原子力顯微鏡AFM

原子力顯微鏡?AFM（Atomic Force Microscope，AFM）：是一種可以用來研究包括絕緣體在內(nèi)的固體材料表面結(jié)構(gòu)的分析儀器。它將一個(gè)對(duì)微弱力極敏感的微懸臂一端固定，另一端有一微小針尖，使之與樣品表面輕輕接觸。由于針尖尖端原子與樣品表面原子間存在極微弱的排斥力，會(huì)使懸臂發(fā)生微小的偏轉(zhuǎn)。通過檢測(cè)出偏轉(zhuǎn)量并作用反饋控制其排斥力的恒定，就可以獲得微懸臂對(duì)應(yīng)于各點(diǎn)的位置變化，從而獲得樣品表面形貌的圖像。

應(yīng)用范圍：

廣泛地應(yīng)用于表面分析的各個(gè)領(lǐng)域,通過對(duì)表面形貌的分析、歸納、總結(jié),以獲得更深層次的信息。它可以用于研究金屬、半導(dǎo)體和非金屬類材料的表面形貌、表面重構(gòu)、摩擦力，獲得相界、分形結(jié)構(gòu)和橫向力等信息的空間三維圖像。

檢測(cè)項(xiàng)目：

制樣要求：

粉末樣10mg，塊狀、薄膜樣品最大1×1cm，厚度最厚0.5cm，液體樣品5ml

樣品上下表面整潔，沒有油漬灰塵等污染物

儀器最大掃描范圍15×15×3um

若是納米顆粒樣品，先用一定的分散劑超聲分散后，取一滴在云母等很平整的基底上，干燥后測(cè)試。若沒有云母片，請(qǐng)?jiān)跍y(cè)試前到本實(shí)驗(yàn)室來取。

如果樣品表面有無機(jī)鹽，先用水等清除鹽分后來測(cè)試，因?yàn)辂}分結(jié)晶影響形貌的掃描。

立即預(yù)約?

分析原理：將一個(gè)對(duì)微弱力極敏感的微懸臂一端固定，另一端有一微小的針尖，由于針尖尖端原子與樣品表面原子間存在極微弱的作用力，通過在掃描時(shí)控制這種力的恒定，帶有針尖的微懸臂將在垂直于樣品的表面方向起伏運(yùn)動(dòng)。從而可以獲得樣品表面形貌的信息

譜圖的表示方法：微懸臂對(duì)應(yīng)于掃描各點(diǎn)的位置變化

提供的信息：樣品表面形貌的信息

AFM原理：針尖與表面原子相互作用

AFM的掃描模式有接觸模式和非接觸模式，接觸式利用原子之間的排斥力的變化而產(chǎn)生樣品表面輪廓；非接觸式利用原子之間的吸引力的變化而產(chǎn)生樣品表面輪廓。

接觸模式

鑠思百檢測(cè)動(dòng)態(tài)

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