SEM的Mapping是什么

SEM的Mapping是什么？有同學(xué)經(jīng)常做SEM測試，卻對SEM的Mapping不太清楚，今天鑠思百檢測小編就帶大家詳細了解一下吧！

mapping就是掃描每個點，然后把每個點得到的能譜圖按特定的元素峰畫圖，得到位置和這個元素峰的強度的關(guān)系，就反應(yīng)每個位置特定元素的含量相對關(guān)系，分析深度和元素種類樣品情況有關(guān)，大概在幾個微米。

SEM和EDS

SEM用于觀察標(biāo)本的表面結(jié)構(gòu)，其工作原理是用一束極細的電子束掃描樣品，在樣品表面激發(fā)出次級電子，次級電子的多少與電子束入射角有關(guān)，也就是說與樣品的表面結(jié)構(gòu)有關(guān)，次級電子由探測體收集，并在那里被閃爍器轉(zhuǎn)變?yōu)楣庑盘枺俳?jīng)光電倍增管和放大器轉(zhuǎn)變?yōu)殡娦盘杹砜刂茻晒馄辽想娮邮膹姸?，顯示出與電子束同步的掃描圖像。圖像為立體形象，反映了標(biāo)本的表面結(jié)構(gòu)。

EDS是掃描電鏡上配搭的一個用于微區(qū)分析成分的配件——能譜儀，是用來對材料微區(qū)成分元素種類與含量分析，配合掃描電子顯微鏡與透射電子顯微鏡的使用。兩者組合使用，功能非常強大，既能觀察微區(qū)的形貌又能對微區(qū)進行成分分析，在各類分析工作中被廣泛運用。

SEM的Mapping是什么？

就定量來說，SEM點分析比線分析和面分析更準(zhǔn)確，掃描的方式不同，線分析和面分析只能定性的分析觀察視場的元素分布情況（線分析是沿著某個界面的元素分布起伏，而面分析是看整個視場的元素分布情況），點分析可以基本定量分析元素。
EDS mapping時間就長的多了，尤其是如果想得到比較確定的數(shù)據(jù)的話，一個線掃就可以耗費半個小時。EDS mapping的分辨率不僅取決于束斑尺寸，由于收集時間比較長，樣品漂移的影響更大，所以比eels mapping 差不少。

“點掃和線掃都是對樣品的某一位置進行微區(qū)元素分析,兩者區(qū)別是掃描能譜的面積大小不一。點掃可以給出掃描元素的相對含量,測試準(zhǔn)確性較高,常用于顯微結(jié)構(gòu)的成分分析。面掃是對樣品某一區(qū)域的元素分布進行觀察?！?/span>

SEM的mapping和SEM的點掃，線掃之間的區(qū)別？

能譜點掃，線掃和mapping分別是在點范圍，線范圍，和面范圍內(nèi)獲得樣品的元素半定量信息，除此之外，線掃和mapping還能分析元素在線或面范圍內(nèi)的分布情況。

它們的意義在于點掃可以測試材料某一位置的元素種類和含量，面掃（mapping）的意義主要在于了解材料元素的區(qū)域分布，線掃的意義在于了解材料一條線上各個點的元素含量的變化。

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