)楣怆娦?yīng)激發(fā)出來的電子被能量分析器所探測,然后我們得到一個(gè)UPS譜。

XPS因?yàn)樗褂玫墓庠茨芰勘容^高,所以我們能研究比較深能級的電子信息。而做UPS實(shí)驗(yàn)時(shí),我們關(guān)注的主要是低結(jié)合能的電子信息,也就是外殼層的電子信息。

材料殼層(芯能級)電子的結(jié)合能一般在幾百eV的量級,所以一般要求我們使用X射線(XPS)。

而如果我們要求探測材料的價(jià)帶電子,我們使用紫外燈光源就足夠了。(UPS)

我們在XPS分析的時(shí)候總是提到,XPS測量的材料的元素指紋信息,那么UPS反映的是什么的指紋信息呢?

元素芯能級的電子和原子核靠的非常近,和其他原子相互作用比較弱,反映的是每個(gè)原子所代表的元素的本征性質(zhì)。

原子費(fèi)米能級附近的電子(價(jià)態(tài)電子)在材料內(nèi)部比較巡游,攜帶的是整個(gè)材料體系的性質(zhì),因此反映的是材料電子關(guān)聯(lián)相互作用之后的信息。

因?yàn)閄PS得到的大部分信息是深能級的電子信息,這部分電子與其他電子的相互作用比較弱,因此反映的是他所屬的原子的指紋信息。而UPS研究的那些價(jià)電子在材料中比較巡游,反映的是電子間復(fù)雜關(guān)聯(lián)作用之后的信息。因此反映的是某些分子的“指紋“信息,或者是整個(gè)材料的整體性質(zhì)。

在X射線光電子能譜中,當(dāng)原子的化學(xué)環(huán)境改變時(shí)一般都可以觀察到內(nèi)層電子峰的化學(xué)位移;紫外光電子能譜主要涉及分子的價(jià)層電子能級,成鍵軌道上的電子往往屬于整個(gè)分子,它們的譜峰很寬,在實(shí)驗(yàn)上測量化學(xué)位移很困難。但是,對于非鍵或弱鍵軌道中電離出來的電子,它們的譜峰很窄,其位置常常與元素的化學(xué)環(huán)境有關(guān),這是由于分子軌道在該元素周圍被局部定域。

小結(jié):

1. UPS的工作原理和XPS一樣,但是能量遠(yuǎn)遠(yuǎn)小于X光,因此有比較好的能量分辨率來研究價(jià)帶的電子結(jié)構(gòu),是XPS手段的一個(gè)重要補(bǔ)充。

2. XPS探測的是芯能級的電子信息,反映的是對應(yīng)元素的本征線性,由此來對材料的元素組成,元素價(jià)態(tài)情況等進(jìn)行分析。

3. 而UPS探測的是價(jià)帶電子的結(jié)構(gòu)信息,價(jià)帶電子在材料中比較巡游,到處運(yùn)動(dòng),反應(yīng)的是整個(gè)材料的關(guān)聯(lián)電子結(jié)構(gòu)。

4. 一般的UPS光源通過對惰性氣體放電來實(shí)現(xiàn),He、Ne、Ar、Kr、Xe等,能量一般在幾十個(gè)eV左右。

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