GB T 27788-2011 微束分析 掃描電鏡 圖像放大倍率校準(zhǔn) 標(biāo)準(zhǔn)

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掃描電子顯微鏡（scanning electron microscopy）（sem） 掃描電鏡廣泛應(yīng)用于研究半導(dǎo)體、聚合物、玻璃、食品和生物材料等各種重要材料的表面結(jié)構(gòu)。本標(biāo)準(zhǔn)適用于圖像放大率的校準(zhǔn)。介紹了掃描電子顯微鏡（sem）中使用合格標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)和標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)校準(zhǔn)圖像放大倍數(shù)的要求。

發(fā)布時(shí)間：2011-12-30   實(shí)施時(shí)間：2012-08-01

發(fā)布部門：國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局

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