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飛行時間二次離子質(zhì)譜儀（TOF-SIMS） 二維碼
發(fā)表時間：2023-09-09 16:24作者：鑠思百檢測 TOF-SIMS基本原理和技術(shù)特點(diǎn)介紹 1.1 SIMS基本原理 二次離子質(zhì)譜（Secondary ion mass spectroscopy，簡稱SIMS）是一種表面分析技術(shù)，是基于一次離子與樣品表面的相互作用。SIMS工作原理是指帶有幾千電子伏特能量的一次離子束入射樣品表面，在作用區(qū)域激發(fā)出不同粒子包括二次電子、中性微粒、二次離子、反射離子等，如圖1所示；通過不同的探測器采集不同微?？傻玫讲煌畔ⅲ占坞x子通過質(zhì)量分析器分析后可得到關(guān)于樣品表面成分信息的質(zhì)譜，簡稱二次離子質(zhì)譜。
TOF-SIMS分析能力及特點(diǎn) TOF-SIMS 可以分析所有的導(dǎo)體、半導(dǎo)體、絕緣材料；對于材料/產(chǎn)品表面成分及分布，表面添加組分、雜質(zhì)組分、表面多層結(jié)構(gòu)/鍍膜成分、表面異物殘留（污染物、顆粒物、腐蝕物等）、表面痕量摻雜、表面改性、表面缺陷（劃痕、凸起）等有很好的表征能力。
TOF-SIMS與其他幾種表面成分分析技術(shù)比較表
TOF-SIMS 主要應(yīng)用領(lǐng)域： TOF-SIMS被廣泛應(yīng)用于各種材料開發(fā)，材料剖析，多層薄膜/結(jié)構(gòu)剖析與失效機(jī)理的分析和研究具有不可替代的作用。 研發(fā)領(lǐng)域：半導(dǎo)體器件、納米器件、生物醫(yī)藥、量子結(jié)構(gòu)、能源電池材料等 高新技術(shù)：高分子材料、金屬、半導(dǎo)體、玻璃陶瓷、納米鍍層、紙張、薄膜、纖維等 -END- 本公司位于湖北武漢，從事檢測行業(yè)十多年，專業(yè)提供XPS、ICP、SEM+EDS/SEM云視頻 TEM+EDS/TEM云視頻、XRD、AFM、BET、TG-DSC、粒度、Zeta電位、RAMAN、順磁、核磁、熒光等測試服務(wù)。我們一直致力于為高校、科研院所、企業(yè)提供一站式專業(yè)測試服務(wù)。歡迎各行各業(yè)咨詢！歡迎開展科研項目合作、科研經(jīng)費(fèi)報銷合作等。長期合作價格優(yōu)惠。 溫馨提示 1、不定期推出各種優(yōu)惠活動，詳情咨詢客服。 2、測試前聯(lián)系在線客服確認(rèn)測試條件、檢測費(fèi)用、檢測周期等。 檢測咨詢熱線：15071040697(手機(jī)同微信） 黃工QQ：82187958 公司網(wǎng)站：m.gzbj666.cn 武漢鑠思百檢測技術(shù)有限公司 做TOF-SIMS測試一個樣品多少錢？掃描下方二維碼獲取詳細(xì)報價
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