納米粒度_Zeta電位分析儀

PS：送樣請(qǐng)附帶“委托測(cè)試單”。

納米粒度zeta電位分析儀（DLS）

?設(shè)備型號(hào)

馬爾文 ZS90

?樣品準(zhǔn)備須知！?。?/span>

1，納米粒度儀適用范圍（1nm-3μm左右），Zeta電位適用范圍（5nm-10μm）；

2，粉末20 mg，液體樣品每樣品需提供5-10ml，分散劑主要為去離子水和乙醇，

也可指定其它分散劑（數(shù)據(jù)結(jié)果可能不一定理想，環(huán)己烷腐蝕比色皿，請(qǐng)盡量不要使用此分散劑），需提供待測(cè)樣品折射率；

3，樣品默認(rèn)不做過(guò)濾處理，如需過(guò)濾，請(qǐng)留言備注。

4,可備注預(yù)期粒徑大?。?/span>

5，只有分散劑是水才能測(cè)試不同pH的zeta電位；

6，有疑問(wèn)請(qǐng)工程師。

?樣品測(cè)試填寫要求注意事項(xiàng)

1.樣品數(shù)量：填寫需要測(cè)試樣品的數(shù)量

2.樣品編號(hào)(名稱)：請(qǐng)輸入該組樣品編號(hào)，以逗號(hào)分隔，例如1,2,3

3. 樣品形態(tài)：液體/粉末

4. 樣品主要成分：請(qǐng)勿直接羅列化學(xué)元素，請(qǐng)?zhí)顚懟瘜W(xué)名稱，例：二氧化硅顆粒

5.分散劑：水/乙醇

若有其他溶劑，請(qǐng)先聯(lián)系當(dāng)?shù)貙?duì)接經(jīng)理確定是否可做。

6.測(cè)試內(nèi)容：粒度/Zeta電位

如需測(cè)不同ph下的zeta電位，原則上需客戶自己配置，如需實(shí)驗(yàn)室配置，需額外收費(fèi)。

7.是否需要超聲：否/是

正常超聲時(shí)間5min。

8.樣品粒度范圍

粒度能測(cè)粒度范圍1nm-3um，zeta電位能測(cè)粒度為5nm-10μm樣品的電位值

9.樣品折射率多少

不同材料折射率不同，請(qǐng)查資料或文獻(xiàn)確定材料折射率，是影響測(cè)試結(jié)果的參數(shù)，如不確定填未知，實(shí)驗(yàn)室將根據(jù)樣品主要成分選擇相近的物質(zhì)。

測(cè)試提示：

1.可開(kāi)正規(guī)測(cè)試發(fā)票，附帶測(cè)試清單。

2.有腐蝕性，毒性，或其他有危害性等特殊樣品要事先告知測(cè)試人員，測(cè)試人員也要告知樣品方哪些樣品不能測(cè)或會(huì)對(duì)儀器產(chǎn)生損傷，測(cè)試后會(huì)對(duì)樣品產(chǎn)生哪些變化；

3.客戶需提供詳細(xì)的樣品資料，包括元素，主要成分和詳細(xì)測(cè)試參數(shù)及條件。和測(cè)試人員充分討論，商定最終測(cè)試條件；

4.測(cè)試人員與顧客通過(guò)QQ或郵件溝通，出現(xiàn)測(cè)試糾紛，郵件或聊天記錄將作為重要的仲裁依據(jù)；請(qǐng)加QQ和技術(shù)人員交流：82187958。微信：15071040697

5.杜絕測(cè)試、解析和合成違反國(guó)家相關(guān)法律法規(guī)的樣品，一經(jīng)發(fā)現(xiàn)將追究其法律責(zé)任。

鑠思百檢測(cè)項(xiàng)目

電鏡檢測(cè)：SEM掃描電鏡，TEM透射電鏡，球差電鏡，LSCM，EBSD，AFM 等等

電鏡制樣：FIB制樣，冷凍超薄切片加工，離子減薄制樣，液氮脆斷 等等

光譜檢測(cè)： XPS，UPS，AES，XRD，AFS，XRF，ICP-OES，DRS，RAMAN，UV，CD，單晶衍射儀，穆斯堡爾光譜儀，X射線殘余應(yīng)力分析儀，臺(tái)階儀，3D輪廓儀，穩(wěn)態(tài)瞬態(tài)熒光光譜儀，F(xiàn)TIR，DRIFTS，等等

熱譜檢測(cè)：TGA，DSC，TGA-DSC，PY-GCMS，TG-MS，TG-IR，DMA/TMA，TG-IR-MS，導(dǎo)熱系數(shù)儀，熱膨脹系數(shù)儀，氧氮量熱儀，

核磁順磁波普測(cè)試：固體核磁共振儀NMR，液體核磁共振儀NMR，EPR/ESR電子順磁共振波譜儀

質(zhì)譜檢測(cè)：ICP-MS，ESI-MS，SIMS，GC-MS，同位素質(zhì)譜，MALDI-TOF

色譜檢測(cè)：GC，HPLC，GPC，IC，

表介面物性分析：BET,TPD/TPR,接觸角，壓汞儀，納米壓痕儀

其他測(cè)試：VSM，EA，TOC，Zeta電位儀，有機(jī)硫鹵分析儀，激光粒度儀，工業(yè)分析，萬(wàn)能試驗(yàn)機(jī)，矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀，四探針原位測(cè)試，土壤分析測(cè)試。