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DETECTION OF TECHNICAL SOUSEPAD

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xps測試常見問題2

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發(fā)表時間:2021-03-15 11:51作者:鑠思百檢測來源:鑠思百檢測

鑠思百檢測可為您提供X射線光電子能譜技術(shù)(XPS測試)服務,X射線光電子能譜技術(shù)是一種表面分析方法,廣泛應用于金屬、無機材料、催化劑、聚合物、涂層材料礦石等各種材料的研究,以及腐蝕、摩擦、潤滑、粘接、催化、包覆、氧化等過程的研究。XPS數(shù)據(jù)分析服務等等。

在做X射線光電子能譜(XPS)測試時,鑠思百檢測與很多同學溝通中了解到,好多同學僅僅是通過文獻或者師兄師姐的推薦對XPS測試有了解,但是對于其原理還屬于小白階段,針對此,鑠思百檢測對網(wǎng)上海量知識進行整理,希望可以幫助到科研圈的伙伴們;



1.光電子結(jié)合能位移與得電子和失電子的關系?

答:常規(guī)條件下,化合物中的原子如果得電子(價態(tài)降低),激發(fā)出的光電子結(jié)合能朝低能位移,失電子(價態(tài)升高)結(jié)合能朝高能位移。



2.1%鐵檢不出來,是條件不對嗎?

答:XPS是表面成分分析技術(shù),主要探測表面10nm深度的成分信息,樣品表面如果有暴露空氣,會吸附空氣中的碳氫化合物,所以實際表面鐵含量肯定小于1%。當表面含量低于0.1%, XPS就無法探測到,可以用離子源濺射去除表面吸附層后再進行分析,這樣可以排除表面的干擾。當然測試條件上,含量低的組分盡量用大通能,掃描時間延長等。



3.XPS只能算是半定量嗎?

答:是的,XPS主要是半定量分析,主要采用靈敏度因子法,靈敏度因子是基于標準樣品獲得的,實際樣品與標準樣品肯定有偏差,所以得到的定量數(shù)據(jù)就是半定量的數(shù)值。



4.團簇離子槍和普通的Ar+槍構(gòu)造主要是哪里不一樣?

答:請參考以下示意圖:團簇離子源有Cluster Generation Chamber(產(chǎn)生氬氣團簇) , 普通離子源沒有。



5.過渡金屬氧簇合物的測試也適用Ar單原子嗎?

答:離子源(氬離子源)濺射都有擇優(yōu)濺射的問題,金屬氧化物中往往氧容易被優(yōu)先濺射去除,數(shù)據(jù)呈現(xiàn)金屬精細譜結(jié)合能就會往低能位移(像是被還原),所以要根據(jù)分析材料成分選擇合適的離子源和濺射條件。



6.全譜里面尖的地方都是掃出來的元素嗎?

答:全譜里有峰尖的地方代表各種譜峰信息(光電子譜峰、俄歇譜峰、衛(wèi)星峰等),要結(jié)合軟件和數(shù)據(jù)庫對譜峰的位置進行成分判定,全譜主要判斷元素信息。



7.想知道數(shù)據(jù)處理部分參數(shù)怎么設置的問題?

答:數(shù)據(jù)處理的原則在里面都有詳述,包括資料查詢、譜峰背底扣除、峰面積比設定、能量差設定、半峰寬設定等等。



8.XPS可以證明配位鍵?

答:還是要看具體的化合物,比較復雜的要結(jié)合其他技術(shù)手段,比如TOF-SIMS等,可以通過譜峰結(jié)合能信息,半定量結(jié)果去判斷一些基本的價態(tài)和化學鍵信息。



9.怎么分析Ag3d的峰?

答:Ag的不同化學態(tài)結(jié)合能差別很小,有時候要結(jié)合俄歇譜峰還有其他元素的分析結(jié)果一起判斷化學態(tài)。



10.分峰和文獻相差多少可以算正常?以及偏移多少可以證明異質(zhì)結(jié)構(gòu)?

答:同種化學態(tài)的結(jié)合能不是一個精準數(shù)值,而是能量范圍,所以與查詢標準能量差正負0.5之內(nèi)都是合理范圍。當然同時要結(jié)合其他元素的譜峰和結(jié)合能一起判定。



11.空間分辨率啥意義?

答:就是入射源的最小束斑,可以分辨的最小形貌特征尺度。



12.有機物無機物的界面層分析可以做XPS么?

答:可以的,采用深度剖析的方法,當然膜層厚度最好是納米到亞微米級。



13.xps如何確定價帶位置?

答:通常用UPS確定價帶位置,而XPS價帶譜用來判斷分子信息。



14.XPSPEAK適用哪一型號的儀器呢?

答:XPSPEAK可以處理任何XPS儀器導出的EXCEL數(shù)據(jù),但其不帶數(shù)據(jù)庫和靈敏度因子,在譜峰校正、自動定性、定量分析上都有一定的局限性。建議用儀器自帶的數(shù)據(jù)處理軟件如AVANTAGE 和MULTIPAK。



15.稀土/過渡元素的結(jié)合能怎么變化呢?本身含有大量C-C鍵的聚合物怎么校準圖譜呢?

答:稀土/過渡元素的結(jié)合能變化沒有絕對的規(guī)律,譜峰結(jié)合能變化與其原子最外層電子排布有關。另譜峰里有衛(wèi)星峰和多重分裂峰造成譜峰比較復雜,比較難分析。C—C鍵的聚合物就是用284.8eV左右校正即可。



16.全譜上的俄歇譜該怎么分析?

答:全譜上俄歇譜只是輔助元素定性分析,如果要分析化學態(tài),最好對俄歇譜峰做精細譜掃描。


17.峰偏移在多少范圍是正常?

答:同種化學態(tài)的結(jié)合能不是一個精準數(shù)值,而是能量范圍,所以與查詢標準能量差正負0.5之內(nèi)都是合理范圍。當然同時要結(jié)合其他元素的譜峰和結(jié)合能一起判定。


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關鍵詞:XPS測試、XPS數(shù)據(jù)分析、XPS常見問題、X射線光電子能譜儀

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