GB T 31563-2015金屬鍍層厚度測量掃描電子顯微鏡

GB T 31563-2015金屬鍍層厚度測量掃描電子顯微鏡

掃描電子顯微鏡（sem） 檢測金屬 試樣橫截面局部測量金屬涂層厚度的方法。通常是一種不確定度小于10%或0.1μm的破壞性檢測方法。該方法也可用于測量幾毫米厚的涂層，但建議對(duì)此類厚的涂層使用光學(xué)顯微鏡法（GB\\/T6462）。

原則上，試樣沿垂直于涂層的水平方向切割，經(jīng)仔細(xì)打磨拋光后，制成金相試樣，放入掃描電子顯微鏡中進(jìn)行中檢測。測量是通過涂層截面的常規(guī)顯微照片獲得涂層厚度。掃描電鏡的分辨率應(yīng)優(yōu)于50nm

發(fā)布時(shí)間：2015-05-15   實(shí)施時(shí)間：2016-01-01

發(fā)布部門：國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局

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