XPS測試-X射線光電子能譜儀

儀器型號：ES CALAB 250Xi

儀器名稱：X射線光電子能譜

儀器縮寫：XPS

生產(chǎn)廠家：美國 ThermoFisher Scientific 公司

儀器原理： 通過X射線去輻射樣品，使原子或分子的內(nèi)層電子或價電子受激發(fā)射出來。被光子激發(fā)出來的電子稱為光電子。可以測量光電子的能量，以光電子的動能/結(jié)合能(E_b=hv-E_k-W)為橫坐標(biāo)，相對強度（脈沖/s）為縱坐標(biāo)可做出光電子能譜圖。從而獲得試樣有關(guān)信息。

技術(shù)指標(biāo)：微區(qū)XPS分析（單色化XPS），用于樣品微區(qū)（＞20μm）表面成分分析

主要附件：單色化XPS（Al靶），反射電子能量損失譜（REELS），紫外光電子能譜（UPS）

雙陽極（Mg/Al靶），氬離子團簇離子槍，加熱臺，離子散射譜（ISS）

材料要求：塊狀和薄膜樣品，其長寬最好小于10 mm，高度小于3 mm；刻蝕的樣品尺寸盡量做5-10mm的方塊；

粉末樣品，不少于10 mg；

應(yīng)用范圍：用于各種有機和無機固體材料的表面元素和其價態(tài)的定性、定量分析。可用于腐蝕、摩擦、浸潤、粘接、催化、包覆、氧化等表面和界面過程的研究。

應(yīng)用案例：