FIB制樣-聚焦離子束制樣

價(jià)格：

￥0.00

預(yù)約詳情

儀器名稱：

FIB制樣

型號(hào)：

FEI Helios Nanolab 600i

檢測(cè)項(xiàng)目：

利用高強(qiáng)度聚焦離子束對(duì)材料進(jìn)行納米加工，配合電鏡（SEM或TEM）實(shí)時(shí)觀察，進(jìn)行納米級(jí)分析。

應(yīng)用范圍：

利用電透鏡將離子束聚焦成非常小尺寸的離子束轟擊材料表

面，實(shí)現(xiàn)材料的剝離、沉積、注入、切割和改性。廣泛應(yīng)用于

半導(dǎo)體集成電路修改、離子注入、切割和故障分析等。

制樣要求：

1.樣品大小5×5×1cm，當(dāng)樣品過大需切割取樣。

2.樣品需導(dǎo)電，不導(dǎo)電樣品必須能噴金增加導(dǎo)電性。

3.切割深度必須小于50微米。

4.易氧化，易潮樣品需備注說明，QQ溝通。

測(cè)試提示：

　　1.可開正規(guī)測(cè)試發(fā)票，附帶測(cè)試清單。

　　2.有腐蝕性，毒性，或其他有危害性等特殊樣品要事先告知測(cè)試人員，測(cè)試人員也要告知樣品方哪些樣品不能測(cè)或會(huì)對(duì)儀器產(chǎn)生損傷，測(cè)試后會(huì)對(duì)樣品產(chǎn)生哪些變化；

　　3.客戶需提供詳細(xì)的樣品資料，包括元素，主要成分和詳細(xì)測(cè)試參數(shù)及條件。和測(cè)試人員充分討論，商定最終測(cè)試條件；

　　4.測(cè)試人員與顧客通過QQ或郵件溝通，出現(xiàn)測(cè)試糾紛，郵件或聊天記錄將作為重要的仲裁依據(jù)；請(qǐng)加QQ和技術(shù)人員交流：82187958。

　　5.杜絕測(cè)試、解析和合成違反國(guó)家相關(guān)法律法規(guī)的樣品，一經(jīng)發(fā)現(xiàn)將追究其法律責(zé)任。

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