GB YU T 20307-2006掃描電子顯微鏡測量納米長度通則 二維碼
發(fā)表時(shí)間:2019-10-25 14:40作者:武漢鑠思百檢測技術(shù)有限公司來源:鑠思百 GB YU T 20307-2006掃描電子顯微鏡測量納米長度通則 范圍:本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了用掃描電鏡sem測量納米級長度的基本原理。適用于測量10nm到500nm點(diǎn)和線之間的距離?;驹恚涸谙嗤臓顟B(tài)下,掃描電子顯微鏡獲得被測樣品和標(biāo)準(zhǔn)樣品的二次電子圖像,然后測量被測樣品和標(biāo)準(zhǔn)樣品圖像中的長度。結(jié)合標(biāo)準(zhǔn)樣品已知的長度,計(jì)算被測樣品的長度。 發(fā)布時(shí)間:2006-07-19 實(shí)施時(shí)間:2007-02-01 發(fā)布部門:國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局 鑠思百檢測動(dòng)態(tài)
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