原子力顯微鏡和掃描電鏡的區(qū)別

原子力顯微鏡和掃描電鏡的區(qū)別-原理及用途
一、工作原理不同、用途不同

1、工作原理不同：原子力顯微鏡（Atomic Force Microscope ，AFM），一種可用來研究包括絕緣體在內(nèi)的固體材料表面結(jié)構(gòu)的分析儀器。它通過檢測待測樣品表面和一個微型力敏感元件之間的極微弱的原子間相互作用力來研究物質(zhì)的表面結(jié)構(gòu)及性質(zhì)。掃描電子顯微鏡（SEM）是1965年發(fā)明的較現(xiàn)代的細胞生物學(xué)研究工具，主要是利用二次電子信號成像來觀察樣品的表面形態(tài)。原子力顯微鏡是利用原子間的作用力來觀察物體表面結(jié)構(gòu)，而掃描電子顯微鏡是利用電子和物質(zhì)的相互作用來觀察物體表面結(jié)構(gòu)。
2、用途不同：原子力顯微鏡可以研究包括絕緣體在內(nèi)的固體材料表面結(jié)構(gòu)，甚至生物的宏觀分子，以及活的生物組織，而掃描電子顯微鏡主要用來觀察細胞表面結(jié)構(gòu)。

二、原子力顯微鏡和掃描電鏡檢別-優(yōu)缺點

原子力顯微鏡，它是以掃描隧道顯微鏡的基本原理發(fā)展起來的一種掃描探針顯微鏡。原子力顯微鏡能夠檢測許多樣品，提供表面的研究以及生產(chǎn)控制或者流程發(fā)展的數(shù)據(jù)，這些都是常規(guī)的掃描型表面粗糙度儀或者電子顯微鏡所不能夠做到的。

　　1、優(yōu)點

　　跟掃描電子顯微鏡相比較，原子力顯微鏡的優(yōu)點有很多。電子顯微鏡它只能夠提供二維的圖像，而原子力顯微鏡卻可以提供三維的表面圖。而且原子力顯微鏡是不用在對樣品做其他的特殊性處理，像鍍銅或碳，這樣的處理還會對樣品造成無法逆轉(zhuǎn)的傷害。此外，電子顯微鏡它是需要在高真空的條件下運行的，而原子力顯微鏡，只需在常壓下甚至在液體環(huán)境下都能夠保持較好的工作。其可用來研究生物宏觀分子，甚至是活的生物組織。

　　2、缺點

　　對比于掃描電子顯微鏡，原子力顯微鏡的缺點在于它的成像范圍較小，速度慢，而且受到探頭的影響會很大。原子力顯微鏡是繼掃描隧道顯微鏡之后出現(xiàn)的一種擁有原子級高分辨的新型儀器，它能夠直接在大氣下或者液體的環(huán)境下對各類樣品進行納米區(qū)域的物理性質(zhì)包括形貌等進行檢測，或者可以直接進行納米操縱。目前原子力顯微鏡已經(jīng)被廣泛的應(yīng)用在半導(dǎo)體，納米功能材料，食品，生物，化工，醫(yī)藥研究以及科研院所等多種領(lǐng)域中，成為了納米科學(xué)研究的基本工具。原子力顯微鏡跟掃描隧道顯微鏡相比較，因其可以檢測非導(dǎo)電的樣品，所以具有更加廣泛的適用性?，F(xiàn)在科學(xué)研究以及工業(yè)界被廣泛使用的掃描力顯微鏡，其基礎(chǔ)就是原子力顯微鏡