GB_T 18735-2014 微束分析  分析電鏡（ＡＥＭ／ＥＤＳ）納米薄標樣標準規(guī)范

GB_T18735-2014 微束分析   分析電鏡（ＡＥＭ／ＥＤＳ）納米薄標樣標準規(guī)范

　　本標準規(guī)定的各項準則, 主要適用于分析電鏡, 即配備X射線能譜儀附件的透射電子顯微鏡( AEM / EDS )依據(jù)比值法即 Cliff-Lorimer 法, 在可以忽略試樣基體的 X 射線吸收效應(yīng)進行無機薄樣品元素定量分析時, 測量比例因子K A-B 所需納米薄標樣的通用規(guī)范和檢測方法的一般原則。為進一步制定AEM的定量分析方法標準奠定基礎(chǔ)。本標準對于開展微粒和微區(qū)樣品的分析電鏡的元素定量分析,特別是適應(yīng)迅速發(fā)展的納米材料的成分定量分析和高加速電壓分析型透射電鏡的發(fā)展, 建立基于標準樣品的比較定量分析方法, 提高定量分析準確度具有積極的指導(dǎo)作用。當無機薄樣品元素定量分析時，樣品基體的x射線吸收效應(yīng)可以忽略時，通常適用于標度因數(shù)ka-b所要求的納米薄標準樣品測量的通用規(guī)范和試驗方法。原則。為進一步發(fā)展AEM定量分析方法標準奠定了基礎(chǔ)。本標準對開展微量和微量樣品分析電子顯微鏡中元素的定量分析具有積極的指導(dǎo)作用。特別是適應(yīng)納米材料定量分析的快速發(fā)展和高加速電壓分析透射電鏡的發(fā)展，建立了基于標準樣品的比較定量分析方法，提高了定量分析的準確性。

發(fā)布時間：2014-07-24 　　實施時間：2015-03-01

發(fā)布部門：國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局

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