X射線光電子能譜儀(XPS測試)主要分析的內容 二維碼
發(fā)表時間:2019-11-14 09:26作者:武漢鑠思百檢測技術有限公司來源:說思百檢測 X射線光電子能譜儀是一種表面分析技術,主要用于表征表面元素及其化學狀態(tài)其原理是用X射線照射樣品,使原子或分子的內部電子或價電子被激發(fā)和發(fā)射光子激發(fā)的電子稱為光電子光電子的能量是可以測量的以光電子的動能/結合能(EB=HV光能EK動能w功函數(shù))為橫坐標,相對強度(脈沖/s)為縱坐標,即可得到光電子的能量。
XPS廣泛應用于無機和有機材料,如合金、半導體、聚合物、元素、催化劑、玻璃、陶瓷、染料、紙張、墨水、木材、化妝品、牙齒、骨骼、移植物、生物材料、油脂、膠水等 XPS主要能夠分析以下方面的內容: 一,元素的定性分析除了h和He之外的所有元素都可以根據(jù)特征線在能譜中的位置來識別 二,元素定量分析 元素根據(jù)能譜中光電子線強度(光電子峰的面積)確定的反應原子的含量或相對濃度 三,固體表面分析包括表面的化學組成或元素組成、原子的價態(tài)、表面能態(tài)的分布、電子的確定和表面電子的能級結構等 四,化合物的結構它能準確測量電子結合能的化學位移,提供化學鍵和電荷分布的信息 五,個在分子生物學中的應用例如,用XPS鑒定維生素B12中的少量CO 目前,XPS在表面分析領域獨樹一幟,特別是對于一些用SEM/EDS和FTIR無法檢測到的雜質,或者想知道具體的復合狀態(tài),XPS具有無可比擬的優(yōu)勢此外,XPS在材料的配方分析中也起著重要作用眾所周知,配方分析是將最大限度還原到加入樣品時的狀態(tài)因此,我們可以從價態(tài)分析一些化合物,得到更詳細的結構
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