tem樣品厚度要求

TEM樣品厚度要求：

1. 樣品一般應(yīng)為厚度小于100nm的固體。太厚了電子束不易透過(guò)，分析效果不好。

2. 感興趣的區(qū)域與其它區(qū)域有反差。

3. 樣品在高真空中能保持穩(wěn)定。

4. 不含有水分或其它易揮發(fā)物，含有水分或其他易揮發(fā)物的試樣應(yīng)先烘干除去。

5. 對(duì)磁性試樣要預(yù)先去磁，以免觀察時(shí)電子束受到磁場(chǎng)的影響。

TEM樣品常放置在直徑為3mm的200目樣品網(wǎng)上，在樣品網(wǎng)上常預(yù)先制作約20nm厚的支持膜。

tem樣品厚度要求，有兩個(gè)因素，材料和電鏡，其實(shí)歸根結(jié)底其實(shí)是一個(gè)因素，電子的穿透力。

材料中重元素越多，則電子穿透力越弱，厚度就應(yīng)該越薄。常用tem加速電壓是200-300kV，此時(shí)金屬樣品一般要求至少<200nm，最好在100nm附近。

生物樣品、輕合金樣品在這個(gè)加速電壓下會(huì)產(chǎn)生濺射和輻照缺陷，通常會(huì)降低電壓或者觀察溫度。一般是80-120kv

高壓電鏡的加速電壓達(dá)到了1-3MV，電子穿透能力比普通電鏡更好，因此可以觀察更厚的樣品。但是同時(shí)也意味著對(duì)絕大多數(shù)材料都會(huì)引起輻照缺陷......

鑠思百檢測(cè)可做TEM項(xiàng)目如下：

透射電子顯微鏡TEM

TEM-EDS

形貌觀察，衍射（環(huán)衍射、點(diǎn)衍射），高分辨像， EDS能譜（點(diǎn)/線/微區(qū)）， Mapping，  

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