X射線熒光光譜分析儀（XRF）

價(jià)格：

￥0.00

預(yù)約詳情

儀器名稱：

X射線熒光光譜分析儀（XRF）

型號(hào)：

帕納科Axios,銠靶

檢測(cè)項(xiàng)目：

分析元素：定性可以做到F，定量可以到Na

應(yīng)用范圍：

可進(jìn)行固體、粉末等多種樣品的定性分析和定量分析。

制樣要求：

1.定性分析。粉末樣品，粒度不超過180目，需1g以上；塊體樣品，要求表面平整光潔無污染，直徑34-38 mm，厚度為3-5 mm的圓柱；

2.定量分析。只能測(cè)試粉末，需3-5 g；

結(jié)果可以以單質(zhì)或氧化物形式給出。

測(cè)試提示：

　　1.可開正規(guī)測(cè)試發(fā)票，附帶測(cè)試清單。

　　2.有腐蝕性，毒性，或其他有危害性等特殊樣品要事先告知測(cè)試人員，測(cè)試人員也要告知樣品方哪些樣品不能測(cè)或會(huì)對(duì)儀器產(chǎn)生損傷，測(cè)試后會(huì)對(duì)樣品產(chǎn)生哪些變化；

　　3.客戶需提供詳細(xì)的樣品資料，包括元素，主要成分和詳細(xì)測(cè)試參數(shù)及條件。和測(cè)試人員充分討論，商定最終測(cè)試條件；

　　4.測(cè)試人員與顧客通過QQ或郵件溝通，出現(xiàn)測(cè)試糾紛，郵件或聊天記錄將作為重要的仲裁依據(jù)；請(qǐng)加QQ和技術(shù)人員交流：82187958。

　　5.杜絕測(cè)試、解析和合成違反國(guó)家相關(guān)法律法規(guī)的樣品，一經(jīng)發(fā)現(xiàn)將追究其法律責(zé)任。

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