tem可以測什么

TEM可以測什么？

透 射電子顯微鏡 （TEM ） 可用于 觀察 樣品 的 微 觀 形貌 、 可 進(jìn)行 樣 品 的晶體結(jié)構(gòu) 分析 、 可進(jìn)行納米尺度的微區(qū)或晶粒的成分分析 ， 其廣泛應(yīng)用于材料 、 物理 、 化學(xué) 、 生物 、 電子等領(lǐng)域 。 鑠思百檢測專注于各類材料的檢測與服務(wù)：

透射電鏡TEM 原理:

TEM(Transmission Electron Microscope， 透射電子顯微鏡) 具有較高的分辨率是半導(dǎo)體失效分析領(lǐng)域最常用的儀器之一，其以高能電子束作為光源，用電磁場作透鏡，將經(jīng)過加速和聚集的電子束投射到非常薄的樣品上，電子和樣品中的原子因碰撞改變方向，從而產(chǎn)生立體角散射。散射角的大小與樣品的密度、厚度相關(guān)，因此可以形成明暗不同的影像。TEM的一個突出優(yōu)點是具有較高的分辨率，可觀測極薄薄膜的形貌及尺寸。

透射電鏡TEM儀器參數(shù)

TEM能測什么？

TEM能測的樣品包含但不限于：

碳納米材料，納米金屬氧化物等催化材料；

鋰電正負(fù)極材料；

金屬合金，陶瓷，半導(dǎo)體等無機(jī)材料；

細(xì)菌，細(xì)胞等微生物，生命組織樣本；

多糖，核酸，蛋白，DNA等生命科學(xué)中的大分子結(jié)構(gòu)；

原料藥的小分子，大分子以及輔助劑，包材等高分子材料；

只要制樣合適，TEM幾乎能表征所有的材料樣品。

鑠思百檢測·TEM可以測什么？

（1）電子衍射：選區(qū)衍射、微束衍射、會聚束衍射；

（2）成像：明場像（BF）、暗場像（DF）、衍射像、高分辨像(HREM)、掃描透射像，環(huán)角暗場像（HAADF）；

（3）微區(qū)成分：EDS能譜的點、線和面分析；

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